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公开(公告)号：CN116774271A
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN202310552205.X
申请日：2023-05-16
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供X射线半导体探测器的测量装置及测量方法，涉及设备性能测量技术领域，装置包括X射线产生系统和半导体探测器测试系统，X射线产生系统包括X射线光机、限束光阑组件、屏蔽箱体、快门装置、双盘过滤系统，双盘过滤系统包括双滤过盘和控制器，双滤过盘的过滤板孔位安装过滤片，控制器调节生成不同能量X射线，半导体探测器测试系统包括温度调节组件和气压模块，气压模块包括密闭室和气压调节组件，将半导体探测器放在密闭室后，调节密闭室的温度和气压，通过调节过滤片之间的组合生成不同能量X射线，装置操作简单，可以避免由于频繁调节温度气压或者更换辐射源导致测量条件改变的问题，可保证测量结果的准确性。
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公开(公告)号：CN116008881A
公开(公告)日：2023-04-25
申请号：CN202211547857.6
申请日：2022-12-05
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明公开了一种磁场中光子束参考剂量磁场修正因子的测量装置和测量方法。其中，上述测量装置包括第一电磁铁；第二电磁铁，第一电磁铁和第二电磁铁的中轴线重合且两者间存在间隙；水箱，水箱放置于间隙之中；电离室，电离室插入水箱中，且电离室的中轴线和第一电磁铁的中轴线形成平面A；光子源，光子源位于平面A之外，且光子源形成的光子束垂直平面A。本发明提供的测量装置，能够实现强外部磁场中光子束参考剂量的磁场修正因子的准确测量。本发明还提供了磁场中光子束参考剂量磁场修正因子的测量方法。
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公开(公告)号：CN114740516A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210405305.5
申请日：2022-04-18
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供了一种能谱‑剂量的测量方法及装置,方法包括:使用标准放射源对谱仪进行能量刻度，得到道址与能量的转换关系；转换关系通过刻度因子表示；测量n个不同能量的放射源的射线峰，将得到的能谱的能量划分为n个区域，每个区域至少具有一条射线的全能峰位；根据n个区域，对n个放射源进行采谱，得到通过刻度因子进行能量刻度的n个净能谱；依次对n个放射源进行剂量值测量，得到与n个净能谱对应的n个剂量率；计算放射源在n个区域中的计数率和对应的剂量率的关系；关系包括n个能谱‑剂量转换系数，以构建能谱‑剂量函数；根据当前每个区域的剂量率，计算全谱剂量率。
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公开(公告)号：CN114325798A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202210019163.9
申请日：2022-01-06
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 一种核应急131I核素测量装置及其远程校准方法，所述方法至少包括：在标准环境下：对131I核素进行至少两种距离条件的探测效率测量，和建立131I核素与第一参考核素的探测效率关系；在远程校准现场且在能量校准的条件下：测量已知活度的第一参考核素的其中一种距离条件的实测探测效率，并且基于所述探测效率关系确定131I核素在至少一种距离条件下的实测探测效率；比较131I核素的实测探测效率与对应的探测效率是否一致。本发明通过使用半衰期较长的参考核素和参考核素与131I核素的探测效率关系完成了131I核素测量装置的远程校准，不需要将高活度标准源运输至现场，解决了在现场校准时131I核素由于半衰期短，不易保存的问题。
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公开(公告)号：CN114926560A
公开(公告)日：2022-08-19
申请号：CN202210511805.7
申请日：2022-05-11
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G06T11/00 , G01N23/046
Abstract: 本发明公开了一种基于基材料分解的CT成像金属伪影校正方法及系统、成像设备，其包括：S1，获取能谱CT扫描数据；S2，对多能谱CT扫描数据预处理；S3，选取多能谱投影，重建CT图像；S4，计算不同电压下的基于探测器单元变化的射线能谱分布；S5，计算低吸收材料在不同电压下的多能谱投影；S6，选取基函数；S7，为待重建基函数系数图像赋初值；S8，建立基函数系数图像的线性投影与多能投影之间的映射关系；S9，采用基材料分解算法，迭代求解逐探测器单元对应的基函数系数图像的线性投影，获得基函数系数图像的线性投影，然后重建获得基函数系数图像；S10，通过加权合成获得金属材料伪影校正后的CT图像。本发明适用于含多种不同低吸收材料的电路板样品。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN114415228A
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202210049527.8
申请日：2022-01-17
Applicant: 中国计量科学研究院
Abstract: 本发明提供了一种曝光时间可调的脉冲X射线辐射场系统，包括：操作台、控制组件、高压发生器、X射线管组件；操作台和控制组件相连接，高压发生器的一端和控制组件相连接，高压发生器的另一端和X射线管组件相连；操作台，用于对控制组件发出调整高压发生器参数的指令；指令包括X射线管组件目标参数值；控制组件，对X射线管组件目标参数值进行格式转换，转换为协议规定格式的X射线管组件目标参数值；高压发生器，根据X射线管组件目标参数值，确定X射线管组件出射的频率和时间；X射线管组件，根据出射的频率和时间，出射X射线。
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公开(公告)号：CN115327607B
公开(公告)日：2025-03-04
申请号：CN202210966844.6
申请日：2022-08-11
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G01T7/00
Abstract: 本发明提供了一种热释光探测器剂量现场核查方法，具体包括核查标准用热释光探测器的筛选，信号衰减特性测试，热释光探测器定值。本发明公开的热释光探测器剂量现场核查方法，通过使用基于热释光探测器的现场核查标准，有效控制热释光剂量测量装置的辐射性能变化趋势，保障现场测得的量值准确、可靠，可直接在现场进行测量，解决了定期送检中费时费力、时间漫长、受检定机构控制的问题。
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公开(公告)号：CN114943781B
公开(公告)日：2024-12-06
申请号：CN202210513148.X
申请日：2022-05-11
Applicant: 中国计量科学研究院
IPC: G06T11/00 , G06T5/50 , G01N23/046
Abstract: 本发明公开了一种基于线性化的CT成像金属伪影校正方法及系统、成像设备，其包括：步骤S1，获取被测物体的能谱CT扫描数据；步骤S2，对能谱CT扫描数据进行预处理，得到多组多能谱投影；步骤S3，选取一组多能谱投影，重建CT图像，并将该CT图像作为初始图像；步骤S4，根据初始图像，计算低吸收材料对应的多能谱投影数据；步骤S5，根据初始图像，计算随探测器单元坐标变化的射线能谱分布；步骤S6，根据射线能谱分布，建立低吸收材料图像的多能谱投影与线性投影之间的映射关系；步骤S7，将低吸收材料的多能谱投影映射为线性投影，重建低吸收材料的分布图像；步骤S8，将初始图像中金属材料分布图像和低吸收材料的分布图像，通过加权合成，获得金属材料伪影校正后的CT图像。
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公开(公告)号：CN114674372B
公开(公告)日：2023-03-24
申请号：CN202210374656.4
申请日：2022-04-11
Applicant: 国家珠宝玉石首饰检验集团有限公司 , 中国计量科学研究院
IPC: G01D21/02
Abstract: 本发明公开了一种基于多方位观测的珍珠多分级参数同步测量装置及方法，包括转台、面测量组件、形貌测量组件、标准板和主探测组件；转台的顶部设有放置珍珠的台面；面测量组件和形貌测量组件均可移动式设于转台外围，且面测量组件具有面光源端，形貌测量组件具有形貌测量光源端；标准板设于转台背向面测量组件和形貌测量组件的一侧；主探测组件朝向转台，测量珍珠的指标参数。解决了现有技术中没有能够对珍珠的光泽度、光洁度、颜色、大小、形状多个参数进行同步定量测量的装置和方法，以及光洁度还是仅能依靠人眼观察评判，而导致的功能实用性不高、检测精确性低的技术问题。
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