公开(公告)号：CN118838301A

公开(公告)日：2024-10-25

申请号：CN202410831570.9

申请日：2024-06-25

Applicant: 中国第一汽车股份有限公司

Inventor： 王泽尉 ,  王强 ,  杨柄楠 ,  苗欣 ,  王天宇 ,  王亚明 ,  王昊廷

IPC: G05B23/02 ,  G01R31/00

Abstract: 本发明公开了一种车辆控制器的电磁兼容性测试方法及装置。其中，该方法涉及车辆设计技术领域，包括：获取车辆控制器的初始设计任务信息和电磁兼容标准，基于电磁兼容标准对初始设计任务信息进行风险识别，确定影响车辆控制器的电磁兼容性的至少一个信号源；根据至少一个信号源的信号源类型对初始设计任务信息进行调整，得到目标设计任务信息；基于目标设计任务信息对车辆控制器的电磁兼容性进行测试，得到测试结果。本发明解决了由于车辆控制器的电磁兼容性检测方法精确度较低造成的用户的使用体验较差的技术问题。

公开(公告)号：CN119299336A

公开(公告)日：2025-01-10

申请号：CN202411371279.4

申请日：2024-09-29

Applicant: 中国第一汽车股份有限公司

Inventor： 苗欣 ,  王强 ,  王泽尉 ,  王亚明 ,  杨柄楠 ,  李恒宽 ,  李泽 ,  孙健哲 ,  王昊廷

IPC: H04L43/08

Abstract: 本发明公开了一种车载芯片的测试系统及测试方法，属于芯片测试技术领域，车载芯片的测试系统包括：芯片插槽模块、主控模块、负载模块和供电模块，芯片插槽模块供车载芯片插接；主控模块与芯片插槽模块连接，被配置为对车载芯片发送测试信号，使车载芯片根据测试信号发送控制信号；负载模块与芯片插槽模块连接，被配置为接收控制信号并向车载芯片发送第一反馈信号，车载芯片根据第一反馈信号向主控模块发送第二反馈信号，主控模块根据第二反馈信号输出测试结果；供电模块与芯片插槽模块、主控模块和负载模块连接，被配置为对芯片插槽模块、主控模块和负载模块供电，有利于缩短测试周期，提高测试效率，确保实际应用中的安全性。

公开(公告)号：CN119202885A

公开(公告)日：2024-12-27

申请号：CN202411182919.7

申请日：2024-08-27

Applicant: 中国第一汽车股份有限公司

Inventor： 王昊廷 ,  王泽尉 ,  杨柄楠 ,  苗欣 ,  王天宇 ,  孙健哲 ,  李泽 ,  王亚明 ,  李恒宽

IPC: G06F18/2415

Abstract: 本申请实施例提供了一种芯片选型方法和装置、计算机设备及存储介质，属于芯片选型技术领域。该方法包括：接收携带芯片选型信息和芯片需求参数的芯片选型请求；响应于所述芯片选型请求，从预设的芯片库中提取芯片类别标签、芯片款型信息和芯片性能参数；根据所述芯片选型信息从所述芯片类别标签中筛选出目标类别标签；根据所述目标类别标签和所述芯片选型信息从所述芯片款型信息中筛选出目标款型信息；根据所述目标款型信息和所述芯片需求参数从所述芯片性能参数中筛选出目标性能参数；根据所述目标类别标签、所述目标款型信息和所述目标性能参数从所述芯片库中筛选出目标芯片。本申请实施例能够降低芯片选型时对硬件开发师的要求和人力。

公开(公告)号：CN118626789A

公开(公告)日：2024-09-10

申请号：CN202410711604.0

申请日：2024-06-03

Applicant: 中国第一汽车股份有限公司

Inventor： 李超 ,  王泽尉 ,  王天宇 ,  王昊廷

IPC: G06F18/20 ,  G06F18/213 ,  G06F18/24

Abstract: 本发明公开了一种车辆芯片的潜能数据获取方法、装置和电子设备。该方法包括：获取车辆芯片的属性信息；基于属性信息，调用芯片功能模型，得到芯片的功能数据；基于功能数据，调用芯片特征模型，得到芯片的替代量，其中，替代量用于表征在芯片数据库中，允许替代的芯片类型的数目；基于替代量和功能数据，确定芯片的潜能数据，其中，潜能数据用于表征禁止替代芯片的性能。本发明解决了无法获取有效的车辆芯片潜能数据的技术问题。