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公开(公告)号：CN114325752B
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202111621460.2
申请日：2021-12-28
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01S17/894 , G01S7/484 , G01S7/4865 , G03B15/03 , H04N23/55 , H04N23/73 , H04N23/56
Abstract: 本发明提供一种激光透视成像系统，包括：机箱、相机、激光器、选通控制器、光学镜头、激光准直器和电源；机箱的一侧分别设置有第一透光孔和第二透光孔；光学镜头的感光面安装在第一透光孔处，激光准直器安装在第二透光孔处；光学镜头的后方安装有相机；光学镜头用于将激光回波成像在相机的焦平面上选通控制器分别用于控制激光器发出激光和用于控制相机进行成像；激光准直器用于调节激光的发散角；光源用于为成像系统供电。本发明通过脉冲照明、选通接收，降低了烟雾的后向散射光对成像系统的影响；通过超短的曝光时间，降低火焰发出的噪声光进入成像系统的积分时间；通过激光主动施照，解决了火场照明度低的问题，提高了目标成像对比度。
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公开(公告)号：CN111288850A
公开(公告)日：2020-06-16
申请号：CN201811484049.3
申请日：2018-12-06
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: F41H11/02
Abstract: 本发明属于光电对抗研究领域，具体涉及一种基于临近空间平台的空间光电对抗方法及装备，该方法及装备首先开启被动高精度跟瞄，实施对高轨道卫星的被动跟踪任务；接收到地面指令，发射激光对高轨道卫星实施对抗攻击；而后使用激光进行连续攻击，直至接收地面指令停止命令。该方法及装备采用小型化固体光源，配合高精度跟瞄单元，能够用来对36000km地球同步轨道卫星的大面积饱和压制干扰，实现对本方重要军事目标及军事行动的掩护。
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公开(公告)号：CN108982392A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201811141805.2
申请日：2018-09-28
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明提供了一种激光吸收率测量装置，包括激光器、光束整形器、第一分束器、第一功率计、第二分束器、第一待测样品、第二功率计、第二待测样品、第三功率计。同时还提供了一种激光吸收率测量方法，同时测量参考功率、热辐射功率和反射功率，通过三者的计算得到吸收功率。本发明提供的激光吸收率测量装置和测量方法，能够准确、方便的测量激光吸收率。
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公开(公告)号：CN114325752A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202111621460.2
申请日：2021-12-28
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01S17/894 , G01S7/484 , G01S7/4865 , G03B15/03 , H04N5/225 , H04N5/235
Abstract: 本发明提供一种激光透视成像系统，包括：机箱、相机、激光器、选通控制器、光学镜头、激光准直器和电源；机箱的一侧分别设置有第一透光孔和第二透光孔；光学镜头的感光面安装在第一透光孔处，激光准直器安装在第二透光孔处；光学镜头的后方安装有相机；光学镜头用于将激光回波成像在相机的焦平面上选通控制器分别用于控制激光器发出激光和用于控制相机进行成像；激光准直器用于调节激光的发散角；光源用于为成像系统供电。本发明通过脉冲照明、选通接收，降低了烟雾的后向散射光对成像系统的影响；通过超短的曝光时间，降低火焰发出的噪声光进入成像系统的积分时间；通过激光主动施照，解决了火场照明度低的问题，提高了目标成像对比度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103698770A
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201310671323.9
申请日：2013-12-11
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 基于FPGA芯片的多通道激光回波时间测量系统，涉及光电测量领域，解决了现有采用单点探测器无法达到多通道数、高精度、宽测量范围、快速测量等要求的问题，该系统包括阵列探测器，用于将接收的激光回波信号转换为弱电流信号；与阵列探测器像元个数相等的多个前置放大器，用于将弱电流信号放大为电压信号；与前置放大器个数相等的多个阈值比较器，用于比较电压信号和参考电压，产生用于标记激光回波信号的计时停止脉冲信号；具有与阈值比较器个数相等的多个通道的FPGA芯片，用于测量接收的计时停止脉冲信号与计时开始脉冲信号之间的时间差，得到脉冲飞行时间。本发明通过多通道信号处理，实现阵列信号的高精度、宽范围、高速测量。
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公开(公告)号：CN107704815B
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201710888373.0
申请日：2017-09-27
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本申请公开了一种指纹显现方法及指纹显现系统，其中，所述指纹显现方法利用获取的黑体辐射发光材料覆盖待成像载体上的待显示指纹，以使得待显示指纹表面的黑体辐射发光材料可以在预设功率的红外激光照射时发出黑体辐射，从而使得被照射部分的待显示指纹显现出来，并且在对待显示指纹进行照射的过程中采用扫描照射的方法，避免了对待成像载体上背景图案的长时间成像，降低背景图案对指纹显现的影响，降低了背景荧光对获取指纹图像的不良影响，从而使得待显示指纹可以清晰的显现处理，进而为获得清晰的高对比度的指纹图像提供了可能。
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公开(公告)号：CN111090246A
公开(公告)日：2020-05-01
申请号：CN201811219063.0
申请日：2018-10-19
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G05B19/042 , G01S7/48 , G01S17/89
Abstract: 本发明涉及光电探测技术领域，特别涉及一种嵌入式距离选通激光主动成像系统及其方法；本发明包括：FPGA主控芯片，用于对相机进行参数设定、根据相机的信号进行图片采集和显示；激光器驱动器，用于根据FPGA主控芯片的控制信号驱动激光器；激光器，用于根据激光器驱动器的信号发送激光脉冲；相机，用于拍摄照片；本发明采用以使用FPGA主控芯片作为主控核心，实现激光器出光控制，且完成激光器和相机的精确同步，完成激光器和相机的参数设定，完成相机图像的采集、缓存和显示，完成中枢主控和主动成像系统的交互通信；本发明具有针对性强、体积小、成本低、灵活可定制的突出特点。
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公开(公告)号：CN107704815A
公开(公告)日：2018-02-16
申请号：CN201710888373.0
申请日：2017-09-27
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本申请公开了一种指纹显现方法及指纹显现系统，其中，所述指纹显现方法利用获取的黑体辐射发光材料覆盖待成像载体上的待显示指纹，以使得待显示指纹表面的黑体辐射发光材料可以在预设功率的红外激光照射时发出黑体辐射，从而使得被照射部分的待显示指纹显现出来，并且在对待显示指纹进行照射的过程中采用扫描照射的方法，避免了对待成像载体上背景图案的长时间成像，降低背景图案对指纹显现的影响，降低了背景荧光对获取指纹图像的不良影响，从而使得待显示指纹可以清晰的显现处理，进而为获得清晰的高对比度的指纹图像提供了可能。
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公开(公告)号：CN103792874A
公开(公告)日：2014-05-14
申请号：CN201410029540.2
申请日：2014-01-22
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及一种用于激光主动成像的嵌入式距离选通主控系统，包括：FPGA主控；以及与所述FPGA主控相连接的：USB通信接口、激光器出光检测器件PIN光电管接口、信号放大与整形器件、参考时钟、DDR3图像缓存、图像D/A器件、VGA显示接口、图像采集和相机控制GIGA-E接口、相机触发SMA接口、激光器触发RJ-45接口、激光器控制RS232接口以及电平转换器件。本发明的用于激光主动成像的嵌入式距离选通主控系统，采用FPGA为控制核心，完成激光器和相机的精确同步，完成激光器和相机的参数设定，完成相机图像的采集、缓存和显示，完成中枢主控和主动成像系统的交互通信。
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