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公开(公告)号：CN115153612A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210962162.8
申请日：2022-08-11
申请人： 中国科学院过程工程研究所
发明人： 孟凡勇
IPC分类号： A61B6/03
摘要： 本发明实施例公开了一种CT成像设备、CT成像方法及存储介质，该设备包括：底座；机械臂，设置于底座上，包括第一机械臂和第二机械臂；射线源，设置于第一机械臂的自由端；探测器，设置于第二机械臂的自由端；环境扫描装置，用于获取被测物体所在空间的物体分布信息；处理器，用于根据物体分布信息确定被测物体的至少两个数据采集点和运动路径；控制机械臂沿运动路径依次运动至至少两个数据采集点中的每个数据采集点，并在每个数据采集点控制射线源输出X射线以及探测器接收穿过被测物体的X射线以生成对应的投影数据，确定投影数据对应被测物体的目标图像数据。解决了现有CT成像设备存在因公转转台无法旋转而无法进行安全有效的成像检测的问题。
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公开(公告)号：CN109106390A
公开(公告)日：2019-01-01
申请号：CN201810690797.0
申请日：2018-06-28
申请人： 北京航空航天大学 , 中国科学院过程工程研究所
IPC分类号： A61B6/03
摘要： 本发明提供一种旋转中心偏置的扇束短扫描CT重建方法及装置，所述方法包括：获取被扫描断层在旋转过程中生成的非全周正弦图数据，并利用互相关法计算获得旋转中心投影的偏移值；根据所述旋转中心投影的偏移值和旋转中心偏置下的短扫描CT重建数据填补公式将所述非全周正弦图数据填补为全周正弦图数据；采用标准滤波反投影算法重建所述全周正弦图数据。本发明解决了使用传统短扫描CT重建算法出现的严重伪影问题，解决了转台旋转中心偏置所带来的几何误差影响，降低了重建算法对机械装配精度的要求。
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公开(公告)号：CN101876663B
公开(公告)日：2012-02-01
申请号：CN200910082721.0
申请日：2009-04-28
申请人： 中国科学院过程工程研究所
摘要： 本发明提供一种测量两相流颗粒团聚物速度及加速度的方法，基于x射线探测装置实现，所述x射线探测装置包括射线源和线状的探测器阵列，反应器位于射线源和探测器阵列之间，所述测量两相流颗粒团聚物速度的方法包括如下步骤：1)获取探测器阵列的各探测器单元处的不含流动信息的反应器本底投影信号Ir；2)使反应器工作，在一段时间内，获取一系列测量时刻下，各探测器单元处的包含流动信息的投影信号I；3)根据步骤1)和2)的数据计算出各测量时刻下各探测器单元所对应的颗粒体积分率εp{n，i}；4)根据颗粒体积分率的涨落判断团聚物出现的位置及时刻，并计算出所述两相流颗粒团聚物速度及加速度。
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公开(公告)号：CN101639453B
公开(公告)日：2011-12-14
申请号：CN200810117442.9
申请日：2008-07-30
申请人： 中国科学院过程工程研究所
摘要： 本发明提供一种针对多相流动系统中CT射线硬化的校正方法，包括如下步骤：1)利用流体力学软件生成多相流动系统的模拟流场；2)选取模拟流场的一个二维截面，得出该二维截面的流场数据；3)选取不同滤片的材料和厚度，模拟CT对所述二维截面进行扫描的过程，分别得出对应于不同滤片材料和厚度的模拟二维重建图像；4)根据各模拟二维重建图像与所述模拟流场数据的近似度，确定实际CT测量时所需的滤片的材料和厚度。本发明的优点在于，通过将计算流体力学与CT模拟相结合，可以克服物理实验中无法产生精确可重复流场这一缺点；并且本发明通过计算机模拟就可确定CT系统的硬化校正参数，从而节省大量的人力物力财力。
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公开(公告)号：CN101639453A
公开(公告)日：2010-02-03
申请号：CN200810117442.9
申请日：2008-07-30
申请人： 中国科学院过程工程研究所
摘要： 本发明提供一种针对多相流动系统中CT射线硬化的校正方法，包括如下步骤：1)利用流体力学软件生成多相流动系统的模拟流场；2)选取模拟流场的一个二维截面，得出该二维截面的流场数据；3)选取不同滤片的材料和厚度，模拟CT对所述二维截面进行扫描的过程，分别得出对应于不同滤片材料和厚度的模拟二维重建图像；4)根据各模拟二维重建图像与所述模拟流场数据的近似度，确定实际CT测量时所需的滤片的材料和厚度。本发明的优点在于，通过将计算流体力学与CT模拟相结合，可以克服物理实验中无法产生精确可重复流场这一缺点；并且本发明通过计算机模拟就可确定CT系统的硬化校正参数，从而节省大量的人力物力财力。
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公开(公告)号：CN115308233B
公开(公告)日：2023-05-05
申请号：CN202211197496.7
申请日：2022-09-29
申请人： 中国科学院过程工程研究所
IPC分类号： G01N23/04 , G01N23/046 , G05D1/10
摘要： 本发明实施例公开了一种射线成像设备、射线成像方法及存储介质，该设备包括：飞行装置；射线源，在所述飞行装置的带动下运动，用于输出X射线；探测器，在所述飞行装置的带动下运动，用于接收穿过被测物体的X射线以生成对应的投影数据；环境扫描装置，用于获取被测物体所在空间的物体分布信息；处理器，用于根据所述物体分布信息确定被测物体的至少一个数据采集点，控制所述飞行装置带动所述射线源和所述探测器沿所述运动路径依次运动至所述至少一个数据采集点中的每个数据采集点，以及确定所述投影数据对应的被测物体的目标图像数据。解决了现有射线成像设备存在成像检测灵活性较低的问题。
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公开(公告)号：CN115308233A
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN202211197496.7
申请日：2022-09-29
申请人： 中国科学院过程工程研究所
IPC分类号： G01N23/04 , G01N23/046 , G05D1/10
摘要： 本发明实施例公开了一种射线成像设备、射线成像方法及存储介质，该设备包括：飞行装置；射线源，在所述飞行装置的带动下运动，用于输出X射线；探测器，在所述飞行装置的带动下运动，用于接收穿过被测物体的X射线以生成对应的投影数据；环境扫描装置，用于获取被测物体所在空间的物体分布信息；处理器，用于根据所述物体分布信息确定被测物体的至少一个数据采集点，控制所述飞行装置带动所述射线源和所述探测器沿所述运动路径依次运动至所述至少一个数据采集点中的每个数据采集点，以及确定所述投影数据对应的被测物体的目标图像数据。解决了现有射线成像设备存在成像检测灵活性较低的问题。
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公开(公告)号：CN109106390B
公开(公告)日：2020-06-23
申请号：CN201810690797.0
申请日：2018-06-28
申请人： 北京航空航天大学 , 中国科学院过程工程研究所
IPC分类号： A61B6/03
摘要： 本发明提供一种旋转中心偏置的扇束短扫描CT重建方法及装置，所述方法包括：获取被扫描断层在旋转过程中生成的非全周正弦图数据，并利用互相关法计算获得旋转中心投影的偏移值；根据所述旋转中心投影的偏移值和旋转中心偏置下的短扫描CT重建数据填补公式将所述非全周正弦图数据填补为全周正弦图数据；采用标准滤波反投影算法重建所述全周正弦图数据。本发明解决了使用传统短扫描CT重建算法出现的严重伪影问题，解决了转台旋转中心偏置所带来的几何误差影响，降低了重建算法对机械装配精度的要求。
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公开(公告)号：CN104007131A
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN201410222682.0
申请日：2014-05-23
申请人： 中国科学院过程工程研究所
IPC分类号： G01N23/04
CPC分类号： G01N23/04
摘要： 本发明公开了便携式CT扫描设备、便携式CT系统和CT检测方法，设备包括：旋转台、相对设置在旋转台上的发射模块和探测模块、设置在旋转台上的驱动模块、采集模块和供电模块，发射模块、探测模块、驱动模块、采集模块和供电模块拆卸式组装在旋转台上；驱动模块，用于带动旋转台上的发射模块和探测模块旋转；发射模块，用于发射检测射线；探测模块，用于探测检测射线；采集模块，用于采集数字信号以完成CT图像的重建；供电模块，用于提供CT扫描设备所需电力。本发明通过将CT扫描设备设计为包括至少一个可拆卸部件，解决了将体积庞大的CT扫描设备运输到测试现场时带来的人力和物力的巨大消耗，实现了便捷、有效的现场CT检测服务。
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公开(公告)号：CN103654833A
公开(公告)日：2014-03-26
申请号：CN201310582495.9
申请日：2013-11-19
申请人： 中国科学院过程工程研究所
CPC分类号： A61B6/032
摘要： 本发明公开了一种CT探测器偏转角的确定方法和装置。所述方法包括：使用待测CT对被测物体进行全周扫描，获取被测物体的边缘投影点在探测器阵列中的第一极限位置D1和第二极限位置D2；以待测CT的旋转中心投影点COR在探测器阵列中的位置D0为原点，以探测器阵列所在直线为X轴，建立坐标系，计算D1的X轴坐标值q1和D2的X轴坐标值q2；计算待测CT的射线源焦点与D0之间的距离RD；根据RD、q1和q2，确定所述待测CT的探测器偏转角γ。本发明实现了无需使用专用的校正模体，仅通过直接扫描被测物体，并对采集的原始数据进行简单的运算，即可快速而精确的确定待测CT的探测器偏转角的技术效果。
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