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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105069792A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201510483078.8
申请日：2015-08-07
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06T7/00
CPC classification number: G06T7/0014 , G06T2207/10061
Abstract: 本发明提供一种电子断层图像对位中的图像匹配方法，包括：1)找出第一图像胶体金点集S和第二图像胶体金点集M中的四点仿射组；2)随机选取点集M中的四点仿射组，找出一致性比例与点集M中的四点仿射组接近的点集S中的四点仿射组作为映射的四点仿射组，基于映射的四点仿射组估计第一图像至第二图像的仿射变换T(·)；3)将第一图像的胶体金点代入仿射变换T(·)，计算仿射变换后的第一图像的胶体金点与第二图像的近似点的数目；4)重复执行步骤2)、3)直至找出匹配的近似点数目最多的仿射变换T(·)，进而得到两个电镜图像中匹配的胶体金点集对。本发明基于全局几何信息实现了胶体金点匹配，能够有效减少错误匹配，提高电子断层图像对位的准确度。
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公开(公告)号：CN103824294A
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201410073170.2
申请日：2014-02-28
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06T7/00
Abstract: 本发明提供一种电子断层图像序列对位方法，包括下列步骤：1）采用能够保留图像仿射变换信息的特征提取算法，从每幅电子断层投影图像中提取特征点；2）对不同电子断层投影图像的特征点进行匹配，获得多幅电子断层投影图像的特征点之间的对应关系；3）基于仿射模型，根据步骤2）所获得的多幅电子断层投影图像的特征点之间的对应关系，估计各电子断层投影图像所对应的对位参数。本发明不依赖胶体金标记，且能够提高对位准确度。
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公开(公告)号：CN105205840A
公开(公告)日：2015-12-30
申请号：CN201510483467.0
申请日：2015-08-07
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明提供一种电子断层图像中胶体金的直径估计方法，包括：1)在原始胶体金直径附近的数值范围内得到一系列估计直径，对于每个估计直径执行步骤2)；2)对于每个估计直径，计算该估计直径下的人工模板与平均模板的互相关系数作为模板匹配互相关系数，其中，所述人工模板是根据估计直径直接生成的胶体金模板，所述平均模板是基于当前估计直径提取胶体金后，对所提取的胶体金区域做图像平均得到的胶体金模板；3)根据各个估计直径所对应的所述模板匹配互相关系数确定胶体金的精确直径。本发明还提供了相应的胶体金的自动识别方法。本发明对胶体金直径和数目等参数的依赖性较低，具有更高的识别率。
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公开(公告)号：CN105205840B
公开(公告)日：2018-06-01
申请号：CN201510483467.0
申请日：2015-08-07
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
Abstract: 本发明提供一种电子断层图像中胶体金的直径估计方法，包括：1)在原始胶体金直径附近的数值范围内得到一系列估计直径，对于每个估计直径执行步骤2)；2)对于每个估计直径，计算该估计直径下的人工模板与平均模板的互相关系数作为模板匹配互相关系数，其中，所述人工模板是根据估计直径直接生成的胶体金模板，所述平均模板是基于当前估计直径提取胶体金后，对所提取的胶体金区域做图像平均得到的胶体金模板；3)根据各个估计直径所对应的所述模板匹配互相关系数确定胶体金的精确直径。本发明还提供了相应的胶体金的自动识别方法。本发明对胶体金直径和数目等参数的依赖性较低，具有更高的识别率。
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公开(公告)号：CN105069792B
公开(公告)日：2018-01-26
申请号：CN201510483078.8
申请日：2015-08-07
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06T7/38
Abstract: 本发明提供一种电子断层图像对位中的图像匹配方法，包括：1)找出第一图像胶体金点集S和第二图像胶体金点集M中的四点仿射组；2)随机选取点集M中的四点仿射组，找出一致性比例与点集M中的四点仿射组接近的点集S中的四点仿射组作为映射的四点仿射组，基于映射的四点仿射组估计第一图像至第二图像的仿射变换T(·)；3)将第一图像的胶体金点代入仿射变换T(·)，计算仿射变换后的第一图像的胶体金点与第二图像的近似点的数目；4)重复执行步骤2)、3)直至找出匹配的近似点数目最多的仿射变换T(·)，进而得到两个电镜图像中匹配的胶体金点集对。本发明基于全局几何信息实现了胶体金点匹配，能够有效减少错误匹配，提高电子断层图像对位的准确度。
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