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公开(公告)号：CN103824294A
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201410073170.2
申请日：2014-02-28
Applicant: 中国科学院计算技术研究所
IPC: G06T7/00
Abstract: 本发明提供一种电子断层图像序列对位方法，包括下列步骤：1）采用能够保留图像仿射变换信息的特征提取算法，从每幅电子断层投影图像中提取特征点；2）对不同电子断层投影图像的特征点进行匹配，获得多幅电子断层投影图像的特征点之间的对应关系；3）基于仿射模型，根据步骤2）所获得的多幅电子断层投影图像的特征点之间的对应关系，估计各电子断层投影图像所对应的对位参数。本发明不依赖胶体金标记，且能够提高对位准确度。
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