一种用于防冻心墙相变黏土性能验证的装置及方法

    公开(公告)号:CN118758992A

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202410689752.7

    申请日:2024-05-30

    Abstract: 本发明涉及一种黏土性能验证的装置及方法,为解决现有相变材料测定装置应用范围受限、准确度较低的问题,而提供一种用于防冻心墙相变黏土性能验证的装置及方法。本发明包括常压高低温试验箱、设置在常压高低温试验箱内的载物平台、设置在载物平台上的试验体、设置在常压高低温试验箱内并与其电连接的制冷口、设置在常压高低温试验箱外并与试验体和常压高低温试验箱电连接的控制与数据处理模块;试验体包括多层相变黏土、设置在每层相变黏土内的网格工装,试验体侧表面和下表面均由隔热层包裹;每个网格工装均为包括多个阶梯的阶梯状板;每级阶梯上均设置有镂空通孔和温度检测模块;网格工装的上表面布设有加热条,下表面布设有第二导热链。

    振动试验应力应变限幅控制系统及其控制方法

    公开(公告)号:CN111442889B

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202010344000.9

    申请日:2020-04-27

    Abstract: 本发明公开了一种振动试验应力应变限幅控制系统及其控制方法,旨在解决现有技术中存在的加速度限幅控制方法只能对试件在振动试验中的加速度响应进行限幅控制,无法直观地从试件结构特性、材料特性的角度对试件进行有效保护,而且加速度阈值地选取没有任何权威数据和方法可供参考,非常依赖试验人员的主观经验,往往会与实际情况有很大偏差的技术问题,本发明包括振动台、动态应变仪、振动控制测量系统、振动台功放以及至少一个应变传感器;本发明通过直接测量试件应力应变,从而在根本上从试件结构特性、材料特性的角度对试件进行有效保护。

    一种光学组件性能测试平台

    公开(公告)号:CN111426448B

    公开(公告)日:2021-06-22

    申请号:CN202010229637.3

    申请日:2020-03-27

    Abstract: 本发明公开了一种光学组件性能测试平台。该平台包括上壳体、底板以及下壳体;上壳体和下壳体密封扣合为一个密封舱体;下壳体内设有至少三条横梁,每根横梁上均设有至少三个柱状凸起,所有柱状凸起构成用于承载底板的支撑体;底板上放置多个光学测试设备;上壳体的前端面设有光通道接口,所述光通道接口通过软管与外部环境试验模拟装置对接,上壳体的后端面为密封面;上壳体的后端侧面设有光学输出窗口。该测试平台测试精度高、结构简单,易于密封,对于一些小型设备或没有地面条件的环境也同样具有适用性。

    高精度电控光阑装置
    5.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104749767B

    公开(公告)日:2017-05-03

    申请号:CN201510112105.0

    申请日:2015-03-13

    Abstract: 高精度电控光阑装置,包括双弧形光阑、驱动机构、传动机构、限位开关、控制器和底部开有圆形通光口的基座;驱动机构设于基座上并与控制器相连;传动机构包括设于基座上的导轨滑块副及与导轨滑块副平行设于圆形通光口两侧的丝杠;丝杠沿驱动机构动力输出方向设置,其一端与驱动机构相连,另一端固定于基座侧部;双弧形光阑设于导轨滑块副和丝杠上;双弧形光阑为片状,其轮廓线包括第一弧边和第二弧边,第一弧边和第二弧边围成喇叭状开口且有一共同端点;第一弧边及第二弧边的弧形半径与圆形通光口的通光口径匹配;限位开关固定于导轨滑块副两端并与控制器相连,限位开关的高度高于导轨滑块副。本发明无最小光阑孔径问题、可实现光强的线性调整。

    自准直仪示值误差检定方法

    公开(公告)号:CN103486998B

    公开(公告)日:2016-09-07

    申请号:CN201310430148.4

    申请日:2013-09-18

    Abstract: 本发明提供一种自准直仪示值误差检定装置及检定方法,该装置,包括立卧转台、多面棱体、调整支架、标准自准直仪;多面棱体通过调整支架与立卧转台连接,标准自准直仪视轴垂直于多面棱体工作面并对准多面棱体工作面中心,被测自准直仪视轴垂直于多面棱体另一工作面,并对准多面棱体工作面中心,标准自准直仪的精度比被测自准直仪的精度至少高三倍。该方法,包括以下步骤:组装仪器;往测;反测;取往测和反测的平均值。本发明利用实验室的常用设备实现了二维自准直仪的检定,结构简单,成本低廉;只需要一套设备,就可以测1级、2级、3级自准直仪示值的误差;只需要一套设备,就可以校准水平角和竖直角的角度误差。

    靶场光学测量设备姿态测量精度的测量方法

    公开(公告)号:CN103868528A

    公开(公告)日:2014-06-18

    申请号:CN201410100646.7

    申请日:2014-03-18

    CPC classification number: G01C25/00

    Abstract: 一种靶场光学测量设备姿态测量精度的测量方法,包括:1)确定模拟目标;2)选用姿态板;3)将姿态板安装在平行光管上;4)将平行光管固定在可倾斜桁架上;5)对姿态板中心点进行测量;6)对模拟目标进行多点测量;7)对各模拟目标的姿态进行拟合;8)计算被测姿态测量设备像面上姿态板中心点的像到各模拟目标的像的距离;9)被测姿态测量设备对模拟目标进行动态成像;10)将被测姿态测量设备获得的各目标像的倾角及姿态板中心点的像到各模拟目标像的距离与所得到的各模拟目标的倾角和姿态板中心点的像到各模拟目标像的距离的真值进行比较。本发明可为靶场光测设备的设计和改进提供数据依据,提高测试精度。

    一种具有温度补偿功能的试验装置

    公开(公告)号:CN111610009B

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202010431379.7

    申请日:2020-05-20

    Abstract: 本发明提供了一种具有温度补偿功能的试验装置,解决现有低气压试验设备在进行试验时,易导致产品性能失常,严重时导致产品损坏的问题。该装置包括试验箱、真空系统、外密封腔压力传感器、内密封腔压力传感器及设在试验箱内的内箱和温度补偿系统,内箱外壁与试验箱内壁之间形成外密封腔,内箱内壁之间形成内密封腔;外密封腔与真空系统相连;内箱上设有多个单向散气孔,单向散气孔进口位于内密封腔内,出口位于外密封腔内;温度补偿系统设在内密封腔内,用于对内密封腔进行加热;外密封腔压力传感器设在外密封腔内,其输出端设在试验箱外部;内密封腔压力传感器设置在内密封腔内,其输出端依次穿过内箱、外密封腔、试验箱,设在试验箱外部。

    带自动除湿系统的高低温试验箱及其使用方法

    公开(公告)号:CN113262827A

    公开(公告)日:2021-08-17

    申请号:CN202110395017.1

    申请日:2021-04-13

    Abstract: 本发明涉及高低温试验箱的温度控制试验技术,具体涉及一种带自动除湿系统的高低温试验箱及方法,以解决现有待测产品在高低温试验箱进行温度试验时,需要大量、反复通入干燥空气或氮气,操作繁琐、耗费人力以及试验用气成本高的问题。本发明所采用的技术方案为:一种带自动除湿系统的高低温试验箱,包括高低温试验箱、温湿度传感器,设置在高低温试验箱上的平衡孔,以及自动除湿系统;自动除湿系统包括第一主气路、第二主气路、第二支气路、控制器;所述第一主气路、第二主气路、第二支气路的出气端口均与高低温试验箱的进气口连通;本发明还提供一种带自动除湿系统的高低温试验箱的使用方法。

    一种光学组件性能测试平台

    公开(公告)号:CN111426448A

    公开(公告)日:2020-07-17

    申请号:CN202010229637.3

    申请日:2020-03-27

    Abstract: 本发明公开了一种光学组件性能测试平台。该平台包括上壳体、底板以及下壳体;上壳体和下壳体密封扣合为一个密封舱体;下壳体内设有至少三条横梁,每根横梁上均设有至少三个柱状凸起,所有柱状凸起构成用于承载底板的支撑体;底板上放置多个光学测试设备;上壳体的前端面设有光通道接口,所述光通道接口通过软管与外部环境试验模拟装置对接,上壳体的后端面为密封面;上壳体的后端侧面设有光学输出窗口。该测试平台测试精度高、结构简单,易于密封,对于一些小型设备或没有地面条件的环境也同样具有适用性。

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