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公开(公告)号：CN111665023A
公开(公告)日：2020-09-15
申请号：CN202010590558.5
申请日：2020-06-24
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明涉及畸变测量，具体涉及一种望远镜畸变测量装置及方法。本发明的目的是解决现有畸变测量装置及方法存在无法满足具有无限远像距系统望远镜的畸变测量需求的问题，提供一种望远镜畸变测量装置及方法。该装置包括具有平行光管的目标模拟模块、五维调整台、目标像采集分析模块；五维调整台用于安装被测望远镜；目标模拟模块位于被测望远镜的物方；目标像采集分析模块位于被测望远镜的像方；目标像采集分析模块包括CCD摄像系统、第一一维手动角位台、单轴位置转台、计算机和第二调平机构；CCD摄像系统包括远摄物镜和CCD探测器；计算机通过电缆分别连接CCD探测器和单轴位置转台。该方法利用该装置进行。
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公开(公告)号：CN106352846B
公开(公告)日：2018-08-28
申请号：CN201610701467.8
申请日：2016-08-22
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01C1/00
Abstract: 本发明提供一种倾角回转误差的测试方法，包括以下步骤：将第一电子水平仪和第二电子水平仪互相垂直放置在待测转轴所在的转台的台面上；转动转台，待测转轴跟随转台每间隔Δθ°旋转一次，每旋转一次记录电子水平仪的示值，总共旋转角度为转台极限转角；记录两台电子水平仪的示值；根据得到的数据进行数据处理得到待测转轴的倾角回转误差，依据传统倾角回转误差计算方法，针对惯性系统回转范围受限，无法展成傅里叶级数，不能对倾角回转误差进行测试的问题，本发明提出了惯性系统中回转角度受限情况下倾角回转误差的测试方法，给出了倾角回转误差的算法。
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公开(公告)号：CN106248351B
公开(公告)日：2018-08-28
申请号：CN201610717298.7
申请日：2016-08-24
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Inventor： 薛勋 , 赵建科 , 刘尚阔 , 张洁 , 胡丹丹 , 李坤 , 曹昆 , 昌明 , 王争锋 , 李晶 , 赵怀学 , 陈永权 , 段亚轩 , 田留德 , 潘亮 , 徐亮 , 刘峰 , 赛建刚 , 周艳 , 高斌 , 高博
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供基于光学系统鬼像测量装置的光学系统鬼像测量方法，将一束准直扩束光束分为两路，并且透射准直光束的指向不变，通过双路旋转式轴向指向可调分光系统，可实现分光光路绕透射光轴夹角锥面旋转，通过鬼像测试，可得到待测光学系统的三维空间鬼像位置的分布，另外，也可在光学镜头设计阶段对鬼像分布进行测量，及时对光学镜头进行调整，避免后期光学系统鬼像的出现；可以通过主控系统的调整，自动、快速的获取光学系统形成鬼像的入射光位置以及能量，测试过程稳定、可靠，并能极大的提高测试效率，非常适合在工程测试中应用。
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公开(公告)号：CN105158209B
公开(公告)日：2017-10-31
申请号：CN201510404630.X
申请日：2015-07-10
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01N21/41
Abstract: 一种大口径单轴晶体折射率均匀性测量装置及其方法，准直镜、起偏器和半透半反镜依次设置在激光器的出射光所在光路上；半透半反镜将入射至半透半反镜的光进行反射和透射并分别形成反射光和透射光；会聚镜设置在反射光所在光路上并将反射光会聚至积分球功率计中；缩束系统物镜、缩束系统目镜和夏克‑哈特曼波前传感器依次设置在透射光所在光路上；待测大口径单轴晶体置于起偏器和半透半反镜之间；计算机分别与积分球功率计、夏克‑哈特曼波前传感器和待测大口径单轴晶体相连。本发明可实现大口径单轴晶体折射率均匀性测量，不受波长限制，和外界环境气流和振动的影响，并很好的保证测量精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106352846A
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201610701467.8
申请日：2016-08-22
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01C1/00
Abstract: 本发明提供一种倾角回转误差的测试方法，包括以下步骤：将第一电子水平仪和第二电子水平仪互相垂直放置在待测转轴所在的转台的台面上；转动转台，待测转轴跟随转台每间隔Δθ°旋转一次，每旋转一次记录电子水平仪的示值，总共旋转角度为转台极限转角；记录两台电子水平仪的示值；根据得到的数据进行数据处理得到待测转轴的倾角回转误差，依据传统倾角回转误差计算方法，针对惯性系统回转范围受限，无法展成傅里叶级数，不能对倾角回转误差进行测试的问题，本发明提出了惯性系统中回转角度受限情况下倾角回转误差的测试方法，给出了倾角回转误差的算法。
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公开(公告)号：CN106226759A
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201610701742.6
申请日：2016-08-22
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Inventor： 田留德 , 赵建科 , 王涛 , 赵怀学 , 周艳 , 刘艺宁 , 万伟 , 潘亮 , 张海洋 , 张婷 , 段亚轩 , 薛勋 , 曹昆 , 李坤 , 刘尚阔 , 张洁 , 胡丹丹
IPC: G01S7/497
Abstract: 本发明提供一种跟踪稳定度测试装置及方法，整个测试装置有目标模拟组件、跟踪稳定度测量组件、运动模拟组件三部分组成。目标模拟组件位于跟踪稳定度测量组件的上方，目标模拟组件中的小口径平行光管与跟踪稳定度测量组件中的长焦距平行光管光轴平行，两者之间在高低方向的距离可根据被测光电跟踪成像设备的需要具体调整。被测光电跟踪成像设备位于运动模拟组件的上方，且被测光电跟踪成像设备位于目标模拟组件和跟踪稳定度测量组件的前方，被测光电跟踪成像设备位于小口径平行光管和长焦距平行光管出口处。本发明可以解决光电跟踪成像设备跟踪稳定度这一关键技术指标的实验室内的测试和评价问题，且具有较高的测量精度。
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公开(公告)号：CN102878952B
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：CN201210358761.5
申请日：2012-09-25
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01B11/26
Abstract: 本发明涉及一种光轴平行性标定系统及标定方法，光轴平行性标定系统包括自准直经纬仪、数据处理计算机以及用于对自准直经纬仪进行自准的平面反射镜；待测光学系统设置在自准直经纬仪的出射光路上并与数据处理计算机电性相连。本发明提供了一种测试精度高、实时性好以及应用领域广的光轴平行性标定系统及标定方法。
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公开(公告)号：CN105444998A
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：CN201510940730.4
申请日：2015-12-15
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Inventor： 薛勋 , 赵建科 , 胡丹丹 , 张洁 , 郭毅 , 昌明 , 刘尚阔 , 王争锋 , 李坤 , 李晶 , 曹昆 , 马小龙 , 陈永权 , 段亚轩 , 田留德 , 潘亮 , 赛建刚 , 周艳 , 高斌 , 薛斌 , 徐亮 , 刘峰
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明属于光学检测领域，具体涉及一种望远系统视放大率测量装置及测量方法，该测量装置包括激光平面干涉仪、一号双面平面镜、一号双坐标自准直仪、二号双面平面镜和二号双坐标自准直仪；激光平面干涉仪位于被测望远系统的物方端；一号双面平面镜一侧紧贴于被测望远系统的上壁或者下壁，一号双面平面镜的另一侧安装一号双坐标自准直仪；二号双面平面镜一侧朝向被测望远系统的像方端，二号双面平面镜的另一侧安装二号双坐标自准直仪。本发明将传统放大倍率测量方法中的以像高、物高进行计算的方法转化为对角度的精确测量，从线量到角量的转化，使得测试精度与重复性大大提高。
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公开(公告)号：CN103308282B
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201310234474.8
申请日：2013-06-09
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供了一种能够较大提高测试效率，加快测试进度的反射式望远系统透过率高效测量系统及方法。准直系统设置在光源系统的出射光路上；星点单元设置在光源系统与准直系统之间并处于光源系统的焦平面上；旋转式光束折轴系统设置在准直系统的出射光路上；待测反射式望远系统设置于旋转式光束折轴系统的出射光路上，待测反射式望远系统的输出端与光谱采集系统连接；该方法，将准直光束经过旋转式光束折轴系统进行空间平移，再射入光谱采集系统。本发明绕过了反射式望远系统次镜加辐条筋的特殊结构，可在其辐条筋之间的区域，进行透过率的测量，而且经过一圈的旋转，便可以对望远系统整个口径范围的透过率进行全面测量。
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