公开(公告)号：CN116563412A

公开(公告)日：2023-08-08

申请号：CN202310753661.0

申请日：2023-06-26

Applicant: 中国科学院自动化研究所

Inventor： 田捷 ,  张利文 ,  苗肇基 ,  卫泽琛 ,  惠辉

IPC: G06T11/00 ,  G06N3/045 ,  G06N3/0475 ,  G06N3/048 ,  G06N3/094 ,  A61B5/0515 ,  A61B5/00

Abstract: 本发明属于医学成像技术领域，具体涉及了一种基于稀疏系统矩阵的MPI图像重建方法、系统及设备，旨在解决现有密集测量点位的系统矩阵测量耗时耗力，且硬件参数变化后，需要反复重新测量系统矩阵的问题，包括：获取不同参数变化情况下的密集测量的系统矩阵A并均匀下采样；测量仿体信号数据集U，基于系统矩阵A和均匀下采样的稀疏系统矩阵B进行图像重建，获得图像数据对集；构建生成对抗模型并进行训练；获取稀疏系统矩阵S和仿体扫描信号u，进行低分辨率图像重建；通过生成对抗模型的生成模块进行图像的源域‑目标域的映射，获得重建的高分辨率图像。本发明在保证成像分辨率的同时减少系统矩阵的测量点位，提升系统矩阵的测量速度。

公开(公告)号：CN116563412B

公开(公告)日：2023-10-20

申请号：CN202310753661.0

申请日：2023-06-26

Applicant: 中国科学院自动化研究所

Inventor： 田捷 ,  张利文 ,  苗肇基 ,  卫泽琛 ,  惠辉

IPC: G06T11/00 ,  G06N3/045 ,  G06N3/0475 ,  G06N3/048 ,  G06N3/094 ,  A61B5/0515 ,  A61B5/00

Abstract: 本发明属于医学成像技术领域，具体涉及了一种基于稀疏系统矩阵的MPI图像重建方法、系统及设备，旨在解决现有密集测量点位的系统矩阵测量耗时耗力，且硬件参数变化后，需要反复重新测量系统矩阵的问题，包括：获取不同参数变化情况下的密集测量的系统矩阵A并均匀下采样；测量仿体信号数据集U，基于系统矩阵A和均匀下采样的稀疏系统矩阵B进行图像重建，获得图像数据对集；构建生成对抗模型并进行训练；获取稀疏系统矩阵S和仿体扫描信号u，进行低分辨率图像重建；通过生成对抗模型的生成模块进行图像的源域‑目标域的映射，获得重建的高分辨率图像。本发明在保证成像分辨率的同时减少系统矩阵的测量点位，提升系统矩阵的测量速度。