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公开(公告)号:CN107919411A
公开(公告)日:2018-04-17
申请号:CN201710989585.8
申请日:2017-10-20
Applicant: 中国科学院电工研究所
IPC: H01L31/18 , H01L21/368 , C23C18/00
CPC classification number: Y02P70/521 , H01L31/18 , C23C18/00 , H01L21/02557 , H01L21/02628
Abstract: 一种制备Zn(S,O)多晶薄膜的方法,采取化学水浴沉积法制备。主要采用锌盐,如乙酸锌、硫酸锌等、硫脲、氨水三种物质配成反应液,曲拉通为表面活性剂,反应溶液温度70-90℃,反应时间为20-200min,最后得到所需的Zn(S,O)多晶薄膜。
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公开(公告)号:CN107919411B
公开(公告)日:2019-03-26
申请号:CN201710989585.8
申请日:2017-10-20
Applicant: 中国科学院电工研究所
IPC: H01L31/18 , H01L21/368 , C23C18/00
CPC classification number: Y02P70/521
Abstract: 一种制备Zn(S,O)多晶薄膜的方法,采取化学水浴沉积法制备。主要采用锌盐,如乙酸锌、硫酸锌等、硫脲、氨水三种物质配成反应液,曲拉通为表面活性剂,反应溶液温度70‑90℃,反应时间为20‑200min,最后得到所需的Zn(S,O)多晶薄膜。
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公开(公告)号:CN213266678U
公开(公告)日:2021-05-25
申请号:CN202021936957.4
申请日:2020-09-08
Applicant: 中国科学院电工研究所
IPC: C23C14/24 , C23C14/06 , H01L31/18 , H01L31/0445
Abstract: 本实用新型公开了一种用来在衬底上沉积半导体材料的装置,它利用升华管元件作为主要的装置构成部件,半导体材料的气体通过它流出,以提供在被传送的衬底上沉积形成半导体薄膜层的蒸汽。升华管元件具有开口,开口形式可以为密排孔或缝隙,蒸汽通过它流动,以便沉积半导体层。在此装置的一个实施例中,半导体粉末被沉积在衬底的表面上。
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