一种用于透射电子显微镜的样品杆的MEMS芯片

    公开(公告)号:CN105084290B

    公开(公告)日:2017-03-01

    申请号:CN201510395317.4

    申请日:2015-07-07

    IPC分类号: B81B1/00 B81C1/00 H01J37/20

    摘要: 本发明提供了一种用于透射电子显微镜的样品杆的MEMS芯片,包括:电介质层;薄膜状的第一电极和第二电极,第一电极和第二电极形成在电介质层的上表面上并且相互间隔开;其中,第一电极具有沿第一方向延伸的第一主体部和从第一主体部的一侧沿横向于第一方向的第二方向伸出的多个第一指状部;每一第一指状部的末端部和/或侧部邻近于第二电极,从而在第一电极和第二电极之间的相互邻近处限定了电场施加区域;和在电场施加区域内形成的通孔,通孔在垂直于电介质层的上表面的方向上穿透电介质层。本发明的一种用于透射电子显微镜的样品杆的MEMS芯片,通过设计MEMS芯片的电极的形状和样式,使其可以对样品进行加电场或同时加热加电场。

    可加光纤的透射电子显微镜样品杆

    公开(公告)号:CN103000480B

    公开(公告)日:2015-08-05

    申请号:CN201210501122.X

    申请日:2012-11-29

    IPC分类号: H01J37/20 H01J37/26

    摘要: 本发明公开了一种可加光纤的透射电子显微镜样品杆,所述光纤通过所述样品杆从透射电镜外部进入透射电镜样品室,用于将透射电镜外部的光信号施加给样品室内的样品或是将样品室内的样品产生的光信号导至透射电镜外部,所述样品杆包括:样品杆头,所述样品杆头设有载台,用于承载样品;样品杆身,所述样品杆身设有密封圈,用于在将样品杆放入透射电子显微镜样品室时保持样品室的密封以及手握柄,在至少部分的样品杆身外表面处设有至少一条导槽沿杆身长度方向延伸至样品杆头,光纤设置在所述至少一条导槽内。本发明将至少部分光纤铺设在样品杆表面的导槽内,尽量避开样品杆内部的倾转传动装置,从而避免了光纤和双倾样品杆内部倾转传动装置相互影响。

    可加光纤的透射电子显微镜样品杆

    公开(公告)号:CN103000480A

    公开(公告)日:2013-03-27

    申请号:CN201210501122.X

    申请日:2012-11-29

    IPC分类号: H01J37/20 H01J37/26

    摘要: 本发明公开了一种可加光纤的透射电子显微镜样品杆,所述光纤通过所述样品杆从透射电镜外部进入透射电镜样品室,用于将透射电镜外部的光信号施加给样品室内的样品或是将样品室内的样品产生的光信号导至透射电镜外部,所述样品杆包括:样品杆头,所述样品杆头设有载台,用于承载样品;样品杆身,所述样品杆身设有密封圈,用于在将样品杆放入透射电子显微镜样品室时保持样品室的密封以及手握柄,在至少部分的样品杆身外表面处设有至少一条导槽沿杆身长度方向延伸至样品杆头,光纤设置在所述至少一条导槽内。本发明将至少部分光纤铺设在样品杆表面的导槽内,尽量避开样品杆内部的倾转传动装置,从而避免了光纤和双倾样品杆内部倾转传动装置相互影响。

    一种用于透射电子显微镜的样品杆的MEMS芯片

    公开(公告)号:CN105084290A

    公开(公告)日:2015-11-25

    申请号:CN201510395317.4

    申请日:2015-07-07

    IPC分类号: B81B1/00 B81C1/00 H01J37/20

    摘要: 本发明提供了一种用于透射电子显微镜的样品杆的MEMS芯片,包括:电介质层;薄膜状的第一电极和第二电极,第一电极和第二电极形成在电介质层的上表面上并且相互间隔开;其中,第一电极具有沿第一方向延伸的第一主体部和从第一主体部的一侧沿横向于第一方向的第二方向伸出的多个第一指状部;每一第一指状部的末端部和/或侧部邻近于第二电极,从而在第一电极和第二电极之间的相互邻近处限定了电场施加区域;和在电场施加区域内形成的通孔,通孔在垂直于电介质层的上表面的方向上穿透电介质层。本发明的一种用于透射电子显微镜的样品杆的MEMS芯片,通过设计MEMS芯片的电极的形状和样式,使其可以对样品进行加电场或同时加热加电场。

    可加磁场的透射电子显微镜样品杆

    公开(公告)号:CN102820196B

    公开(公告)日:2015-02-04

    申请号:CN201210269758.6

    申请日:2012-07-31

    IPC分类号: H01J37/20 H01J37/26

    摘要: 本发明公开了一种可加磁场的透射电子显微镜样品杆,包括头部框架,所述头部框架沿样品杆长度延伸方向具有第一端部和第二端部;载台,用于承载样品,所述载台设有供入射电子束通过的通道,所述载台设置在头部框架内靠近头部框架第一端部;第一磁线圈,设置在头部框架内靠近头部框架第二端部,在通电流时产生第一磁场,所述第一磁场对样品产生磁化作用;以及第二磁线圈,设置在头部框架内靠近头部框架第二端部,位于所述第一磁线圈的下方,通电流时产生第二磁场,所述第二磁场能够使在第一磁场作用下发生偏转的电子束向入射方向回偏。本发明可用来研究在外加磁场的作用下磁性材料的磁畴变化。

    可加磁场的透射电子显微镜样品杆

    公开(公告)号:CN102820196A

    公开(公告)日:2012-12-12

    申请号:CN201210269758.6

    申请日:2012-07-31

    IPC分类号: H01J37/20 H01J37/26

    摘要: 本发明公开了一种可加磁场的透射电子显微镜样品杆,包括头部框架,所述头部框架沿样品杆长度延伸方向具有第一端部和第二端部;载台,用于承载样品,所述载台设有供入射电子束通过的通道,所述载台设置在头部框架内靠近头部框架第一端部;第一磁线圈,设置在头部框架内靠近头部框架第二端部,在通电流时产生第一磁场,所述第一磁场对样品产生磁化作用;以及第二磁线圈,设置在头部框架内靠近头部框架第二端部,位于所述第一磁线圈的下方,通电流时产生第二磁场,所述第二磁场能够使在第一磁场作用下发生偏转的电子束向入射方向回偏。本发明可用来研究在外加磁场的作用下磁性材料的磁畴变化。