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公开(公告)号：CN103064006A
公开(公告)日：2013-04-24
申请号：CN201210576911.X
申请日：2012-12-26
Applicant: 中国科学院微电子研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种集成电路的测试装置，包括：主控模块，用于运行嵌入式操作系统与测试程序，并发送控制命令；至少一个，与所述主控模块及待测集成电路子板相连的，用于依据所述控制命令获取所述待测集成电路子板的测试数据，并将所述测试数据回传至和所述主控模块的从属FPGA。本装置将待测集成电路子板与从属FPGA相连，从属FPGA与主控模块通过高速接口相连，从属FPGA的引脚除去时钟引脚与电源引脚外，有大量可配置用户引脚，用于与待测集成电路子板相连，避免了主控FPGA直接连接集成电路子板方式，导致提供至用户的接口数量有限，而无法对引脚数量较多的集成电路子板进行测试的问题。
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公开(公告)号：CN103033524A
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201210593077.5
申请日：2012-12-31
Applicant: 中国科学院微电子研究所
IPC: G01N23/00
Abstract: 本发明公开了一种单粒子辐射效应检测方法，应用于包括多个相同测试样品的单粒子辐射效应检测系统，该方法包括：从该多个相同的待测的测试样品中，将一个所述测试样品确定为主测试样品，将该多个相同的测试样品中除所述主测试样品外所有测试样品均确定为辅助测试样品；控制该主测试样品接受辐射的辐射过程；同时向该主测试样品和辅助测试样品发送测试激励；同时获取该主测试样品和该辅助测试样品对应端口的测试响应数据；依据该辅助测试样品对应端口的测试响应数据，确定出参考响应数据，并与该主测试样品产生的所述对应端口的所述测试响应数据进行比较，得到该测试样品出现的单粒子辐射效应，大大提高了检测方法的通用性。
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公开(公告)号：CN103064006B
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201210576911.X
申请日：2012-12-26
Applicant: 中国科学院微电子研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种集成电路的测试装置，包括：主控模块，用于运行嵌入式操作系统与测试程序，并发送控制命令；至少一个，与所述主控模块及待测集成电路子板相连的，用于依据所述控制命令获取所述待测集成电路子板的测试数据，并将所述测试数据回传至和所述主控模块的从属FPGA。本装置将待测集成电路子板与从属FPGA相连，从属FPGA与主控模块通过高速接口相连，从属FPGA的引脚除去时钟引脚与电源引脚外，有大量可配置用户引脚，用于与待测集成电路子板相连，避免了主控FPGA直接连接集成电路子板方式，导致提供至用户的接口数量有限，而无法对引脚数量较多的集成电路子板进行测试的问题。
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公开(公告)号：CN103048495B
公开(公告)日：2015-11-11
申请号：CN201310006983.5
申请日：2013-01-08
Applicant: 中国科学院微电子研究所
IPC: G01R1/04 , G01R31/317
Abstract: 本发明提供的一种数字集成电路测试总线接口，包括由N个信号单元构成的矩阵，N为不小于30的正整数，N个信号单元中的每个信号单元均包括有呈2×2矩阵均匀分布的四个信号端。本发明中I/O信号端总数与电源信号端和地信号端和的总数的比为3:1，因此在保证每个I/O信号周围至少有一个电源信号或地信号作为参考点的同时，I/O信号端、电源信号端和地信号端均匀有规律的分布也提高了测试总线对I/O信号、电源信号和地信号的传输质量。因此，本发明可以在一个数字集成电路测试总线接口中设置比现有技术更多的且满足要求的信号端，给使用者带来了方便。
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公开(公告)号：CN103048495A
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：CN201310006983.5
申请日：2013-01-08
Applicant: 中国科学院微电子研究所
IPC: G01R1/04 , G01R31/317
Abstract: 本发明提供的一种数字集成电路测试总线接口，包括由N个信号单元构成的矩阵，N为不小于30的正整数，N个信号单元中的每个信号单元均包括有呈2×2矩阵均匀分布的四个信号端。本发明中I/O信号端总数与电源信号端和地信号端和的总数的比为3:1，因此在保证每个I/O信号周围至少有一个电源信号或地信号作为参考点的同时，I/O信号端、电源信号端和地信号端均匀有规律的分布也提高了测试总线对I/O信号、电源信号和地信号的传输质量。因此，本发明可以在一个数字集成电路测试总线接口中设置比现有技术更多的且满足要求的信号端，给使用者带来了方便。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103063961B
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201210590234.7
申请日：2012-12-28
Applicant: 中国科学院微电子研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种单粒子效应测试装置及系统，该测试装置包括：旋转机构和与所述旋转机构相连的测试母板，所述测试母板上设置有多个测试子板，其中：每一测试子板用于安装被测器件；所述旋转机构用于获取控制请求，并根据控制请求驱动所述测试母板转动或者停止，使得每一测试子板接收加速器朝固定方向辐射的高能带电粒子。在该测试装置中，增加了测试子板的个数和被测器件的数量，减少了更换被测器件的次数，解决了现有技术中，由于需要频繁的更换被测器件而使得操作繁琐的问题，且每次更换被测器件进行抽真空操作浪费加速器的资源的问题。
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公开(公告)号：CN103092246B
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201310011831.4
申请日：2013-01-11
Applicant: 中国科学院微电子研究所
IPC: G05F1/56
Abstract: 本申请提供了一种供电监控系统，所述系统包括：LDO；用于采集所述LDO输出的电流并转换为模拟电压信号的采集电路；与采集电路连接，用于对将模拟电压信号进行转换为数字电压信号的ADC；与所述ADC连接，用于接收ADC转换后数字电压信号，将接收到的数字电压信号与自身内存储的预设电压阀值进行比较，并根据比较结果控制LDO工作状态的控制芯片。通过本申请提供的供电监控系统控制芯片可以直接使用软件编程方式简便的更改预设电压阈值，便于对供电监控系统的调整，以使同一个供电监控系统便于监控不同子板。
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公开(公告)号：CN103095200A
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201210589804.0
申请日：2012-12-28
Applicant: 中国科学院微电子研究所
Abstract: 本发明公开了一种旋转装置和基于该旋转装置的单粒子测试系统，该旋转装置包括控制器、电机、以及分别与控制器和电机连接的驱动器，其中：控制器用于接收不同的第一控制请求，并依据第一控制请求向驱动器发送相应的第一控制指令；驱动器依据第一控制指令驱动电机转动或者停止；该电机转动或停止时，用于带动测试母板转动或停止，测试母板上设置多个测试子板，通过该旋转装置可以增加测试子板的个数和被测器件的数量，使得在进行单粒子效应模拟试验时，减少了更换被测器件的次数，解决现有技术中，由于每次测试的被测器件数量有限，需要频繁更换被测器件而使得操作繁琐的问题，且每次更换被测器件时进行抽真空操作浪费加速器资源的问题。
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公开(公告)号：CN103076524A
公开(公告)日：2013-05-01
申请号：CN201210593075.6
申请日：2012-12-31
Applicant: 中国科学院微电子研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种辐射效应测试方法、装置及系统，所述方法应用于辐射效应测试系统，所述系统包括封装在同一管芯的同一平面，且相互独立的多个被测芯片。所述方法包括：分别向处于辐射环境中的所述多个被测芯片中对应的被测芯片同时发送测试激励；分别同时获取所述多个被测芯片依据接收的对应所述测试激励所产生的激励响应数据；依据所述激励响应数据，确定对应的所述多个被测芯片出现的辐射效应。本发明通过所述装置分别同时完成对所述多个被测芯片的辐射效应测试，且对每一所述被测芯片的辐射效应测试是相互独立的，大大提高了测试效率和通用性，节约了测试成本。
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公开(公告)号：CN103063961A
公开(公告)日：2013-04-24
申请号：CN201210590234.7
申请日：2012-12-28
Applicant: 中国科学院微电子研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明公开了一种单粒子效应测试装置及系统，该测试装置包括：旋转机构和与所述旋转机构相连的测试母板，所述测试母板上设置有多个测试子板，其中：每一测试子板用于安装被测器件；所述旋转机构用于获取控制请求，并根据控制请求驱动所述测试母板转动或者停止，使得每一测试子板接收加速器朝固定方向辐射的高能带电粒子。在该测试装置中，增加了测试子板的个数和被测器件的数量，减少了更换被测器件的次数，解决了现有技术中，由于需要频繁的更换被测器件而使得操作繁琐的问题，且每次更换被测器件进行抽真空操作浪费加速器的资源的问题。
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