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公开(公告)号:CN106567049A
公开(公告)日:2017-04-19
申请号:CN201610882869.2
申请日:2016-10-10
Applicant: 中国科学院宁波材料技术与工程研究所
CPC classification number: C23C14/352 , C23C14/0688
Abstract: 本发明公开了一种MAX相陶瓷涂层,此涂层组成为V2AlxC2‑x,x=0.7~1.5,涂层为柱状晶生长结构,每一个柱状晶由一层Al原子层和两层V原子层交替排列形成,且C原子层位于两层V原子层之间,涂层密度为4.5~5.2g/cm3。本发明还公开了所述MAX相陶瓷涂层的制备方法,采用双靶磁控溅射法并辅助射频叠加中频的电源施加方式,在制备温度为550~650℃的情况下,在非晶基体上非外延生长出所述MAX相陶瓷涂层。该制备条件下获得的V2AlxC2‑x涂层纯度达到了99.9%,涂层硬度在13~16GPa。此方法一步合成,成本较低,可控制性强,有利于MAX相涂层低温制备和多领域应用。
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公开(公告)号:CN106567049B
公开(公告)日:2019-01-15
申请号:CN201610882869.2
申请日:2016-10-10
Applicant: 中国科学院宁波材料技术与工程研究所
Abstract: 本发明公开了一种MAX相陶瓷涂层,此涂层组成为V2AlxC2‑x,x=0.7~1.5,涂层为柱状晶生长结构,每一个柱状晶由一层Al原子层和两层V原子层交替排列形成,且C原子层位于两层V原子层之间,涂层密度为4.5~5.2g/cm3。本发明还公开了所述MAX相陶瓷涂层的制备方法,采用双靶磁控溅射法并辅助射频叠加中频的电源施加方式,在制备温度为550~650℃的情况下,在非晶基体上非外延生长出所述MAX相陶瓷涂层。该制备条件下获得的V2AlxC2‑x涂层纯度达到了99.9%,涂层硬度在13~16GPa。此方法一步合成,成本较低,可控制性强,有利于MAX相涂层低温制备和多领域应用。
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