公开(公告)号：CN103278507A

公开(公告)日：2013-09-04

申请号：CN201310174323.8

申请日：2013-05-13

Applicant: 中国科学院半导体研究所

Inventor： 武树杰 ,  陈涌海 ,  刘雨 ,  高寒松 ,  俞金玲

IPC: G01N21/84 ,  G01N21/17

Abstract: 本发明公开了一种测量半导体材料弹光系数的装置及方法，该装置沿光路依次包括光源、斩波器、起偏器、相位调制器、检偏器、光谱仪、光电探测器、信号采集系统和计算机控制系统，光源发出的光经过斩波器后变成强度周期性调制的光、经过起偏器后变成线偏振光，线偏振光经过相位调制器后照在样品上，确保近垂直入射，反射光经过检偏器后经过光谱仪最后被光电探测器接收，通过信号采集系统利用计算机控制系统进行控制和数据采集。本发明采用反射差分光谱，对样品施加连续可调的单轴应变；根据半导体材料平面内两个互相垂直的晶向反射系数的差异，从而得到折射率和吸收系数差异；利用晶体弹光系数矩阵和施加的单轴应变，得到弹光系数随光波波长的变化。

公开(公告)号：CN103809101A

公开(公告)日：2014-05-21

申请号：CN201410050256.3

申请日：2014-02-13

Applicant: 中国科学院半导体研究所

Inventor： 朱来攀 ,  陈涌海 ,  刘雨 ,  俞金玲 ,  蒋崇云

IPC: G01R31/265

Abstract: 一种光致反常霍尔效应的变温测量系统，包括：一激光光源；一信号采集系统用于对采集的信号进行处理，得到圆偏振自旋相关反常霍尔光电流；一光学斩波器置于激光光源的光路上，并与信号采集系统相连；一光学起偏器位于该光学斩波器的光路上，用于控制激光的偏振方向；一光弹性调制器置于光学起偏器的光路上，并与信号采集系统相连；一光学凸透镜位于光弹性调制器的光路上，用于调整激光光斑打到样品表面的大小；一变温液氮杜瓦样品座于光学凸透镜的光路上，并与信号采集系统相连；一直流电压源用于给变温液氮杜瓦样品座中的待测样品施加外电压；一直流电流源在测量普通光电流时提供直流电流。