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公开(公告)号：CN114295572B
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202111255077.X
申请日：2021-10-27
Applicant: 中国科学院光电技术研究所 , 国网江苏省电力有限公司检修分公司
Abstract: 一种中红外光谱分析仪分析前置光学系统移动结构，包括分析仪本体，转动机构，清洁机构和喷水机构；分析仪本体的顶部靠近一侧边缘处固定连接有固定板，固定板的一侧外表面嵌设有显示屏，分析仪本体的顶部固定连接有安装箱，转动机构包括调节部件、机械臂、连接头和两个调节头，通过安装电机转动带动转动板转动，使水管摆动使喷头喷洒更均匀，同时通过固定电机转动，从而移使移动块移移动带动清洁杆移动，同时通过移动块的移动带动清洁杆转动，可对清洁杆对调节头和连接头进行清洗，保持中红外光谱分析仪分析前置光学系统移动结构的清洁，通过机械臂调节连接头和调节头的位置，方便使用者使用调节红外光谱分析仪前置光学系统移动结构。
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公开(公告)号：CN114295572A
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202111255077.X
申请日：2021-10-27
Applicant: 中国科学院光电技术研究所 , 国网江苏省电力有限公司检修分公司
Abstract: 一种中红外光谱分析仪分析前置光学系统移动结构，包括分析仪本体，转动机构，清洁机构和喷水机构；分析仪本体的顶部靠近一侧边缘处固定连接有固定板，固定板的一侧外表面嵌设有显示屏，分析仪本体的顶部固定连接有安装箱，转动机构包括调节部件、机械臂、连接头和两个调节头，通过安装电机转动带动转动板转动，使水管摆动使喷头喷洒更均匀，同时通过固定电机转动，从而移使移动块移移动带动清洁杆移动，同时通过移动块的移动带动清洁杆转动，可对清洁杆对调节头和连接头进行清洗，保持中红外光谱分析仪分析前置光学系统移动结构的清洁，通过机械臂调节连接头和调节头的位置，方便使用者使用调节红外光谱分析仪前置光学系统移动结构。
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公开(公告)号：CN115183657A
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN202210816527.6
申请日：2022-07-12
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种水平仪结合气浮桥板非接触测量平板面形的装置和方法，其中，采用可调气浮桥板作为水平仪的辅助工具测量平板面形误差；首先对气浮桥板输入固定大小气压，使气浮模块工作表面输出稳定的高压气流浮动于被测表面上，然后采用标尺定位装置带动气浮桥板在被测表面上直线移动实现非接触测量，最后记录桥板上水平仪读数值分析被测表面面形误差；本发明方法实施过程中能将测量轴线始终沿基准标线移动，具有良好的重合度及跨距定位精度；气浮面在工作状态下与被测面无接触与摩擦，可有效保护表面磕碰磨损，大大降低操作员疲劳强度，同时减少了环境因素对测量结果的影响。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119687789A
公开(公告)日：2025-03-25
申请号：CN202411905440.1
申请日：2024-12-23
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明为公开了一种零部件大跨距螺孔位置与刮研平面度的在位测量方法，属于测量领域。本方法是通过制作复合式靶座，作为激光跟踪仪测量靶座，通过复合式靶座上端3处定位球固定球形角锥镜，同时保证角锥镜球心与下端螺纹杆同心，利用激光跟踪仪结合复合式靶座测量并分析螺孔位置度；取下螺纹杆利用复合式靶座底部与刮研面接触完成刮研平面度测量。本发明方法能确保球形角锥镜重复放置旋转时都具有良好的定心及重复性精度，并且靶座可更换不同规格螺纹杆，适用不同规格的螺纹孔快速检测。同时不受刮研点子影响平面度测量，能有效保护被测表面，具有效率高、结构简单、易实现、成本低等特点。
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公开(公告)号：CN117213369A
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202311320805.X
申请日：2023-10-12
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于激光跟踪仪结合机械臂在位测量光学元件面形的方法，利用机械臂牵引气浮靶标通过激光跟踪仪在位测量光学元件面形。首先将气浮靶标与机械臂结合，然后使用机械臂带动气浮靶标非接触于光学元件表面，通过机械臂运行程序，带动气浮靶标按规划路径在学元件表面上气浮滑动，此时通过激光跟踪仪在位扫描测量气浮靶标球坐标点，最后通过拟合分析获取光学表面面形轮廓信息。本发明将气浮靶标牵引与测量过程自动化，可恒定牵引速度，协助激光跟踪仪快速定位扫描测量，能有效降低人员操作误差，提高测量效率及准确性。
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公开(公告)号：CN115183657B
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202210816527.6
申请日：2022-07-12
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明涉及一种水平仪结合气浮桥板非接触测量平板面形的装置和方法，其中，采用可调气浮桥板作为水平仪的辅助工具测量平板面形误差；首先对气浮桥板输入固定大小气压，使气浮模块工作表面输出稳定的高压气流浮动于被测表面上，然后采用标尺定位装置带动气浮桥板在被测表面上直线移动实现非接触测量，最后记录桥板上水平仪读数值分析被测表面面形误差；本发明方法实施过程中能将测量轴线始终沿基准标线移动，具有良好的重合度及跨距定位精度；气浮面在工作状态下与被测面无接触与摩擦，可有效保护表面磕碰磨损，大大降低操作员疲劳强度，同时减少了环境因素对测量结果的影响。
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公开(公告)号：CN117213368A
公开(公告)日：2023-12-12
申请号：CN202311320447.2
申请日：2023-10-12
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种基准镜对主镜光轴垂直的在位检测与调试方法，本发明方法利用激光跟踪仪在位测量主镜与基准镜的几何参数信息，并通过远程调试使其光轴垂直达到要求。首先将4个靶标安装到基准镜上，激光跟踪仪安装到主镜与基准镜之间，使用激光跟踪仪测量主镜环口平面，主镜外圆与边缘直线，建立笛卡尔工件坐标系确定主镜光轴；最后使用激光跟踪仪测量基准镜上的4处靶标，分析基准镜相对主镜光轴的平移量和倾斜量，并调试直至光轴垂直即可。本发明解决了基准镜与主镜光轴垂直的在位检测与调试方法。
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公开(公告)号：CN115235383A
公开(公告)日：2022-10-25
申请号：CN202210873659.2
申请日：2022-07-21
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
Abstract: 本发明公开了一种空间十字导轨正交性的检测与调试方法，本发明是借助激光跟踪仪首先测量基准面建立坐标系，测量A、B导轨并调试导轨的直线度与基准面平行；然后利用激光跟踪仪测量A、B导轨运动范围内的空间坐标点拟合XY平面，移动A、B导轨至中心形成正交，利用激光跟踪仪测量A、B导轨运动范围直线并拟合A、B导轨直线度和十字交点，通过XY平面、十字交点、A直线建立空间坐标系，根据实时位置坐标调节B导轨相对A导轨的正交直至达到要求，最后进行复验。本发明借助激光跟踪仪的空间测量精度，对十字双导轨在空间的正交关系进行在位检测与调试，其检测精度较高、操作便捷。
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