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公开(公告)号：CN113030709A
公开(公告)日：2021-06-25
申请号：CN202110367795.X
申请日：2021-04-06
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种超导高频测试系统和方法，先接收触发脉冲信号，输出周期性的高频时钟信号；对高频时钟信号的连断性进行控制，输出高频控制时钟信号；接收初始信号为线性反馈移位寄存器设置非零初始状态，基于高频控制时钟信号同时输出多路预设周期长度的周期性的伪随机序列；待测电路接收多路伪随机序列，输出多路测试信号；接收所述多路测试信号，基于低频时钟信号输出多路转换信号；将多路转换信号与预期的输出结果进行对比，确定待测电路是否正常工作。本发明电路结构相对比较简单；输入信号是基于线性反馈移位寄存器生成的伪随机序列，可以实现持续性的高频测试，更符合待测电路的实际工作情况。
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公开(公告)号：CN113098435B
公开(公告)日：2024-06-18
申请号：CN202110367341.2
申请日：2021-04-06
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H03H9/72 , G01R31/3181
Abstract: 本发明提供一种超导高频降频模块和方法，接收高频时钟信号，将所述高频时钟信号转换成降频时钟子信号和二倍时钟信号，基于二倍时钟信号进行复位，对测试信号进行周期性选择抽样，从而将所述测试信号转换为降频测试信号；本发明还提供一种超导高频测试系统和方法基于线性反馈移位寄存器进行实现；本发明的电路结构相对比较简单；可以实现持续性的高频测试，更符合待测电路的实际工作情况；数据降频系统通过对输出的GHz级别的高频信号进行降频处理，将频率降低到KHz级别，可以直接输出，简化了整个测试系统。
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公开(公告)号：CN113447795A
公开(公告)日：2021-09-28
申请号：CN202110716594.6
申请日：2021-06-28
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种超导单磁通量子电路的测试系统及方法，包括：至少两部分待测电路，及与各待测电路一一对应的偏置参考电路；各待测电路依次连接，后级待测电路的输入端连接前级待测电路的输出端；各待测电路与对应的偏置参考电路接收同一偏置信号，通过所述偏置参考电路的输出信号调整对应偏置信号。本发明的超导单磁通量子电路的测试系统及方法单输入单输出，测试较为快捷方便，且有一定的复杂度，比较容易测出偏置信号但又不至于使得偏置信号的工作范围太大而没有参考意义；本发明为大规模电路的测试的偏置调节提供了参考，能极大地提高测试效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN113098435A
公开(公告)日：2021-07-09
申请号：CN202110367341.2
申请日：2021-04-06
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: H03H9/72 , G01R31/3181
Abstract: 本发明提供一种超导高频降频模块和方法，接收高频时钟信号，将所述高频时钟信号转换成降频时钟子信号和二倍时钟信号，基于二倍时钟信号进行复位，对测试信号进行周期性选择抽样，从而将所述测试信号转换为降频测试信号；本发明还提供一种超导高频测试系统和方法基于线性反馈移位寄存器进行实现；本发明的电路结构相对比较简单；可以实现持续性的高频测试，更符合待测电路的实际工作情况；数据降频系统通过对输出的GHz级别的高频信号进行降频处理，将频率降低到KHz级别，可以直接输出，简化了整个测试系统。
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公开(公告)号：CN113447795B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202110716594.6
申请日：2021-06-28
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种超导单磁通量子电路的测试系统及方法，包括：至少两部分待测电路，及与各待测电路一一对应的偏置参考电路；各待测电路依次连接，后级待测电路的输入端连接前级待测电路的输出端；各待测电路与对应的偏置参考电路接收同一偏置信号，通过所述偏置参考电路的输出信号调整对应偏置信号。本发明的超导单磁通量子电路的测试系统及方法单输入单输出，测试较为快捷方便，且有一定的复杂度，比较容易测出偏置信号但又不至于使得偏置信号的工作范围太大而没有参考意义；本发明为大规模电路的测试的偏置调节提供了参考，能极大地提高测试效率。
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公开(公告)号：CN113295987B
公开(公告)日：2022-07-08
申请号：CN202110758244.6
申请日：2021-07-05
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种超导单磁通量子电路的测试系统，在设计好的电路进行制版流片时，将该选片电路与待测电路放置在同一个芯片上，在测试时，就可以先对选片电路进行一个快速的测试，得到选片电路的测试结果，这样就可以反映出这一个芯片的质量，从而测试人员可以根据选片电路的测试结果来选择芯片质量较好的电路进行待测电路的测试，来节约测试电路所用的时间。本发明设计了三种不同的选片电路，分别对应了不同的电路测试难度，来应对不同的工艺或待测电路的需要。本发明的电路仅需要三个端口连接；电路测试简单快捷；电路规模较小；电路复杂度可调。
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公开(公告)号：CN113030709B
公开(公告)日：2022-06-24
申请号：CN202110367795.X
申请日：2021-04-06
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种超导高频测试系统和方法，先接收触发脉冲信号，输出周期性的高频时钟信号；对高频时钟信号的连断性进行控制，输出高频控制时钟信号；接收初始信号为线性反馈移位寄存器设置非零初始状态，基于高频控制时钟信号同时输出多路预设周期长度的周期性的伪随机序列；待测电路接收多路伪随机序列，输出多路测试信号；接收所述多路测试信号，基于低频时钟信号输出多路转换信号；将多路转换信号与预期的输出结果进行对比，确定待测电路是否正常工作。本发明电路结构相对比较简单；输入信号是基于线性反馈移位寄存器生成的伪随机序列，可以实现持续性的高频测试，更符合待测电路的实际工作情况。
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公开(公告)号：CN113295987A
公开(公告)日：2021-08-24
申请号：CN202110758244.6
申请日：2021-07-05
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
IPC: G01R31/28
Abstract: 本发明提供一种超导单磁通量子电路的测试系统，在设计好的电路进行制版流片时，将该选片电路与待测电路放置在同一个芯片上，在测试时，就可以先对选片电路进行一个快速的测试，得到选片电路的测试结果，这样就可以反映出这一个芯片的质量，从而测试人员可以根据选片电路的测试结果来选择芯片质量较好的电路进行待测电路的测试，来节约测试电路所用的时间。本发明设计了三种不同的选片电路，分别对应了不同的电路测试难度，来应对不同的工艺或待测电路的需要。本发明的电路仅需要三个端口连接；电路测试简单快捷；电路规模较小；电路复杂度可调。
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