垂直结构硅基量子点发光器件的衬底转移方法

    公开(公告)号:CN113130715A

    公开(公告)日:2021-07-16

    申请号:CN202110407456.X

    申请日:2021-04-15

    Abstract: 本发明提供一种垂直结构硅基量子点发光器件的衬底转移方法,包括步骤:提供GaAs衬底,于GaAs衬底上生长外延层,外延层包括GaAs缓冲层、AlAs牺牲层和InAs量子点发光器件;提供硅衬底,形成BCB树脂材料层;进行烘烤,待烘烤后的硅衬底冷却后,将硅衬底和形成有外延层的GaAs衬底键合得到键合片,其中,BCB树脂材料层的表面和所InAs量子点发光器件的表面为键合面;将键合片置于惰性气体氛围下,对BCB树脂材料层进行固化;对键合片进行选择性刻蚀,以去除AlAs牺牲层,由此将InAs量子点发光器件转移至硅衬底上。本发明利用外延层剥离转移的方法,实现GaAs基InAs量子点发光器件与硅基材料在同一晶片上的异质集成,且制备工艺简单,不易损伤外延半导体器件结构。

    垂直结构硅基量子点发光器件的衬底转移方法

    公开(公告)号:CN113130715B

    公开(公告)日:2022-09-02

    申请号:CN202110407456.X

    申请日:2021-04-15

    Abstract: 本发明提供一种垂直结构硅基量子点发光器件的衬底转移方法,包括步骤:提供GaAs衬底,于GaAs衬底上生长外延层,外延层包括GaAs缓冲层、AlAs牺牲层和InAs量子点发光器件;提供硅衬底,形成BCB树脂材料层;进行烘烤,待烘烤后的硅衬底冷却后,将硅衬底和形成有外延层的GaAs衬底键合得到键合片,其中,BCB树脂材料层的表面和所InAs量子点发光器件的表面为键合面;将键合片置于惰性气体氛围下,对BCB树脂材料层进行固化;对键合片进行选择性刻蚀,以去除AlAs牺牲层,由此将InAs量子点发光器件转移至硅衬底上。本发明利用外延层剥离转移的方法,实现GaAs基InAs量子点发光器件与硅基材料在同一晶片上的异质集成,且制备工艺简单,不易损伤外延半导体器件结构。

    一种可单片集成的低损耗硅基激光器及其制备方法

    公开(公告)号:CN114914790A

    公开(公告)日:2022-08-16

    申请号:CN202210324696.8

    申请日:2022-03-30

    Abstract: 本发明涉及一种可单片集成的低损耗硅基激光器及其制备方法,由下至上包括:SOI基片的硅衬底、二氧化硅绝缘层、顶层本征硅、锗薄膜层构成的衬底、缓冲层、下接触层、量子点或量子阱有源区、上覆盖层及上接触层构成的III‑V激光器,和氮化硅波导。本发明通过电泵浦或光泵浦方式产生激光输出,出射激光与SOI上的氮化硅波导直接对准,从而获得很高的耦合效率;器件结构紧凑、信号激光与波导耦合损耗低,可以实现与CMOS工艺兼容的SOI基片上制备量子点或者量子阱激光器,适合于硅基光电集成缺少核心光源的研制,具有广泛的应用前景。

    一种基于3μm SOI的集成硅基激光器及其制备方法

    公开(公告)号:CN114914789A

    公开(公告)日:2022-08-16

    申请号:CN202210324690.0

    申请日:2022-03-30

    Abstract: 本发明涉及一种基于3μm SOI的集成硅基激光器及其制备方法,由下至上包括:SOI基片的硅衬底、二氧化硅绝缘层、顶层本征硅、锗薄膜层、n型InP缓冲层、n型InP下接触层、AlGaInAs量子阱有源区、p型InP覆盖层和p型InGaAs上接触层,以及由顶层本征硅衬底刻蚀的硅波导。本发明通过在硅衬底上外延锗再生长InP材料,再制备AlGaInAs量子阱激光器,可以实现与硅波导的高效耦合,也可以同时加工多个激光器,有利于实现大规模光电集成。

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