公开(公告)号：CN105067528A

公开(公告)日：2015-11-18

申请号：CN201510428561.6

申请日：2015-07-20

申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所

发明人： 王俊 ,  李源鑫 ,  董宁宁 ,  张赛锋

IPC分类号： G01N21/17 ,  G01N21/41

摘要： 本发明是将非线性强度扫描和共焦显微成像集成在一起的，用于测量样品的非线性光学性质，并能测绘样品微区非线性光学系数的二维空间分布的光学测量系统。本发明可以用于样品的二维微区的非线性光学性质的测绘，尤其适用于不均匀样品微区或者微观样品的非线性性质的测量。本系统可以同时测量样品的非线性吸收和非线性折射性质，采用自动化测量，具有快速、高效和灵敏的特点。

公开(公告)号：CN106872415A

公开(公告)日：2017-06-20

申请号：CN201710058510.8

申请日：2017-01-23

申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所

发明人： 王俊 ,  王磊 ,  张赛锋 ,  李源鑫

IPC分类号： G01N21/59

CPC分类号： G01N21/59

摘要： 一种结合显微成像的多波长样品光限幅性能的测量装置，包括飞秒激光器、OPA装置、镀膜全反镜Ⅱ、光阑Ⅰ、光阑Ⅱ、安装在电动旋转台上的格兰泰勒棱镜Ⅰ、格兰泰勒棱镜Ⅱ、镀膜全反射镜、照明光源、分束镜Ⅰ、镀膜全反射镜Ⅳ、分束镜Ⅱ、聚焦透镜Ⅰ、能量计Ⅰ、聚焦物镜、收集物镜、分束镜Ⅲ、聚焦透镜Ⅱ、能量计Ⅱ、CCD和计算机。本发明实现样品宽谱光限幅特性测量，且可以观察到光限幅样品表面形貌，入射激光的光斑尺寸以及激光照射后的样品损伤情况，具有自动测量，调节灵活方便，测试动态范围宽，响应速度高效灵敏的特点。

公开(公告)号：CN103952682A

公开(公告)日：2014-07-30

申请号：CN201410161330.9

申请日：2014-04-22

申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所

发明人： 王俊 ,  李源鑫

IPC分类号： C23C16/30 ,  C23C16/44 ,  C30B25/02 ,  C30B29/46

摘要： 一种化学气相沉积生长单层二硫化钼的方法，该方法包括生长衬底实施植入种子的预处理，前驱体预处理，准备生长、生长、得到单层二硫化钼单晶以及连续的二硫化钼单层膜等步骤。该方法制备单层二硫化钼具有样品质量高、面积大以及重复性好等特点。

公开(公告)号：CN105067528B

公开(公告)日：2017-12-01

申请号：CN201510428561.6

申请日：2015-07-20

申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所

发明人： 王俊 ,  李源鑫 ,  董宁宁 ,  张赛锋

IPC分类号： G01N21/17 ,  G01N21/41

摘要： 本发明是将非线性强度扫描和共焦显微成像集成在一起的，用于测量样品的非线性光学性质，并能测绘样品微区非线性光学系数的二维空间分布的光学测量系统。本发明可以用于样品的二维微区的非线性光学性质的测绘，尤其适用于不均匀样品微区或者微观样品的非线性性质的测量。本系统可以同时测量样品的非线性吸收和非线性折射性质，采用自动化测量，具有快速、高效和灵敏的特点。