- 专利标题： 二维共焦显微非线性强度扫描系统和测量方法
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申请号： CN201510428561.6申请日： 2015-07-20
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公开(公告)号： CN105067528B公开(公告)日： 2017-12-01
- 发明人: 王俊 , 李源鑫 , 董宁宁 , 张赛锋
- 申请人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 申请人地址： 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱
- 专利权人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 当前专利权人： 中国科学院上海光学精密机械研究所
- 当前专利权人地址： 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱
- 代理机构： 上海新天专利代理有限公司
- 代理商 张泽纯; 张宁展
- 主分类号： G01N21/17
- IPC分类号： G01N21/17 ; G01N21/41
摘要：
本发明是将非线性强度扫描和共焦显微成像集成在一起的，用于测量样品的非线性光学性质，并能测绘样品微区非线性光学系数的二维空间分布的光学测量系统。本发明可以用于样品的二维微区的非线性光学性质的测绘，尤其适用于不均匀样品微区或者微观样品的非线性性质的测量。本系统可以同时测量样品的非线性吸收和非线性折射性质，采用自动化测量，具有快速、高效和灵敏的特点。
公开/授权文献
- CN105067528A 二维共焦显微非线性强度扫描系统和测量方法 公开/授权日：2015-11-18
