公开(公告)号：CN114089331B

公开(公告)日：2024-05-14

申请号：CN202111297431.5

申请日：2021-11-04

Applicant: 中国电波传播研究所(中国电子科技集团公司第二十二研究所)

Inventor： 郑容秋 ,  王世凯 ,  丁淑娟 ,  李强 ,  徐小权 ,  孙广俊 ,  齐东玉

IPC: G01S13/88 ,  G01S7/41

Abstract: 本发明公开了一种电离层不均匀等离子体的漂移测量方法，包括如下步骤：步骤1，电离层扫频探测；步骤2，根据扫频电离图参数确定定频探测的频率；步骤3，接收端采用边长为60米的正三角形接收阵列得到其他通道与基准通道的频率响应系数；步骤4，对选出的8个定频频率进行定频探测，得到各个散射点的方位角、天顶角及其漂移速度。本发明所公开电离层不均匀等离子体的漂移测量方法，采用传统波束合成的方法对电离层不均匀等离子体进行漂移测量，可以避免用干涉仪测量时因存在相位模糊导致的测向模糊，测量不均匀等离子体的方位角和天顶角更加准确。

公开(公告)号：CN114089331A

公开(公告)日：2022-02-25

申请号：CN202111297431.5

申请日：2021-11-04

Applicant: 中国电波传播研究所(中国电子科技集团公司第二十二研究所)

Inventor： 郑容秋 ,  王世凯 ,  丁淑娟 ,  李强 ,  徐小权 ,  孙广俊 ,  齐东玉

IPC: G01S13/88 ,  G01S7/41

Abstract: 本发明公开了一种电离层不均匀等离子体的漂移测量方法，包括如下步骤：步骤1，电离层扫频探测；步骤2，根据扫频电离图参数确定定频探测的频率；步骤3，接收端采用边长为60米的正三角形接收阵列得到其他通道与基准通道的频率响应系数；步骤4，对选出的8个定频频率进行定频探测，得到各个散射点的方位角、天顶角及其漂移速度。本发明所公开电离层不均匀等离子体的漂移测量方法，采用传统波束合成的方法对电离层不均匀等离子体进行漂移测量，可以避免用干涉仪测量时因存在相位模糊导致的测向模糊，测量不均匀等离子体的方位角和天顶角更加准确。