一种电离层不均匀等离子体的漂移测量方法

    公开(公告)号:CN114089331B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202111297431.5

    申请日:2021-11-04

    Abstract: 本发明公开了一种电离层不均匀等离子体的漂移测量方法,包括如下步骤:步骤1,电离层扫频探测;步骤2,根据扫频电离图参数确定定频探测的频率;步骤3,接收端采用边长为60米的正三角形接收阵列得到其他通道与基准通道的频率响应系数;步骤4,对选出的8个定频频率进行定频探测,得到各个散射点的方位角、天顶角及其漂移速度。本发明所公开电离层不均匀等离子体的漂移测量方法,采用传统波束合成的方法对电离层不均匀等离子体进行漂移测量,可以避免用干涉仪测量时因存在相位模糊导致的测向模糊,测量不均匀等离子体的方位角和天顶角更加准确。

    一种电离层不均匀等离子体的漂移测量方法

    公开(公告)号:CN114089331A

    公开(公告)日:2022-02-25

    申请号:CN202111297431.5

    申请日:2021-11-04

    Abstract: 本发明公开了一种电离层不均匀等离子体的漂移测量方法,包括如下步骤:步骤1,电离层扫频探测;步骤2,根据扫频电离图参数确定定频探测的频率;步骤3,接收端采用边长为60米的正三角形接收阵列得到其他通道与基准通道的频率响应系数;步骤4,对选出的8个定频频率进行定频探测,得到各个散射点的方位角、天顶角及其漂移速度。本发明所公开电离层不均匀等离子体的漂移测量方法,采用传统波束合成的方法对电离层不均匀等离子体进行漂移测量,可以避免用干涉仪测量时因存在相位模糊导致的测向模糊,测量不均匀等离子体的方位角和天顶角更加准确。

    一种新体制电离层测高仪

    公开(公告)号:CN106772339A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201610990762.X

    申请日:2016-11-10

    CPC classification number: G01S13/08

    Abstract: 本发明公开了一种新体制电离层测高仪,所述的测高仪包括收发共用天线、快速收发转换开关、接收通道、发射通道、定时器、时统控制器、信号处理及显控终端、电源;其中快速收发转换开关根据定时器的定时信号进行收发共用天线的接收、发射切换,当发射状态时,发射通道输出的大功率探测信号接入收发共用天线,当接收状态时,收发共用天线的回波信号馈入接收通道;时统控制器为定时器提供同步秒脉冲和高稳定时钟,并通过网络对信号处理及显控终端进行授时。本发明所公开的新体制电离层测高仪,利用快速收发转换开关,使接收、发射通道共用一副正交Delta天线进行电离层垂直探测,探测信号采用20位互补码,在产生探测信号时,采用滤波技术有效降低带外杂散。

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