一种电离层不均匀等离子体的漂移测量方法

    公开(公告)号:CN114089331B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202111297431.5

    申请日:2021-11-04

    Abstract: 本发明公开了一种电离层不均匀等离子体的漂移测量方法,包括如下步骤:步骤1,电离层扫频探测;步骤2,根据扫频电离图参数确定定频探测的频率;步骤3,接收端采用边长为60米的正三角形接收阵列得到其他通道与基准通道的频率响应系数;步骤4,对选出的8个定频频率进行定频探测,得到各个散射点的方位角、天顶角及其漂移速度。本发明所公开电离层不均匀等离子体的漂移测量方法,采用传统波束合成的方法对电离层不均匀等离子体进行漂移测量,可以避免用干涉仪测量时因存在相位模糊导致的测向模糊,测量不均匀等离子体的方位角和天顶角更加准确。

    一种电离层不均匀等离子体的漂移测量方法

    公开(公告)号:CN114089331A

    公开(公告)日:2022-02-25

    申请号:CN202111297431.5

    申请日:2021-11-04

    Abstract: 本发明公开了一种电离层不均匀等离子体的漂移测量方法,包括如下步骤:步骤1,电离层扫频探测;步骤2,根据扫频电离图参数确定定频探测的频率;步骤3,接收端采用边长为60米的正三角形接收阵列得到其他通道与基准通道的频率响应系数;步骤4,对选出的8个定频频率进行定频探测,得到各个散射点的方位角、天顶角及其漂移速度。本发明所公开电离层不均匀等离子体的漂移测量方法,采用传统波束合成的方法对电离层不均匀等离子体进行漂移测量,可以避免用干涉仪测量时因存在相位模糊导致的测向模糊,测量不均匀等离子体的方位角和天顶角更加准确。

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