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公开(公告)号：CN118631327A
公开(公告)日：2024-09-10
申请号：CN202410466640.5
申请日：2024-04-18
申请人： 中国电子科技集团公司第十研究所
IPC分类号： H04B10/079 , H04J14/02
摘要： 本发明公开了一种射频仪器远程调用共享系统，包括1个仪器资源管理工位以及若干测试执行工位；仪器资源管理工位包括：资源管理设备、若干测试仪器、射频/光纤转化终端A、光切换矩阵和交换机；测试执行工位包括：测试主控设备、射频/光纤转化终端B、测试单元DUT，由测试主控设备完成相应测试单元DUT的控制；各测试仪器、射频/光纤转化终端A、光切换矩阵、测试主控设备分别经交换机与资源管理设备连接；测试仪器分别与射频/光纤转化终端A相连，并经光切换矩阵与各测试执行工位的射频/光纤转化终端B相连，所述射频/光纤转化终端B与相应测试单元DUT相连；资源管理设备通过实时调度各测试资源，完成各测试执行工位的并行测试。
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公开(公告)号：CN117473097A
公开(公告)日：2024-01-30
申请号：CN202311319139.8
申请日：2023-10-12
申请人： 西南交通大学 , 中国电子科技集团公司第十研究所
IPC分类号： G06F16/36 , G06V30/41 , G06V30/19 , G06Q10/0639 , G05B19/418
摘要： 本发明公开了电子产品调试工艺路线推荐方法、装置、设备及介质，该方法应用本体构建知识，提取电子产品调试工艺路线的特征属性，构建了电子产品调试工艺路线的本体模型，将产品属性分为文本类型属性、数值类型属性和符号类型属性，通过知识图谱嵌入将文本类型属性用低维向量表示，分别计算三种属性相似度，并加权计算全局相似度，作为工艺路线相似度的计算结果，得出了电子产品的调试工艺路线。本发明可以推荐出有效的调试工艺路线，为新电子产品的调试工艺路线构建提供了很好的借鉴，并缩短了构建成本。
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公开(公告)号：CN115658736A
公开(公告)日：2023-01-31
申请号：CN202211277896.9
申请日：2022-10-19
申请人： 中国电子科技集团公司第十研究所
IPC分类号： G06F16/2455 , G06F16/23
摘要： 本发明提供一种自动生成ATS硬件配置的方法，属于自动测试系统技术领域，改善了现有的ATS硬件配置采用人工设计及编写代码方式中的缺点；包括如下步骤：S1、建立模块化硬件信息库；S2、建立硬件匹配计算规则库；S3、录入ATS被测产品的接口需求；S4、运行规则匹配执行器，生成ATS硬件配置；通过格式、规则信息的规定和筛选，将设计硬件配置的过程简化和自动化，将数据、规则和代码三者分离，建立硬件信息库和规则库，在输入需求后，利用规则匹配执行器得到结果，从而实现ATS硬件配置的自动生成；本发明方法可简化ATS硬件的设计过程，提高自动测试系统的硬件设计效率，有利于测试自动化的普及。
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公开(公告)号：CN115437927A
公开(公告)日：2022-12-06
申请号：CN202211011431.9
申请日：2022-08-23
申请人： 中国电子科技集团公司第十研究所
IPC分类号： G06F11/36
摘要： 本发明公开了一种电子产品数字化调试工艺产品模型的构建方法，包括以下步骤：S1、明确编制调试工艺所需的产品调试需求信息，并明确调试工艺内容中涉及到的产品信息，并进行分类；S2、根据调试工艺编制需求，确定各类产品信息要素，明确各类信息要素及其内容；S3、利用软件技术对信息要素进行产品模型构建，并直观的展示产品各类信息，供编制电子产品数字化调试工艺使用；S4、在产品模型的基础上，根据调试工艺编制需要，构建新的产品模型，完善产品信息；S5、从产品模型中提取产品结构化信息，实现电子产品数字化调试工艺编制需求。为数字化调试工艺编制提供统一、标准的产品调试需求描述方式。
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公开(公告)号：CN115292192A
公开(公告)日：2022-11-04
申请号：CN202211009372.1
申请日：2022-08-22
申请人： 中国电子科技集团公司第十研究所
IPC分类号： G06F11/36
摘要： 本发明公开了一种电子产品数字化调试工艺仪器模型构建方法，该方法包括提取编制数字化调试工艺所需的仪器信息；根据目标电子产品的调试工艺编制需求，为仪器信息匹配对应的仪器信息要素，构建目标电子产品对应的仪器模型；在编制数字化调试时，提取仪器模型中的结构化信息，生成数字化调试工艺文件，并将数字化调试工艺文件发送至自动测试系统，以对目标电子产品执行数字化调试。本发明通过将数字化调试工艺内容中有关的仪器操作信息进行分类，构建仪器模型，将仪器信息进行结构化表达，利用软件技术以数字化的形式呈现给调试工艺编制者，编制者在编制调试工艺仪器操作部分时，无需再通过文本输入的方式进行，可通过软件技术实现数字化编制。
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公开(公告)号：CN109460351B
公开(公告)日：2021-08-10
申请号：CN201811134545.6
申请日：2018-12-16
IPC分类号： G06F11/36
摘要： 本发明公开的一种运行ATS软件平台调试电子产品工艺脚本的方法，旨在提供一种编写效率高，软件开发成本低，减少人工的参与的调试工艺脚本的方法。本发明通过下述技术方案予以实现：采用面向对象的方法开发通用操作的对象和调用接口，形成通用操作的中文关键字集合，按照调试工艺框架编写调试工艺脚本，通过迭代完善调试工艺框架和调试工艺脚本；运行调试工艺脚本，加载工艺序列、测试项集合和底层驱动文件，按照操作分类解析工艺序列，将测试序列分解为一系列的通用操作序列，调用相应对象和接口函数，调用接口和底层，将调试工艺与自动测试系统融合，自动控制实物仪器和实物电子产品的工作参数，实现自动或半自动调试。
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公开(公告)号：CN109460351A
公开(公告)日：2019-03-12
申请号：CN201811134545.6
申请日：2018-12-16
IPC分类号： G06F11/36
摘要： 本发明公开的一种运行ATS软件平台调试电子产品工艺脚本的方法，旨在提供一种编写效率高，软件开发成本低，减少人工的参与的调试工艺脚本的方法。本发明通过下述技术方案予以实现：采用面向对象的方法开发通用操作的对象和调用接口，形成通用操作的中文关键字集合，按照调试工艺框架编写调试工艺脚本，通过迭代完善调试工艺框架和调试工艺脚本；运行调试工艺脚本，加载工艺序列、测试项集合和底层驱动文件，按照操作分类解析工艺序列，将测试序列分解为一系列的通用操作序列，调用相应对象和接口函数，调用接口和底层，将调试工艺与自动测试系统融合，自动控制实物仪器和实物电子产品的工作参数，实现自动或半自动调试。
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公开(公告)号：CN116303005A
公开(公告)日：2023-06-23
申请号：CN202310197402.4
申请日：2023-03-03
申请人： 中国电子科技集团公司第十研究所
IPC分类号： G06F11/36 , G06F9/451 , G06F3/0486 , G06F8/38 , G06F8/34
摘要： 本发明涉及数字化调试技术领域，公开了基于组件的电子产品数字化调试工艺的调试项目设计方法，明确调试工艺的调试项目内容及其设计过程，并对调试项目内容及其设计过程进行分类；再利用软件技术按类型构建可拖拽的组件库，将调试项目设计过程由文本化编辑转变为组件化设计。本发明解决了现有技术存在的通用性差、标准化程度低、难以便捷快速进行设计等问题。
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公开(公告)号：CN116048016A
公开(公告)日：2023-05-02
申请号：CN202211548027.5
申请日：2022-12-05
申请人： 中国电子科技集团公司第十研究所
IPC分类号： G05B19/418
摘要： 本发明公开了一种电子产品数字化调试工艺程序设计方法，包括以下步骤：S1、将设计端的产品属性、接口信息、调试流程、调试项目信息数字化处理，构建产品模型，将调试所需的仪器、工装的各类信息分类定义并进行数字化处理，构建仪器模型和工装模型，按照资源配置要求对仪器、工装进行配置；S2、通过进一步对工艺参数进行配置并按规则完成调试项目的设计，每个调试项目设计完成后进行实时验证，验证合格后进行调试序列设计、指标门限设计、数据导出定位设计；S3、通过验证系统对整体的调试工艺程序进行验证，经迭代优化后完成调试工艺程序的设计。
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公开(公告)号：CN116073918A
公开(公告)日：2023-05-05
申请号：CN202211719465.3
申请日：2022-12-30
申请人： 中国电子科技集团公司第十研究所
摘要： 本发明公开了射频路由自动生成方法，所述方法包括：录入所有的单项路由，所述单项路由包括仪器端、通路和开关通道；录入同时连接的待测产品数量；录入调试工艺所限定的约束条件；制定多项路由的表示方法，所述表示方法包括将多项路由分解后得到多条路径，并且将多条路径不能单独分开视为高执行优先级的约束条件；生成路由并计算新生成路由的性能。本发明将每一条测试通路划分为单独路径，设计将路径最优化的合并、拆分的方法，实现矩阵路由的自动生成。
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