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公开(公告)号:CN117453924A
公开(公告)日:2024-01-26
申请号:CN202311322775.6
申请日:2023-10-12
申请人: 西南交通大学 , 中国电子科技集团公司第十研究所
IPC分类号: G06F16/36 , G06V30/19 , G06V30/41 , G06Q10/0631 , G06Q10/0639
摘要: 本发明公开了电子产品调试工艺资源自动推荐方法、装置、设备及介质,该方法首先通过构建本体而后实例化形成知识图谱,再利用TransR模型得到资源仪器实体与关系实体映射到低维向量空间,得出资源仪器间语义相似度,然后根据协同过滤算法中的评分矩阵计算资源间的余弦相似度,最后将两者进行融合最终形成相似度矩阵并生成推荐结果。本发明能提高电子调试工艺的准确性和快速性,快速推荐出与工艺项目相匹配的资源仪器。
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公开(公告)号:CN117473097A
公开(公告)日:2024-01-30
申请号:CN202311319139.8
申请日:2023-10-12
申请人: 西南交通大学 , 中国电子科技集团公司第十研究所
IPC分类号: G06F16/36 , G06V30/41 , G06V30/19 , G06Q10/0639 , G05B19/418
摘要: 本发明公开了电子产品调试工艺路线推荐方法、装置、设备及介质,该方法应用本体构建知识,提取电子产品调试工艺路线的特征属性,构建了电子产品调试工艺路线的本体模型,将产品属性分为文本类型属性、数值类型属性和符号类型属性,通过知识图谱嵌入将文本类型属性用低维向量表示,分别计算三种属性相似度,并加权计算全局相似度,作为工艺路线相似度的计算结果,得出了电子产品的调试工艺路线。本发明可以推荐出有效的调试工艺路线,为新电子产品的调试工艺路线构建提供了很好的借鉴,并缩短了构建成本。
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