一种半导体激光器单发光点性能测试系统

    公开(公告)号:CN114674533A

    公开(公告)日:2022-06-28

    申请号:CN202210148210.X

    申请日:2022-02-17

    Abstract: 本发明提供了一种半导体激光器单发光点性能测试系统,属于激光器测试设备技术领域,包括位移平台、聚焦耦合结构、光纤接收器以及性能测试器,位移平台上设有与半导体激光器相对应的狭缝,狭缝用于半导体激光器上的单个发光点的光束穿过,聚焦耦合结构与狭缝相对应,用于对光束进行准直且压缩,光纤接收器设于聚焦耦合结构的焦点处,用于接收聚焦压缩后的光束,光纤接收器的光纤芯径尺寸大于经过压缩后的光束的光斑尺寸,性能测试器与光纤接收器相连接,用于测量和分析光束的性能指标。本发明提供的半导体激光器单发光点性能测试系统,各发光点的光束可以独立进行测试,提高了该测试系统的准确度。

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