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发明公开
PCB表面缺陷检测方法、装置、计算机设备和存储介质审中-实审

公开(公告)号：CN117557538A

公开(公告)日：2024-02-13

申请号：CN202311601865.9

申请日：2023-11-28

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 李泉洲 , 胡宁 , 蒋诗新 , 刘振国 , 郑清文

IPC: G06T7/00 , G06V10/774 , G06V10/764 , G06V10/40

Abstract: 本申请涉及一种PCB表面缺陷检测方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。方法包括：根据第一缺陷图像样本集以及每一缺陷图像样本的标注缺陷类型，对预设目标检测模型训练，直至预设目标检测模型收敛；将待检测PCB产品的待检测图像输入至收敛后的预设目标检测模型中，得到每一待检测图像对应的预测缺陷类型；将每一待检测图像以及对应的预测缺陷类型发送至云端，根据接收到的云端反馈的新权重值，更新预设目标检测模型。本申请通过构建边云协同系统，实现边云协同的模型训练机制，能够在实时检测系统的环境中实现模型参数的同步训练优化和模型权重的更新，实现模型性能在检测过程中的不断提升。

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