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公开(公告)号:CN118045642A
公开(公告)日:2024-05-17
申请号:CN202410192056.5
申请日:2024-02-21
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种电子元器件保护装置、系统、方法和计算机设备。该装置包括:气源、控制器、主路气管和至少一个支路气管;主路气管串联在气源与控制器之间,各支路气管一端连接控制器,另一端连接相应的待保护电子元器件;气源,用于产生压缩空气,并通过主路气管将压缩空气传输至控制器;控制器,用于对压缩空气进行温度调整,并将调整后的压缩空气通过各支路气管分别传输至相应的待保护电子元器件。该装置能够提高电子元器件保护效果,从而保证对电子产品的高加速寿命试验能够顺利开展。
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公开(公告)号:CN118150099A
公开(公告)日:2024-06-07
申请号:CN202410196115.6
申请日:2024-02-22
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01M7/08
Abstract: 本申请涉及一种跌落试验机检验方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取验证样品针对跌落试验机组中每个跌落试验机的加速度信息;验证样品针对跌落试验机的加速度信息,是指验证样品从跌落试验机上指定高度自由跌落至跌落面后加速度的信息;根据各加速度信息进行对比分析,得到跌落试验机组对应的检验结果,其中,验证样品的底部附着弹性物件,验证样品跌落至跌落面时验证样品的底部附着的弹性物件与跌落面接触,验证样品携带加速度采集设备,验证样品针对跌落试验机的加速度信息,是通过验证样品携带的加速度采集设备采集得到的。本方法通过验证样品上携带的加速度采集设备得到准确的检验结果,提高了各跌落试验机的检验准确度。
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公开(公告)号:CN117214392A
公开(公告)日:2023-12-12
申请号:CN202311385245.6
申请日:2023-10-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
IPC: G01N33/00
Abstract: 本申请涉及一种用于吹砂尘试验能力验证装置、吹砂尘试验能力验证系统及吹砂尘试验能力验证方法。该用于吹砂尘试验能力验证装置包括壳体和过滤件,壳体内部中空,壳体上开设有进气口与出气口;过滤件可拆卸地设置于壳体内,且过滤件位于进气口与出气口之间,通过获取用于吹砂尘试验能力验证装置在吹砂尘试验前后的变化,可方便、有效验证砂尘试验装置的吹砂尘试验能力。
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公开(公告)号:CN117213827A
公开(公告)日:2023-12-12
申请号:CN202311385249.4
申请日:2023-10-25
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种用于稳态加速度试验能力验证装置、稳态加速度试验能力验证系统及稳态加速度试验能力验证方法。用于稳态加速度试验能力验证装置包括测试模块和电气模块;测试模块用于设置在离心机上,测试模块包括盒体、传感件与配重块,传感件设置于盒体内部,传感件与盒体的底面连接,传感件与电气模块电连接;配重块设置于传感件的测试面;电气模块包括电压测量单元与供电单元,供电单元用于对传感件提供激励电压;电压测量单元用于测量传感件的输出电压,且显示输出电压。利用本申请的用于稳态加速度试验能力验证装置,能够方便、有效实现稳态加速度试验装置的试验能力的验证。
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公开(公告)号:CN111693798A
公开(公告)日:2020-09-22
申请号:CN202010378452.9
申请日:2020-05-07
Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
Abstract: 本申请涉及一种高低温试验能力验证测试盒及高低温试验能力测试方法。其中,高低温试验能力验证测试盒,包括:壳体;温度敏感元件,设置于壳体内部,用于测量壳体内部的温度;发热元件,设置于壳体内部,用于通电发热,使进行通电试验时壳体内部的温度发生变化。本发明提供一个作为试验样品的高低温试验能力验证测试盒,能够通过温度敏感元件反馈其温度及阻值,配合发热元件进行通电发热,根据试验标准进行通电试验,形成一种标准测试装置,配合高低温试验能力测试方法能够准确测试出实验室的高低温试验能力是否合格,并且能够监测整个试验过程,使得实验室的高低温试验能力的测试结果更加可靠。
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