Patent search ap:("中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))") AND inv:"刘志南" Page 1

1.

发明公开
高低温试验能力验证测试盒及高低温试验能力测试方法无效

公开(公告)号：CN111693798A

公开(公告)日：2020-09-22

申请号：CN202010378452.9

申请日：2020-05-07

Applicant: 中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))

Inventor： 杨培刚 , 李越欢 , 张一超 , 刘志南

IPC: G01R31/00 , G01R27/02 , G01K7/16 , G01K7/22

Abstract: 本申请涉及一种高低温试验能力验证测试盒及高低温试验能力测试方法。其中，高低温试验能力验证测试盒，包括：壳体；温度敏感元件，设置于壳体内部，用于测量壳体内部的温度；发热元件，设置于壳体内部，用于通电发热，使进行通电试验时壳体内部的温度发生变化。本发明提供一个作为试验样品的高低温试验能力验证测试盒，能够通过温度敏感元件反馈其温度及阻值，配合发热元件进行通电发热，根据试验标准进行通电试验，形成一种标准测试装置，配合高低温试验能力测试方法能够准确测试出实验室的高低温试验能力是否合格，并且能够监测整个试验过程，使得实验室的高低温试验能力的测试结果更加可靠。

Patent Agency Ranking