一种基于辅助粒子滤波的IGBT剩余寿命估算方法

    公开(公告)号:CN111832226A

    公开(公告)日:2020-10-27

    申请号:CN202010666870.8

    申请日:2020-07-13

    IPC分类号: G06F30/27 G06F119/04

    摘要: 本公开提供了一种剩余寿命估算方法及装置。获取开关的剩余寿命的统计数据;基于该统计数据结合晶体管的性能,确定性能指标,所述性能指标为退化机制以及退化直接相关的指数;基于所述性能指标建立剩余寿命的的估算体系;在所述估算体系结合晶体管的运行环境的前提下评估开关的剩余寿命,其中,通过该统计数据和晶体管的性能,确定性能指标,从而提高性能指标的有效性,降低随机噪声,并且该性能指标为退化机制以及退化直接相关的指数,另外,在所述估算体系结合晶体管的运行环境的前提下评估开关的剩余寿命,根据评估结果进行评价,可以确定更准确的开关的剩余寿命曲线,以便于科学合理地制定检修决策方案。

    一种基于辅助粒子滤波的IGBT剩余寿命估算方法

    公开(公告)号:CN111832226B

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202010666870.8

    申请日:2020-07-13

    IPC分类号: G06F30/27 G06F119/04

    摘要: 本公开提供了一种剩余寿命估算方法及装置。获取开关的剩余寿命的统计数据;基于该统计数据结合晶体管的性能,确定性能指标,所述性能指标为退化机制以及退化直接相关的指数;基于所述性能指标建立剩余寿命的的估算体系;在所述估算体系结合晶体管的运行环境的前提下评估开关的剩余寿命,其中,通过该统计数据和晶体管的性能,确定性能指标,从而提高性能指标的有效性,降低随机噪声,并且该性能指标为退化机制以及退化直接相关的指数,另外,在所述估算体系结合晶体管的运行环境的前提下评估开关的剩余寿命,根据评估结果进行评价,可以确定更准确的开关的剩余寿命曲线,以便于科学合理地制定检修决策方案。