气缸套缺陷的X射线自动检测装置和方法

    公开(公告)号:CN105203570A

    公开(公告)日:2015-12-30

    申请号:CN201510627845.8

    申请日:2015-09-28

    Applicant: 中北大学

    Inventor: 韩跃平 李瑞红

    Abstract: 本发明涉及X射线无损检测技术,特别涉及一种气缸套缺陷的X射线自动检测装置和方法。解决了目前气缸套等具有管状结构的零部件在进行射线检测时采集到的图像不能准确反映产品缺陷进而导致检测结果不准确的技术问题。本发明所采用的成像方法是利用线阵式探测器置于气缸套内部的单壁成像法,气缸套的图像数据均是气缸套单壁在射线源与探测器之间并贴近探测器成像面的单壁垂直成像,这种成像方法在本质上相当于将气缸套展开成矩形面板后由线阵探测器逐列扫描成像,克服了弧长引起的正弦效应。相比于双层壁成像,单壁成像法显著提高了图像的分辨率,在气缸套有外螺纹情况下有效避免了在双层壁成像中前后壁螺纹不规则交叉成像的干扰。

    一种X射线探测器的制作方法

    公开(公告)号:CN101916767B

    公开(公告)日:2012-03-07

    申请号:CN201010240542.8

    申请日:2010-07-27

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明提供了一种X射线探测器的制作方法,包括:腐蚀掉光锥大端面的一薄层光纤内芯玻璃材料,形成一致密浅层井坑群;在所述致密浅层井坑群内填充射线固态探测物质,形成晶体转换屏;在所述晶体转换屏表面填涂晶体转换屏前防护层;将光锥小端面与光电耦合器件(CCD)进行耦合。应用本发明所述方案,能够提高图像质量。

    一种X射线快速自动检测方法

    公开(公告)号:CN105279516A

    公开(公告)日:2016-01-27

    申请号:CN201510627890.3

    申请日:2015-09-28

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明提供了一种X射线快速自动检测方法:根据产品内部最小待检测目标确定的最大旋转采样步长在全周向方位下成像;提取每个周向方位下产品内部各个待识别子目标区域图像数据或变换特征并进行有效数据重排作为产品的检测识别特征,提取图像中具有代表性的不变子区域作为位置特征,建立产品在全周向方位下的检测识别特征标准样本库与位置特征标准样本库;识别过程中,根据位置特征找到被检测产品在检测识别特征标准样本库中的最优解进行快速准确识别,并根据产品型号自动在特定方位下成像复检。应用本发明所述方案,能够快速、准确、高效地实现对产品内部结构与装配质量的快速自动检测。

    一种X射线快速自动检测方法

    公开(公告)号:CN105279516B

    公开(公告)日:2019-10-08

    申请号:CN201510627890.3

    申请日:2015-09-28

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明提供了一种X射线快速自动检测方法:根据产品内部最小待检测目标确定的最大旋转采样步长在全周向方位下成像;提取每个周向方位下产品内部各个待识别子目标区域图像数据或变换特征并进行有效数据重排作为产品的检测识别特征,提取图像中具有代表性的不变子区域作为位置特征,建立产品在全周向方位下的检测识别特征标准样本库与位置特征标准样本库;识别过程中,根据位置特征找到被检测产品在检测识别特征标准样本库中的最优解进行快速准确识别,并根据产品型号自动在特定方位下成像复检。应用本发明所述方案,能够快速、准确、高效地实现对产品内部结构与装配质量的快速自动检测。

    气缸套缺陷的X射线自动检测装置和方法

    公开(公告)号:CN105203570B

    公开(公告)日:2018-03-30

    申请号:CN201510627845.8

    申请日:2015-09-28

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明涉及X射线无损检测技术,特别涉及一种气缸套缺陷的X射线自动检测装置和方法。解决了目前气缸套等具有管状结构的零部件在进行射线检测时采集到的图像不能准确反映产品缺陷进而导致检测结果不准确的技术问题。本发明所采用的成像方法是利用线阵式探测器置于气缸套内部的单壁成像法,气缸套的图像数据均是气缸套单壁在射线源与探测器之间并贴近探测器成像面的单壁垂直成像,这种成像方法在本质上相当于将气缸套展开成矩形面板后由线阵探测器逐列扫描成像,克服了弧长引起的正弦效应。相比于双层壁成像,单壁成像法显著提高了图像的分辨率,在气缸套有外螺纹情况下有效避免了在双层壁成像中前后壁螺纹不规则交叉成像的干扰。

    一种X射线探测器的制作方法

    公开(公告)号:CN101916767A

    公开(公告)日:2010-12-15

    申请号:CN201010240542.8

    申请日:2010-07-27

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明提供了一种X射线探测器的制作方法,包括:腐蚀掉光锥大端面的一薄层光纤内芯玻璃材料,形成一致密浅层井坑群;在所述致密浅层井坑群内填充射线固态探测物质,形成晶体转换屏;在所述晶体转换屏表面填涂晶体转换屏前防护层;将光锥小端面与光电耦合器件(CCD)进行耦合。应用本发明所述方案,能够提高图像质量。

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