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公开(公告)号:CN101718801B
公开(公告)日:2011-09-07
申请号:CN200910227917.4
申请日:2009-11-27
Applicant: 中北大学
IPC: G01P15/08 , H01L21/335
Abstract: 本发明涉及微加速度计领域,具体是一种基于高电子迁移率晶体管HEMT的微加速度计。适应了微加速度计应用领域对高灵敏度微加速度计的需要,实现高电子迁移率晶体管HEMT力电转换机理在微加速度计上的应用,所述微加速度计采用以下步骤加工制造:1、应用分子束外延技术在GaAs衬底上生长出如下表1所示材料层结构的薄膜;2、应用微机电器件加工技术在薄膜上加工高电子迁移率晶体管HEMT;3、应用微机电器件加工技术加工微加速度计结构。有效利用高电子迁移率晶体管HEMT的力电转换机理,实现了高电子迁移率晶体管HEMT在微加速度计上的应用,灵敏度高、线性度好,完全可以适应微加速度计应用领域的实际需要。