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公开(公告)号：CN102221633B
公开(公告)日：2013-10-30
申请号：CN201110151864.X
申请日：2011-06-08
Applicant: 中北大学
IPC: G01P21/02
Abstract: 本发明公开的旋转轴相位差校准系统包括旋转轴转速的校准系统--用于校准测量旋转轴转速的仪器、旋转轴相位差校准系统一用于校准测量旋转轴相位差的仪器两个技术方案，属测量或计量技术领域，本发明的技术方案优点有：这种校准系统克服现有技术中无法对转速、相位差(扭矩)测试仪器进行校准的问题，为旋转轴转速和相位差(扭矩)测试仪器提供一个校准仪器及其校准精度，具有实用意义，能实现对一些如容栅、光栅、霍尔、磁栅、红外、光电、光电编码器等旋转轴转速测试仪及容栅、光栅、磁栅等旋转轴相位测试仪等进行校准；本发明的校准系统结构简单且灵活，旋转轴的转速可调，套筒可更换，套筒之间的距离也可调，操作方便，应用广泛。
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公开(公告)号：CN102221633A
公开(公告)日：2011-10-19
申请号：CN201110151864.X
申请日：2011-06-08
Applicant: 中北大学
IPC: G01P21/02
Abstract: 本发明公开的旋转轴相位差校准系统包括旋转轴转速的校准系统--用于校准测量旋转轴转速的仪器、旋转轴相位差校准系统一用于校准测量旋转轴相位差的仪器两个技术方案，属测量或计量技术领域，本发明的技术方案优点有：这种校准系统克服现有技术中无法对转速、相位差(扭矩)测试仪器进行校准的问题，为旋转轴转速和相位差(扭矩)测试仪器提供一个校准仪器及其校准精度，具有实用意义，能实现对一些如容栅、光栅、霍尔、磁栅、红外、光电、光电编码器等旋转轴转速测试仪及容栅、光栅、磁栅等旋转轴相位测试仪等进行校准；本发明的校准系统结构简单且灵活，旋转轴的转速可调，套筒可更换，套筒之间的距离也可调，操作方便，应用广泛。
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公开(公告)号：CN102510286A
公开(公告)日：2012-06-20
申请号：CN201110342434.6
申请日：2011-10-29
Applicant: 中北大学
IPC: H03M1/12
Abstract: 本发明公开的变频采样方法属电子测试与信号采集技术领域，该变频采样方法是在一个测试过程中，以选定频率f0对模拟信号进行等间隔抽点采样，经过A/D转换得到数字信号读写存储在第一存储器中，在读写存储的同时根据被采样信号的频率特征变化分成1、2、…、n个子过程并按各个子过程采用改变存储器推进地址的频率f1、f2、…、fi对读、写存储在第一存储器中数据进行抽点采样再存储于第二存储器中，得到在一个测试过程的n个子过程之间的变频采样数据，实现变频采样，其中n≥i；其优点有：该变频采样方法克服了目前变频采样方法的不足，可保证变频采样数据能完整恢复，还设计、研制了一整套电子电路装置，该装置可实现变频采样方法；这种该变频采样方法值得采用和推广。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102510286B
公开(公告)日：2014-11-12
申请号：CN201110342434.6
申请日：2011-10-29
Applicant: 中北大学
IPC: H03M1/12
Abstract: 本发明公开的变频采样方法属电子测试与信号采集技术领域，该变频采样方法是在一个测试过程中，以选定频率f0对模拟信号进行等间隔抽点采样，经过A/D转换得到数字信号读写存储在第一存储器中，在读写存储的同时根据被采样信号的频率特征变化分成1、2、…、n个子过程并按各个子过程采用改变存储器推地址频率f1、f2、…、fi对读、写存储在第一存储器中数据进行抽点采样再存储于第二存储器中，得到在一个测试过程的n个子过程之间的变频采样数据，实现变频采样，其中n≥i；其优点有：该变频采样方法克服了目前变频采样方法的不足，可保证变频采样数据能完整恢复，还设计、研制了一整套电子电路装置，该装置可实现变频采样方法；这种该变频采样方法值得采用和推广。
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公开(公告)号：CN102253243B
公开(公告)日：2014-02-26
申请号：CN201110151891.7
申请日：2011-06-08
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明公开的旋转轴相位差标定系统包括旋转轴转速的标定系统--用于标定测量旋转轴转速的仪器、旋转轴相位差标定系统--用于标定测量旋转轴相位差的仪器两个技术方案，属测量或计量技术领域，本发明的技术方案优点有：这种标定系统克服现有技术中无法对转速、相位差(扭矩)测试仪器进行标定的问题，为旋转轴转速和相位差(扭矩)测试仪器提供一个标定仪器及其标定精度，具有实用意义，能实现对一些如容栅、光栅、霍尔、磁栅、红外、光电、光电编码器等旋转轴转速测试仪及容栅、光栅、磁栅等旋转轴相位测试仪等进行标定；本发明的标定系统结构简单且灵活，旋转轴的转速可调，套筒可更换，套筒之间的距离也可调，操作方便，应用广泛。
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公开(公告)号：CN102253243A
公开(公告)日：2011-11-23
申请号：CN201110151891.7
申请日：2011-06-08
Applicant: 中北大学
Abstract: 本发明公开的旋转轴相位差标定系统包括旋转轴转速的标定系统--用于标定测量旋转轴转速的仪器、旋转轴相位差标定系统--用于标定测量旋转轴相位差的仪器两个技术方案，属测量或计量技术领域，本发明的技术方案优点有：这种标定系统克服现有技术中无法对转速、相位差(扭矩)测试仪器进行标定的问题，为旋转轴转速和相位差(扭矩)测试仪器提供一个标定仪器及其标定精度，具有实用意义，能实现对一些如容栅、光栅、霍尔、磁栅、红外、光电、光电编码器等旋转轴转速测试仪及容栅、光栅、磁栅等旋转轴相位测试仪等进行标定；本发明的标定系统结构简单且灵活，旋转轴的转速可调，套筒可更换，套筒之间的距离也可调，操作方便，应用广泛。
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公开(公告)号：CN202305562U
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201120190292.1
申请日：2011-06-08
Applicant: 中北大学
Abstract: 本实用新型公开的旋转轴与旋转轴相位差校准系统属测量或计量技术领域，该校准系统包括有：一台电机及其驱动的旋转轴，旋转轴的支架及支架上安装的套筒一，旋转轴后端安装的定位座，定位座上安装的套筒二，一分度头及分度头爪上安装的短轴等，优点有：这种校准系统克服现有技术中无法对转速、相位差(扭矩)测试仪器进行校准的问题，为旋转轴转速和相位差(扭矩)测试仪器提供一个校准仪器及其校准精度，具有实用意义，能实现对一些如容栅、光栅、霍尔、磁栅、红外、光电、光电编码器等旋转轴转速测试仪及容栅、光栅、磁栅等旋转轴相位测试仪等进行校准；本实用新型的校准系统结构简单且灵活，旋转轴的转速可调，套筒可更换，套筒之间的距离也可调，操作方便，应用广泛。
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公开(公告)号：CN202305561U
公开(公告)日：2012-07-04
申请号：CN201120190279.6
申请日：2011-06-08
Applicant: 中北大学
Abstract: 本实用新型公开的旋转轴与旋转轴相位差标定系统属测量或计量技术领域，该标定系统包括有：一台电机及其驱动的旋转轴，旋转轴的支架，支架上安装的套筒A，旋转轴后端安装的定位座，定位座上安装的套筒B，一分度头及分度头爪上安装的短轴等，优点有：该标定系统克服现有技术中无法对转速、相位差(扭矩)测试仪器进行标定的问题，为旋转轴转速和相位差(扭矩)测试仪器提供一个标定仪器及其标定精度，具有实用意义，能实现对一些如容栅、光栅、霍尔、磁栅、红外、光电、光电编码器等旋转轴转速测试仪及容栅、光栅、磁栅等旋转轴相位测试仪等进行标定；本实用新型的标定系统结构简单且灵活，旋转轴的转速可调，套筒可更换，套筒之间的距离也可调，操作方便，应用广泛。
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