旋转轴相位差校准系统
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102221633B

    公开(公告)日:2013-10-30

    申请号:CN201110151864.X

    申请日:2011-06-08

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明公开的旋转轴相位差校准系统包括旋转轴转速的校准系统--用于校准测量旋转轴转速的仪器、旋转轴相位差校准系统一用于校准测量旋转轴相位差的仪器两个技术方案,属测量或计量技术领域,本发明的技术方案优点有:这种校准系统克服现有技术中无法对转速、相位差(扭矩)测试仪器进行校准的问题,为旋转轴转速和相位差(扭矩)测试仪器提供一个校准仪器及其校准精度,具有实用意义,能实现对一些如容栅、光栅、霍尔、磁栅、红外、光电、光电编码器等旋转轴转速测试仪及容栅、光栅、磁栅等旋转轴相位测试仪等进行校准;本发明的校准系统结构简单且灵活,旋转轴的转速可调,套筒可更换,套筒之间的距离也可调,操作方便,应用广泛。

    旋转轴相位差校准系统
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102221633A

    公开(公告)日:2011-10-19

    申请号:CN201110151864.X

    申请日:2011-06-08

    Applicant: 中北大学

    Abstract: 本发明公开的旋转轴相位差校准系统包括旋转轴转速的校准系统--用于校准测量旋转轴转速的仪器、旋转轴相位差校准系统一用于校准测量旋转轴相位差的仪器两个技术方案,属测量或计量技术领域,本发明的技术方案优点有:这种校准系统克服现有技术中无法对转速、相位差(扭矩)测试仪器进行校准的问题,为旋转轴转速和相位差(扭矩)测试仪器提供一个校准仪器及其校准精度,具有实用意义,能实现对一些如容栅、光栅、霍尔、磁栅、红外、光电、光电编码器等旋转轴转速测试仪及容栅、光栅、磁栅等旋转轴相位测试仪等进行校准;本发明的校准系统结构简单且灵活,旋转轴的转速可调,套筒可更换,套筒之间的距离也可调,操作方便,应用广泛。

Patent Agency Ranking