一种检测环境温度的方法、装置和电子设备

    公开(公告)号:CN106546357A

    公开(公告)日:2017-03-29

    申请号:CN201510611651.9

    申请日:2015-09-23

    Inventor: 池林

    Abstract: 本发明实施例提供一种检测环境温度的方法、装置和电子设备,方法包括:获取电子设备的各种工作条件,以及在每一工作条件下,温度测试点到发热器件及环境的热阻系数,所述温度测试点的温度值,以及环境温度;根据所述工作条件、热阻系数、温度测试点的温度值与环境温度生成映射逻辑;通过所述映射逻辑计算出电子设备当前的环境温度,所述环境温度作为控制所述电子设备的依据。解决由于电子设备内部发热器件的热辐射作用使环境温度检测信号产生偏差及由此带来的其他一系列问题,提高电子设备环境温度检测的准确性。

    一种检测环境温度的方法、装置和电子设备

    公开(公告)号:CN106546357B

    公开(公告)日:2020-06-02

    申请号:CN201510611651.9

    申请日:2015-09-23

    Inventor: 池林

    Abstract: 本发明实施例提供一种检测环境温度的方法、装置和电子设备,方法包括:获取电子设备的各种工作条件,以及在每一工作条件下,温度测试点到发热器件及环境的热阻系数,所述温度测试点的温度值,以及环境温度;根据所述工作条件、热阻系数、温度测试点的温度值与环境温度生成映射逻辑;通过所述映射逻辑计算出电子设备当前的环境温度,所述环境温度作为控制所述电子设备的依据。解决由于电子设备内部发热器件的热辐射作用使环境温度检测信号产生偏差及由此带来的其他一系列问题,提高电子设备环境温度检测的准确性。

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