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公开(公告)号:CN104158542B
公开(公告)日:2017-04-05
申请号:CN201410422608.3
申请日:2014-08-25
Applicant: 东南大学
Abstract: 本发明公开了一种基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路,包括欠采样实现电路,控制电路,移位寄存器A、移位寄存器B和CDF合成电路,同时本发明还提出了基于周期对齐欠采样后处理技术,该技术可以用于测量锁相环长周期抖动。本发明提出的锁相环长周期抖动片上测量电路具有测量精度高,实现方法简单等优点,并弥补了现有基于欠采样技术抖动测量电路无法测量长周期抖动的缺点。
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公开(公告)号:CN104158542A
公开(公告)日:2014-11-19
申请号:CN201410422608.3
申请日:2014-08-25
Applicant: 东南大学
Abstract: 本发明公开了一种基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路,包括欠采样实现电路,控制电路,移位寄存器A、移位寄存器B和CDF合成电路,同时本发明还提出了基于周期对齐欠采样后处理技术,该技术可以用于测量锁相环长周期抖动。本发明提出的锁相环长周期抖动片上测量电路具有测量精度高,实现方法简单等优点,并弥补了现有基于欠采样技术抖动测量电路无法测量长周期抖动的缺点。
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公开(公告)号:CN103607199A
公开(公告)日:2014-02-26
申请号:CN201310624220.7
申请日:2013-11-27
Applicant: 东南大学
Abstract: 本发明公开了一种快速锁定全数字逐次逼近寄存器延时锁定环,采用可复位数控延时链将输入时钟与控制器工作时钟之间的分频比降低至1,同时采用2-b逐次逼近寄存器算法将搜索循环次数降低50%,从而达到超快速锁定的目的。本发明的电路包括前置电路、数控延时链、相位合成电路、2-b逐次逼近寄存器控制器、相位判断电路和复位脉冲产生电路。本发明电路可锁定频率范围为100MHz至400MHz,锁定时间为5个时钟周期,锁定后输出50%占空比的时钟信号并且彻底避免了谐波锁定的发生。
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公开(公告)号:CN103560786A
公开(公告)日:2014-02-05
申请号:CN201310596163.6
申请日:2013-11-21
Applicant: 东南大学
Abstract: 本发明公开了一种全数字逐次逼近寄存器式快速锁定延时锁定环,电路结构的创新之处在于采用可复位数控延时链将输入时钟与控制器工作时钟之间的分频比降低至1,同时采用2-b逐次逼近寄存器算法将搜索循环次数降低50%,从而达到快速锁定的目的。本发明的电路包括前置电路、数控延时链、相位合成电路、2-b逐次逼近寄存器控制器、相位判断电路和复位脉冲产生电路。实验证明本发明电路可锁定频率范围为100MHz至400MHz,锁定时间为5个时钟周期,锁定后输出50%占空比的时钟信号并且彻底避免了谐波锁定的发生。
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公开(公告)号:CN103560786B
公开(公告)日:2017-07-28
申请号:CN201310596163.6
申请日:2013-11-21
Applicant: 东南大学
Abstract: 本发明公开了一种全数字逐次逼近寄存器式快速锁定延时锁定环,电路结构的创新之处在于采用可复位数控延时链将输入时钟与控制器工作时钟之间的分频比降低至1,同时采用2‑b逐次逼近寄存器算法将搜索循环次数降低50%,从而达到快速锁定的目的。本发明的电路包括前置电路、数控延时链、相位合成电路、2‑b逐次逼近寄存器控制器、相位判断电路和复位脉冲产生电路。实验证明本发明电路可锁定频率范围为100MHz至400MHz,锁定时间为5个时钟周期,锁定后输出50%占空比的时钟信号并且彻底避免了谐波锁定的发生。
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公开(公告)号:CN203608179U
公开(公告)日:2014-05-21
申请号:CN201320743998.5
申请日:2013-11-21
Applicant: 东南大学
Abstract: 本实用新型公开了一种全数字逐次逼近寄存器式快速锁定延时锁定环,电路结构的创新之处在于采用可复位数控延时链将输入时钟与控制器工作时钟之间的分频比降低至1,同时采用2-b逐次逼近寄存器算法将搜索循环次数降低50%,从而达到快速锁定的目的。本实用新型的电路包括前置电路、数控延时链、相位合成电路、2-b逐次逼近寄存器控制器、相位判断电路和复位脉冲产生电路。实验证明本实用新型电路可锁定频率范围为100MHz至400MHz,锁定时间为5个时钟周期,锁定后输出50%占空比的时钟信号并且彻底避免了谐波锁定的发生。
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公开(公告)号:CN204131499U
公开(公告)日:2015-01-28
申请号:CN201420482638.9
申请日:2014-08-25
Applicant: 东南大学
Abstract: 本实用新型公开了一种基于欠采样技术锁相环长周期抖动片上测量电路,包括欠采样实现电路,控制电路,移位寄存器A、移位寄存器B和CDF合成电路,同时本实用新型还提出了基于周期对齐欠采样后处理技术,该技术可以用于测量锁相环长周期抖动。本实用新型提出的锁相环长周期抖动片上测量电路具有测量精度高,实现方法简单等优点,并弥补了现有基于欠采样技术抖动测量电路无法测量长周期抖动的缺点。
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