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公开(公告)号：CN113167567B
公开(公告)日：2023-03-24
申请号：CN201980078356.8
申请日：2019-12-19
Applicant: 东丽株式会社
IPC: G01B11/00 , G01B11/24 , G01B15/00 , G01N23/044 , G01N23/18
Abstract: 能够高精度地检测结构体是合格品还是不合格品。结构体检查装置具备：以两个以上的路径辐射X射线的X射线辐射单元(1a、1b)、对透射了结构体(2)的X射线进行检测的一个以上的X射线检测单元(3)、在多个位置测定从所述X射线辐射单元到所述结构体的距离的多个位置距离测定单元(4)、以及图像处理单元(5)，所述图像处理单元包括：对所述X射线检测单元所取得的两个以上的图像检测缺陷候选的缺陷候选检测单元、高度测定单元、对记录了通过所述高度测定单元得到的高度位置信息的图像和通过所述缺陷候选检测单元得到的缺陷候选图像进行逻辑积运算的图像运算单元、根据所述距离和所述结构体的厚度来设定检查范围的检查范围设定单元、以及在所述检查范围中含有缺陷候选的情况下判断为缺陷的缺陷判断单元。
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公开(公告)号：CN110402386B
公开(公告)日：2021-08-06
申请号：CN201880017052.6
申请日：2018-03-02
Applicant: 东丽株式会社
Inventor： 杉原洋树
IPC: G01N21/952 , G01B11/30 , G06T1/00
Abstract: 本发明的目的在于提供即使圆筒体的表面和检查装置的相对位置变化，也能够稳定且高精度地进行检查的圆筒体表面检查装置。本发明由下述部构成：光照射部(5)，对圆筒体(1)照射光；二维摄像部(6)，配置于对在圆筒体的表面反射的光进行接收的位置；扫描位置确定部(7a)，在二维图像数据(8)中确定与圆筒体的周向对应的第一方向的扫描位置(PA)；时间序列扫描图像生成部(7b)，取出扫描位置(PA)处的与第一方向垂直的第二方向的图像数据，将各图像数据按时间序列顺序在第一方向上排列而生成时间序列扫描图像；及检查部(7c)，检查时间序列扫描图像而对缺陷(4)进行检测。扫描位置确定部(7a)具有：亮度轮廓制作部(71)；亮度峰值位置算出部(72)，算出亮度最高的峰值位置(10)；亮度计测部(73)，计测峰值位置(10)的亮度；亮度下降位置算出部(74)，根据亮度的轮廓(9)，算出成为对所述峰值位置(10)的亮度乘以预先确定的小于1的系数倍值而得到的亮度的位置；以及扫描位置保持部(75)，将算出的所述位置作为扫描位置(PA)保持。
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公开(公告)号：CN117716204A
公开(公告)日：2024-03-15
申请号：CN202280051727.5
申请日：2022-08-22
Applicant: 东丽株式会社
IPC: G01B11/30
Abstract: 本发明的片状物的凹凸测定装置为以被抱持在辊上的片状物的表面作为测定对象部对输送中的片状物的局部的凹部的深度及/或凸部的高度进行测定的装置。本装置具备：光照射单元，其以被抱持在辊上的片状物的同与辊接触的部分为相反侧的面作为测定对象部对该测定对象部照射照明光；时间延迟积分型的摄像单元，其与上述光照射单元相对配置，对来自光照射单元的照明光进行接收；亮度分布算出单元，其根据由上述摄像单元生成的摄像图像算出主扫描方向的亮度分布；凹凸判定单元，其基于上述亮度分布对片状物中是否存在凹部及/或凸部进行判定；凹凸算出单元，其基于上述亮度分布对上述凹部的深度及/或上述凸部的高度进行推定。
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公开(公告)号：CN112703393B
公开(公告)日：2023-06-27
申请号：CN201980060619.2
申请日：2019-08-23
Applicant: 东丽株式会社
Inventor： 杉原洋树
IPC: G01N21/892
Abstract: 本发明的特征在于，具有：对片状物照射照明光，且片状物的宽度方向为其长度方向的长尺寸的光照射机构；和第一遮光机构，其位于从光照射机构向片状物的光路间，在与光照射机构的长度方向平行的方向上交替排列有遮光部和开口部；和第二遮光机构，其在从所述光照射机构向片状物的光路间位于第一遮光机构与片状物之间，在与光照射机构的长度方向平行的方向上交替排列有遮光部和开口部，在第二遮光机构的遮光部与光照射机构之间具有第一遮光机构的开口部，第一遮光机构的开口部在与该光照射机构的长度方向平行的方向上的长度比第二遮光机构的遮光部在与该光照射机构的长度方向平行的方向上的长度短。
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公开(公告)号：CN112703393A
公开(公告)日：2021-04-23
申请号：CN201980060619.2
申请日：2019-08-23
Applicant: 东丽株式会社
Inventor： 杉原洋树
IPC: G01N21/892
Abstract: 本发明的特征在于，具有：对片状物照射照明光，且片状物的宽度方向为其长度方向的长尺寸的光照射机构；和第一遮光机构，其位于从光照射机构向片状物的光路间，在与光照射机构的长度方向平行的方向上交替排列有遮光部和开口部；和第二遮光机构，其在从所述光照射机构向片状物的光路间位于第一遮光机构与片状物之间，在与光照射机构的长度方向平行的方向上交替排列有遮光部和开口部，在第二遮光机构的遮光部与光照射机构之间具有第一遮光机构的开口部，第一遮光机构的开口部在与该光照射机构的长度方向平行的方向上的长度比第二遮光机构的遮光部在与该光照射机构的长度方向平行的方向上的长度短。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110402386A
公开(公告)日：2019-11-01
申请号：CN201880017052.6
申请日：2018-03-02
Applicant: 东丽株式会社
Inventor： 杉原洋树
IPC: G01N21/952 , G01B11/30 , G06T1/00
Abstract: 本发明的目的在于提供即使圆筒体的表面和检查装置的相对位置变化，也能够稳定且高精度地进行检查的圆筒体表面检查装置。本发明由下述部构成：光照射部(5)，对圆筒体(1)照射光；二维摄像部(6)，配置于对在圆筒体的表面反射的光进行接收的位置；扫描位置确定部(7a)，在二维图像数据(8)中确定与圆筒体的周向对应的第一方向的扫描位置(PA)；时间序列扫描图像生成部(7b)，取出扫描位置(PA)处的与第一方向垂直的第二方向的图像数据，将各图像数据按时间序列顺序在第一方向上排列而生成时间序列扫描图像；及检查部(7c)，检查时间序列扫描图像而对缺陷(4)进行检测。扫描位置确定部(7a)具有：亮度轮廓制作部(71)；亮度峰值位置算出部(72)，算出亮度最高的峰值位置(10)；亮度计测部(73)，计测峰值位置(10)的亮度；亮度下降位置算出部(74)，根据亮度的轮廓(9)，算出成为对所述峰值位置(10)的亮度乘以预先确定的小于1的系数倍值而得到的亮度的位置；以及扫描位置保持部(75)，将算出的所述位置作为扫描位置(PA)保持。
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公开(公告)号：CN108603847A
公开(公告)日：2018-09-28
申请号：CN201680080331.8
申请日：2016-12-22
Applicant: 东丽株式会社
IPC: G01N21/892 , G01B11/30
Abstract: 本发明涉及的片状物的检查装置具有向连续输送的片状物照射照射光的照射机构、对来自片状物的透射光或反射光进行投影的投影机构、对投影至投影机构的投影像进行拍摄的拍摄机构、和根据拍摄机构所拍摄的图像数据来检测片状物中存在的缺陷的数据处理机构，其中，从垂直于片状物的行进面的方向对照射机构进行观察时，所述照射机构的长度方向与片状物的输送方向为相同的方向，所述照射机构照射沿片状物的片材宽度方向扩展的光。
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公开(公告)号：CN111033245B
公开(公告)日：2022-08-05
申请号：CN201880052341.X
申请日：2018-09-28
Applicant: 东丽株式会社
Abstract: 一种树脂成形品的检查方法和制造方法、树脂成形品的检查装置和制造装置，能够以高精度检测树脂成形品是合格品还是不合格品，并且能够事先检测出将来可能发生变形等的树脂成形品，因此在分为多个构件的树脂成形品的接合面的检查中，根据以至少2个以上的路径放射的X射线透射树脂成形品时的X射线检测结果，计测缺陷候补的高度位置，由此能够高精度地检测出缺陷。
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公开(公告)号：CN113167567A
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN201980078356.8
申请日：2019-12-19
Applicant: 东丽株式会社
IPC: G01B11/00 , G01B11/24 , G01B15/00 , G01N23/044 , G01N23/18
Abstract: 能够高精度地检测结构体是合格品还是不合格品。结构体检查装置具备：以两个以上的路径辐射X射线的X射线辐射单元(1a、1b)、对透射了结构体(2)的X射线进行检测的一个以上的X射线检测单元(3)、在多个位置测定从所述X射线辐射单元到所述结构体的距离的多个位置距离测定单元(4)、以及图像处理单元(5)，所述图像处理单元包括：对所述X射线检测单元所取得的两个以上的图像检测缺陷候选的缺陷候选检测单元、高度测定单元、对记录了通过所述高度测定单元得到的高度位置信息的图像和通过所述缺陷候选检测单元得到的缺陷候选图像进行逻辑积运算的图像运算单元、根据所述距离和所述结构体的厚度来设定检查范围的检查范围设定单元、以及在所述检查范围中含有缺陷候选的情况下判断为缺陷的缺陷判断单元。
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公开(公告)号：CN111033245A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201880052341.X
申请日：2018-09-28
Applicant: 东丽株式会社
Abstract: 一种树脂成形品的检查方法和制造方法、树脂成形品的检查装置和制造装置，能够以高精度检测树脂成形品是合格品还是不合格品，并且能够事先检测出将来可能发生变形等的树脂成形品，因此在分为多个构件的树脂成形品的接合面的检查中，根据以至少2个以上的路径放射的X射线透射树脂成形品时的X射线检测结果，计测缺陷候补的高度位置，由此能够高精度地检测出缺陷。
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