-
公开(公告)号:CN100459185C
公开(公告)日:2009-02-04
申请号:CN200410089599.7
申请日:2004-12-15
Applicant: 上海蓝光科技有限公司 , 北京大学
IPC: H01L33/00
Abstract: 本发明公开了一种发光二极管及其制备方法。发光二极管包括蓝宝石衬底、GaN缓冲层、n型GaN、InGaN/GaN量子阱有源层、p型GaN、p型欧姆接触层、n型欧姆接触层、p型欧姆接触透明电极,其中,p型欧姆接触透明电极是同心圆结构,在相邻的同心圆结构环形电极之间有沟槽;制备方法是在现有的制备方法之后用干法刻蚀形成同心圆结构。本发明利用环形电极分布,使电流注入更加均匀,电极间的沟槽增加了侧面发光的几率,并且减小了反射角,而大大降低了因为全反射产生的光能损耗,提高了发光效率。
-
公开(公告)号:CN1790753A
公开(公告)日:2006-06-21
申请号:CN200410089599.7
申请日:2004-12-15
Applicant: 上海蓝光科技有限公司 , 北京大学
IPC: H01L33/00
Abstract: 本发明公开了一种发光二极管及其制备方法。发光二极管包括蓝宝石衬底、GaN缓冲层、n型GaN、InGaN/GaN量子阱有源层、p型GaN、p型欧姆接触层、n型欧姆接触层、p型欧姆接触透明电极,其中,p型欧姆接触透明电极是同心圆结构,在相邻的同心圆结构环形电极之间有沟槽;制备方法是在现有的制备方法之后用干法刻蚀形成同心圆结构。本发明利用环形电极分布,使电流注入更加均匀,电极间的沟槽增加了侧面发光的几率,并且减小了反射角,而大大降低了因为全反射产生的光能损耗,提高了发光效率。
-
公开(公告)号:CN1237581C
公开(公告)日:2006-01-18
申请号:CN02155062.X
申请日:2002-12-20
Applicant: 上海北大蓝光科技有限公司 , 北京大学
Abstract: 本发明涉及一种低阻P型GaN基材料欧姆接触制备的方法,它采用等离子体氧化技术对P型GaN上的Ni/Au电极进行氧化处理,然后在氮气(N2)气氛下进行合金处理,最后获得比接触电阻低、透光性好的透明电极。本发明适用于所有P型氮化物半导体材料的欧姆接触,P型GaN基材料包括GaN、AlGaN、InGaN、以及InAlGaN四元合金体系,特别是对于GaN基发光二极管的制备具有重要应用和经济价值。
-
公开(公告)号:CN1508847A
公开(公告)日:2004-06-30
申请号:CN02155062.X
申请日:2002-12-20
Applicant: 上海北大蓝光科技有限公司 , 北京大学
Abstract: 本发明涉及一种低阻P型GaN基材料欧姆接触制备的方法,它采用等离子体氧化技术对P型GaN上的Ni/Au电极进行氧化处理,然后在氮气(N2)气氛下进行合金处理,最后获得比接触电阻低、透光性好的透明电极。本发明适用于所有P型氮化物半导体材料的欧姆接触,P型GaN基材料包括GaN、AlGaN、InGaN、以及InAlGaN四元合金体系,特别是对于GaN基发光二极管的制备具有重要应用和经济价值。
-
公开(公告)号:CN1242091C
公开(公告)日:2006-02-15
申请号:CN02155061.1
申请日:2002-12-20
Applicant: 上海北大蓝光科技有限公司 , 北京大学
IPC: C23C16/34 , H01L21/205 , H01L21/365
Abstract: 本发明涉及一种MOCVD生长氮化物发光二极管结构外延片的方法。首先,在MOCVD反应室中把蓝宝石衬底加热到1200℃,氢气下高温处理,然后温度降低到490-550℃生长GaN成核层,其后,将生长温度升高到1100-1180℃对成核层进行退火,退火后,在最后的退火温度下,通过线性变化TMGa的流量,开始变速率外延生长GaN缓冲层,在这之后,匀速生长一厚度为2-4微米的GaN缓冲层,在该缓冲层上外延生长器件结构,并通过在其上生长InGaN/GaN多量子阱LED结构,对变化速率进行了优化。本发明可有效实现三维生长向二维生长过渡,以提高外延生长的氮化物发光二极管结构外延片的质量和发光强度。
-
公开(公告)号:CN1508284A
公开(公告)日:2004-06-30
申请号:CN02155061.1
申请日:2002-12-20
Applicant: 上海北大蓝光科技有限公司 , 北京大学
IPC: C23C16/34 , H01L21/205 , H01L21/365
Abstract: 本发明涉及一种MOCVD生长氮化物发光二极管结构外延片的方法。首先,在MOCVD反应室中把蓝宝石衬底加热到1200℃,氢气下高温处理,然后温度降低到490-550℃生长GaN成核层,其后,将生长温度升高到1100-1180℃对成核层进行退火,退火后,在最后的退火温度下,通过线性变化TMGa的流量,开始变速率外延生长GaN缓冲层,在这之后,匀速生长一厚度为2-4微米的GaN缓冲层,在该缓冲层上外延生长器件结构,并通过在其上生长InGaN/GaN多量子阱LED结构,对变化速率进行了优化。本发明可有效实现三维生长向二维生长过渡,以提高外延生长的氮化物发光二极管结构外延片的质量和发光强度。
-
-
-
-
-