激光测量系统不确定度测试实验与计算方法

    公开(公告)号:CN113188444A

    公开(公告)日:2021-07-30

    申请号:CN202110494393.6

    申请日:2021-05-06

    IPC分类号: G01B11/00

    摘要: 本发明提供了一种激光测量系统不确定度测试实验与计算方法,通过合理的简化测试实验设计与基于实验数据与优化算法的不确定度椭球包络估计,实现快速应对不同设备与工作场景的不确定度椭球尺寸与空间姿态的测量与计算。所述具体方法包括:依据实际场景需求靶球/靶标与设备机位定位确定;对固定点位与机位进行多次重复实施测量采集;对该点进行采集数据的不确定度椭球估计。本发明提供的不确定度测试与计算方法,可以以较少的测量时间与计算时间实现更准确地贴近实际测量应用场景的不确定度椭球的三维尺寸与姿态估计。可以广泛应用于多种场景的激光测量系统的三维方向不确定度椭球测量与快速计算。

    太赫兹馈源喇叭波纹叠片的制备方法

    公开(公告)号:CN113078472B

    公开(公告)日:2022-07-12

    申请号:CN202110337245.3

    申请日:2021-03-29

    IPC分类号: H01Q13/02

    摘要: 本发明公开了一种太赫兹馈源喇叭波纹叠片的制备方法,包括以下步骤:S1,依据太赫兹波纹馈源喇叭内腔结构设计选择合理规格的铜箔;S2,根据波纹结构要求对铜箔进行裁剪、表面抛光与减薄处理;S3,进行微结构阵列加工布局设计并进行精密加工;S4,铜箔表面与孔内进行镀金处理;S5,叠片外轮廓精密切割并分离,获得波纹叠片成品。本发明在保障制备精度与批量制造能力的基础上,可以极大地降低制备成本与制造周期,也可以广泛用于多种频段规格的太赫兹波纹馈源喇叭堆叠键合成型工艺的波纹叠片制备。

    太赫兹矩圆波导电铸芯模微结构的制造方法

    公开(公告)号:CN113072035A

    公开(公告)日:2021-07-06

    申请号:CN202110338301.5

    申请日:2021-03-29

    IPC分类号: B81B7/04 H01P11/00

    摘要: 本发明公开了一种太赫兹矩圆波导电铸芯模微结构的制造方法,包括以下步骤:S1,依据精度要求对太赫兹矩圆波导电铸芯模模型进行分层设计;S2,依据结构尺寸与分层设计选取打印模式并进行分层图形与打印参数设计;S3,根据打印模式与参数进行芯模坯体3D精密打印;S4,对坯体结构进行金属化处理,获得太赫兹矩圆波导电铸芯模。本发明提供的电铸芯模制备方法,制作精度高、周期短、成本低,并可以批量化制造,可以广泛用于多种频段的太赫兹矩圆波导电铸芯模制备。

    激光测量系统不确定度测试实验与计算方法

    公开(公告)号:CN113188444B

    公开(公告)日:2023-01-13

    申请号:CN202110494393.6

    申请日:2021-05-06

    IPC分类号: G01B11/00

    摘要: 本发明提供了一种激光测量系统不确定度测试实验与计算方法,通过合理的简化测试实验设计与基于实验数据与优化算法的不确定度椭球包络估计,实现快速应对不同设备与工作场景的不确定度椭球尺寸与空间姿态的测量与计算。所述具体方法包括:依据实际场景需求靶球/靶标与设备机位定位确定;对固定点位与机位进行多次重复实施测量采集;对该点进行采集数据的不确定度椭球估计。本发明提供的不确定度测试与计算方法,可以以较少的测量时间与计算时间实现更准确地贴近实际测量应用场景的不确定度椭球的三维尺寸与姿态估计。可以广泛应用于多种场景的激光测量系统的三维方向不确定度椭球测量与快速计算。

    太赫兹馈源喇叭波纹叠片的制备方法

    公开(公告)号:CN113078472A

    公开(公告)日:2021-07-06

    申请号:CN202110337245.3

    申请日:2021-03-29

    IPC分类号: H01Q13/02

    摘要: 本发明公开了一种太赫兹馈源喇叭波纹叠片的制备方法,包括以下步骤:S1,依据太赫兹波纹馈源喇叭内腔结构设计选择合理规格的铜箔;S2,根据波纹结构要求对铜箔进行裁剪、表面抛光与减薄处理;S3,进行微结构阵列加工布局设计并进行精密加工;S4,铜箔表面与孔内进行镀金处理;S5,叠片外轮廓精密切割并分离,获得波纹叠片成品。本发明在保障制备精度与批量制造能力的基础上,可以极大地降低制备成本与制造周期,也可以广泛用于多种频段规格的太赫兹波纹馈源喇叭堆叠键合成型工艺的波纹叠片制备。

    一种多余物检测装置
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103472196A

    公开(公告)日:2013-12-25

    申请号:CN201310463592.6

    申请日:2013-10-08

    IPC分类号: G01N33/00

    摘要: 本发明提供了一种多余物检测装置,其包括第一框架、第一转动组件、第二框架、第二转动组件;所述第一框架组件:用于固定待测产品,同时与所述第一转动组件固定连接;所述第一转动组件:固定于所述第二框架组件上,并带动所述第一框架组件在所述第二框架内沿第一轴线转动;所述第二框架组件:与所述第二转动组件固定连接;所述第二转动组件:带动所述第二框架沿所述第二轴线转动;在所述第一转动组件与第二转动组件同时转动后通过判断所述待测产品内是否有多余物运动判断待测产品中是否有多余物的产生。本发明与现有技术相比具有可靠性好、操作简单、检测过程简单、检测成本低、检测效率高等优点。

    一种测量/测试对象与设备快速布局设计、优化系统

    公开(公告)号:CN115563795A

    公开(公告)日:2023-01-03

    申请号:CN202211264880.4

    申请日:2022-10-17

    IPC分类号: G06F30/20 G06Q10/04

    摘要: 本发明公开测量/测试对象与设备快速布局设计、优化系统。系统包括用于存储可用场地的空间模型、各场地内布置测量/测试对象以及布置测量/测试设备系统的可布局空间的场地模型库;用于存储测量/测试设备系统的测量范围与不确定度场分布模型的测量/测试设备系统库;用于将选用的场地与不确定度场分布模型进行耦合计算,计算模拟测量范围及其不确定度场分布的场地耦合模块;用于计算并模拟测量/测试对象在不确定度场分布中布局占据的空间,得到不确定度综合评估结果的布局评估模块;用于依据不确定度综合评估结果进行布局优化迭代计算的布局优化模块。能充分考虑技术要求,效率高,减短研制周期。充分考虑布局设计中的要素得到最优的指标结果。

    一种多余物检测装置
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103472196B

    公开(公告)日:2015-07-08

    申请号:CN201310463592.6

    申请日:2013-10-08

    IPC分类号: G01N33/00

    摘要: 本发明提供了一种多余物检测装置,其包括第一框架、第一转动组件、第二框架、第二转动组件;所述第一框架组件:用于固定待测产品,同时与所述第一转动组件固定连接;所述第一转动组件:固定于所述第二框架组件上,并带动所述第一框架组件在所述第二框架内沿第一轴线转动;所述第二框架组件:与所述第二转动组件固定连接;所述第二转动组件:带动所述第二框架沿所述第二轴线转动;在所述第一转动组件与第二转动组件同时转动后通过判断所述待测产品内是否有多余物运动判断待测产品中是否有多余物的产生。本发明与现有技术相比具有可靠性好、操作简单、检测过程简单、检测成本低、检测效率高等优点。