一种脉宽调制器中子单粒子效应辐照测试系统和测试方法

    公开(公告)号:CN116659810A

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN202310530699.1

    申请日:2023-05-11

    Abstract: 本发明提供了一种脉宽调制器中子单粒子效应辐照测试系统,包括辐照测试板、直流稳压电源、电子负载、测控模块、显示模块,所述辐照测试系统置于脉冲反应堆中进行在线辐照测试;所述辐照测试板置于辐照室内;直流稳压电源、电子负载、测控模块、显示模块置于测试间;直流稳压电源通过供电线缆为辐照测试板提供直流供电;电子负载连接辐照测试板的输出端;测控模块读取辐照测试板上监测的信号,并通过显示模块进行显示。本发明能够满足脉宽调制器的脉冲反应堆中子在线辐照试验,以及中子单粒子效应测试和表征,获得脉宽调制器的单粒子效应现象及规律,实现对脉宽调制器抗中子单粒子能力的准确评估,指导器件的抗辐射加固设计与宇航可靠性应用。

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