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公开(公告)号：CN100432621C
公开(公告)日：2008-11-12
申请号：CN200610118983.4
申请日：2006-12-01
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种利用光学成像测量系统对物体的尺寸进行精密测量的方法，包括以下步骤：将一个物理尺寸已知且与待测件的材质相同的标准件和一个与待测件的材质相同的参考件同时放在光学成像测量系统中，使标准件和参考件同时独立成像，根据公式f＝x0K1/K0计算出修正系数f，其中K1是标准件像素尺寸，K0是参考件像素尺寸，x0是标准件物理尺寸；取出标准件换上一个待测件，使待测件和参考件同时独立成像，由公式x＝(Kx/K1′)f可以计算出待测件的物理尺寸x，其中Kx为待测件的像素尺寸，K1′为本次测量中参考件的像素尺寸。本发明的测量方法可以自动消除温度变化的影响，不需要在恒温条件下进行测量就可以得到比较准确的测量结果，特别适用于对成批同材质的待测件进行测量。
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公开(公告)号：CN103115568B
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201310046886.9
申请日：2013-02-06
Applicant: 上海电缆研究所
Abstract: 本发明涉及光纤涂覆领域，特别是涉及一种光纤涂覆层几何参数的检测方法。本发明提供一种光纤涂覆层几何参数的检测方法，包括如下步骤：在光纤涂覆层端面向后合适的长度处剥离涂覆层，再采用光源从剥离处照入；光源通过涂覆层的传导，将光纤涂覆层的端面照亮；将光纤涂覆层的端面的图像投影至成像系统中，通过各涂覆层不同的材料衰减系数以及不同的光入射角，即能将各层次区分开。本发明通过上述的方法实现光纤涂覆层的几何参数端面测试的测试方法，大大提高光纤涂覆层几何参数测试仪的测试速度和测试精度，特别是一次涂覆层的几何参数的测试精度。
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公开(公告)号：CN102297655B
公开(公告)日：2013-04-03
申请号：CN201010209400.5
申请日：2010-06-24
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种能在一个装置上进行双向定位和同步测试的测试方法，将光纤的一端剥离涂覆层、切割裸光纤端面后固定在近端调节架上，另一端切割光纤涂覆层端面后固定在远端调节架上；调节近端调节架和远端调节架的位置，使近端端面和远端端面在CCD中心位置成像清晰；降下近端反射镜，使近端反射镜不阻挡近端光源至近端的光，调节远端反射镜和中间反射镜的位置，使远端成像在CCD上；升起近端反射镜，降下远端反射镜，调节近端反射镜和中间反射镜的位置，使近端成像在CCD上。本发明通过上述步骤能够对裸光纤的端面和涂覆层的端面同步进行测试。本发明还可实现对光线注入端光纤位置的精确定位。本发明还可分别对裸光纤端面和涂覆层端面的成像光路进行标定校准，提高测试精度。
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公开(公告)号：CN102998004A
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN201210594029.8
申请日：2012-12-31
Applicant: 上海电缆研究所
IPC: G01J9/00
Abstract: 本发明提供一种波长可调光源的波长自动校准系统及其方法，其中，所述波长自动校准系统包括：波长可调光源装置、注入聚焦装置、注入聚焦固定架、探测聚焦装置、探测聚焦固定架、光纤、信号采集装置、以及滤光片转换机构；利用滤光片转换机构，将窄带滤光片置于探测聚焦装置与光纤之间的光路上，光信号通过窄带滤光片后仅让滤光片标称波长通过，当扫描到能够探测到为滤光片标称波长的光信号时，光源波长即为窄带滤光片的滤光片标称波长，从而完成可调波长光源的波长自动校准。相对于现有技术，本发明仅需简单结构改进即可实现波长自动校准，且大大提高采用波长可调光源作为注入光源的探测设备自动化程度，提高了工作效率。
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公开(公告)号：CN102297655A
公开(公告)日：2011-12-28
申请号：CN201010209400.5
申请日：2010-06-24
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种能在一个装置上进行双向定位和同步测试的测试方法，将光纤的一端剥离涂覆层、切割裸光纤端面后固定在近端调节架上，另一端切割光纤涂覆层端面后固定在远端调节架上；调节近端调节架和远端调节架的位置，使近端端面和远端端面在CCD中心位置成像清晰；降下近端反射镜，使近端反射镜不阻挡近端光源至近端的光，调节远端反射镜和中间反射镜的位置，使远端成像在CCD上；升起近端反射镜，降下远端反射镜，调节近端反射镜和中间反射镜的位置，使近端成像在CCD上。本发明通过上述步骤能够对裸光纤的端面和涂覆层的端面同步进行测试。本发明还可实现对光线注入端光纤位置的精确定位。本发明还可分别对裸光纤端面和涂覆层端面的成像光路进行标定校准，提高测试精度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101387568A
公开(公告)日：2009-03-18
申请号：CN200710045790.5
申请日：2007-09-11
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
Abstract: 一种六氟化硫泄漏点的定位方法及其定位系统，所述方法包括如下步骤：步骤一：采用六氟化硫吸收谱所对应波长范围的第一光源扫描被测设备的测试区域，获得第一图像；步骤二：采用不同于第一光源对应波长范围的第二光源扫描该测试区域，获得第二图像；步骤三：比较第一图像和第二图像的对应位置是否存在阴影暗区变化，若不存在变化，则判断该测试区域无气体泄漏；若第二图像中对应于第一图像的阴影暗区位置变亮，则判断有气体泄漏。一种六氟化硫泄漏点定位系统，包括：光源发生装置，图像采集装置。本发明可以准确地对六氟化硫气体泄漏点进行定位，避免了对六氟化硫泄漏点的误判。
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公开(公告)号：CN103115568A
公开(公告)日：2013-05-22
申请号：CN201310046886.9
申请日：2013-02-06
Applicant: 上海电缆研究所
Abstract: 本发明涉及光纤涂覆领域，特别是涉及一种光纤涂覆层几何参数的检测方法。本发明提供一种光纤涂覆层几何参数的检测方法，包括如下步骤：在光纤涂覆层端面向后合适的长度处剥离涂覆层，再采用光源从剥离处照入；光源通过涂覆层的传导，将光纤涂覆层的端面照亮；将光纤涂覆层的端面的图像投影至成像系统中，通过各涂覆层不同的材料衰减系数以及不同的光入射角，即能将各层次区分开。本发明通过上述的方法实现光纤涂覆层的几何参数端面测试的测试方法，大大提高光纤涂覆层几何参数测试仪的测试速度和测试精度，特别是一次涂覆层的几何参数的测试精度。
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公开(公告)号：CN102998004B
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：CN201210594029.8
申请日：2012-12-31
Applicant: 上海电缆研究所
IPC: G01J9/00
Abstract: 本发明提供一种波长可调光源的波长自动校准系统及其方法，其中，所述波长自动校准系统包括：波长可调光源装置、注入聚焦装置、注入聚焦固定架、探测聚焦装置、探测聚焦固定架、光纤、信号采集装置、以及滤光片转换机构；利用滤光片转换机构，将窄带滤光片置于探测聚焦装置与光纤之间的光路上，光信号通过窄带滤光片后仅让滤光片标称波长通过，当扫描到能够探测到为滤光片标称波长的光信号时，光源波长即为窄带滤光片的滤光片标称波长，从而完成可调波长光源的波长自动校准。相对于现有技术，本发明仅需简单结构改进即可实现波长自动校准，且大大提高采用波长可调光源作为注入光源的探测设备自动化程度，提高了工作效率。
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公开(公告)号：CN1963379A
公开(公告)日：2007-05-16
申请号：CN200610118983.4
申请日：2006-12-01
Applicant: 上海电缆研究所 , 上海赛克力光电缆有限责任公司
Abstract: 本发明公开了一种利用光学成像测量系统对物体的尺寸进行精密测量的方法，包括以下步骤：将一个物理尺寸已知且与待测件的材质相同的标准件和一个与待测件的材质相同的参考件同时放在光学成像测量系统中，使标准件和参考件同时独立成像，根据公式计算出修正系数f，其中K1是标准件像素尺寸，K0是参考件像素尺寸，x0是标准件物理尺寸；取出标准件换上一个待测件，使待测件和参考件同时独立成像，由公式可以计算出待测件的物理尺寸x，其中Kx为待测件的像素尺寸，K1′为本次测量中参考件的像素尺寸。本发明的测量方法可以自动消除温度变化的影响，不需要在恒温条件下进行测量就可以得到比较准确的测量结果，特别适用于对成批同材质的待测件进行测量。
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公开(公告)号：CN1737594A
公开(公告)日：2006-02-22
申请号：CN200510028092.5
申请日：2005-07-25
Applicant: 上海电缆研究所
Abstract: 一种基于正负极性直流叠加法的交联聚乙烯电缆绝缘诊断电路，包括连接于用户端电网和连接有主变压器的母线之间的一根或多根被测电缆、通用终端(GPT)接地保护电路、远端接地开关、叠加电压电路、护层防护电路、信号处理电路、控制和计算电路，所述GPT接地保护电路与GPT、地及控制和计算电路相连接，所述控制和计算电路发出控制信号控制GPT接地保护电路接地或断开接地，用于防止GPT因过饱和而损坏；所述信号处理电路与护层防护电路和控制和计算电路相连，所述信号处理电路接收来自护层防护电路的信号并对其进行放大、滤波后，进行AD采样计算。本发明诊断电路，有效地降低了接触电势、泄漏电流和噪声的干扰，提高了诊断精度。
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