-
公开(公告)号:CN102840842A
公开(公告)日:2012-12-26
申请号:CN201210326379.6
申请日:2012-09-06
Applicant: 上海电气核电设备有限公司
IPC: G01B11/26
Abstract: 一种深孔垂直度激光测量系统,包含手持垂直支座;激光发射器,其设置在手持垂直支座的内部,且其前端发射头露出在手持垂直支座外;激光发射器的前端发射头插入被测深孔的一端内,使手持垂直支座与被测基准面相接触;过渡套,其设置在被测深孔的另一端内;激光位置检测装置,其设置在过渡套内;该激光位置检测装置包含通过电路连接的激光接收器、显示器和电源,激光接收器接收由激光发射器发射出的准直激光,并将入射激光与该激光接收器物理中心的位置偏差坐标值显示在显示器上。本发明还提供一种深孔垂直度激光测量方法。本发明能便捷高效精准地测量被测深孔相对于基准面的垂直度,且被测深孔的深度将不受测量系统尺寸的限制。
-
公开(公告)号:CN106584211A
公开(公告)日:2017-04-26
申请号:CN201611162284.X
申请日:2016-12-15
Applicant: 上海电气核电设备有限公司
IPC: B23Q17/24
CPC classification number: B23Q17/2471 , B23Q17/2409
Abstract: 本发明的公开了一种在线CCD推扫测量系统,用于测量支撑板上的待测孔的几何量,支撑板设置在数控多轴钻床的平台上,该在线CCD推扫测量系统包含:CCD光电测量仪,通过一连接组件与所述的数控多轴钻床的主轴连接,CCD光电测量仪位于所述的支撑板的上方,用于采集支撑板上的待测孔的图像信息;工控机,与CCD光电测量仪通信连接,用于将CCD光电测量仪采集到的待测孔的图像信息进行图像识别分析处理,获得支撑板上的待测孔的几何量结果,并对该结果进行保存。本发明的还公开了一种在线CCD推扫测量方法。本发明能够快速、准确地测量支撑板上的圆孔及异形孔加工过程中的形状误差和位置误差,确保产品质量。
-
公开(公告)号:CN102840842B
公开(公告)日:2016-03-23
申请号:CN201210326379.6
申请日:2012-09-06
Applicant: 上海电气核电设备有限公司
IPC: G01B11/26
Abstract: 一种深孔垂直度激光测量系统,包含手持垂直支座;激光发射器,其设置在手持垂直支座的内部,且其前端发射头露出在手持垂直支座外;激光发射器的前端发射头插入被测深孔的一端内,使手持垂直支座与被测基准面相接触;过渡套,其设置在被测深孔的另一端内;激光位置检测装置,其设置在过渡套内;该激光位置检测装置包含通过电路连接的激光接收器、显示器和电源,激光接收器接收由激光发射器发射出的准直激光,并将入射激光与该激光接收器物理中心的位置偏差坐标值显示在显示器上。本发明还提供一种深孔垂直度激光测量方法。本发明能便捷高效精准地测量被测深孔相对于基准面的垂直度,且被测深孔的深度将不受测量系统尺寸的限制。
-
公开(公告)号:CN206326446U
公开(公告)日:2017-07-14
申请号:CN201621378187.X
申请日:2016-12-15
Applicant: 上海电气核电设备有限公司
IPC: B23Q17/24
Abstract: 本实用新型的公开了一种在线CCD推扫测量系统,用于测量支撑板上的待测孔的几何量,支撑板设置在数控多轴钻床的平台上,该在线CCD推扫测量系统包含:CCD光电测量仪,通过一连接组件与所述的数控多轴钻床的主轴连接,CCD光电测量仪位于所述的支撑板的上方,用于采集支撑板上的待测孔的图像信息;工控机,与CCD光电测量仪通信连接,用于将CCD光电测量仪采集到的待测孔的图像信息进行图像识别分析处理,获得支撑板上的待测孔的几何量结果,并对该结果进行保存。本实用新型能够快速、准确地测量支撑板上的圆孔及异形孔加工过程中的形状误差和位置误差,确保产品质量。
-
公开(公告)号:CN202814360U
公开(公告)日:2013-03-20
申请号:CN201220450905.5
申请日:2012-09-06
Applicant: 上海电气核电设备有限公司
IPC: G01B11/26
Abstract: 一种深孔垂直度激光测量系统,包含手持垂直支座;激光发射器,其设置在手持垂直支座的内部,且其前端发射头露出在手持垂直支座外;激光发射器的前端发射头插入被测深孔的一端内,使手持垂直支座与被测基准面相接触;过渡套,其设置在被测深孔的另一端内;激光位置检测装置,其设置在过渡套内;该激光位置检测装置包含通过电路连接的激光接收器、显示器和电源,激光接收器接收由激光发射器发射出的准直激光,并将入射激光与该激光接收器物理中心的位置偏差坐标值显示在显示器上。本实用新型能便捷高效精准地测量被测深孔相对于基准面的垂直度,且被测深孔的深度将不受测量系统尺寸的限制。
-
-
-
-