公开(公告)号：CN105303641B

公开(公告)日：2018-08-03

申请号：CN201410251181.5

申请日：2014-06-06

Applicant: 上海机电工程研究所

Inventor： 卢娥 ,  张志文 ,  程越巍 ,  马标 ,  田若思 ,  王道明 ,  刘思思 ,  蒋乐峰

IPC: G07C3/02

Abstract: 本发明的种高精度导弹通电寿命的统计方法,包括如下步骤:首先地面测试设备给弹上智能设备供电,弹上智能装置获取上次通电寿命时间,同时找到当前的存数地址,开始按照固定周期实施计时功能并将数据按顺序存储至后续空间;地面测试设备与弹上智能设备建立起通信,命令弹上智能设备回传当前导弹寿命计时值,获取寿命时间后进行记录显示。该方法充分利用弹上智能装置中的富余存储空间,开辟两片或多片独立的可单独擦写的空间,从而实现了完整准确的记录整个导弹通电寿命时间的功能。

公开(公告)号：CN115604209A

公开(公告)日：2023-01-13

申请号：CN202211070873.0

申请日：2022-09-02

Applicant: 上海机电工程研究所(CN)

Inventor： 孙俊格 ,  卢娥 ,  贾桂芬 ,  田若思 ,  张龙 ,  杜怀超

IPC: H04L49/356 ,  H04L1/00 ,  H04B10/25

Abstract: 本发明提供了一种基于光纤和SRIO交换模块的数据采集装置及方法，处理器A与处理器B通过SRIO交换模块进行数据交互；SRIO交换模块通过外部光纤端口连接光纤连接设备；所述数据接收存储设备，实现采集的数据的转化和持久化存储；所述数据解析显示工具，在数据采集完成后，实现对数据接收存储设备存储的数据进行解析处理，并进行可视化显示。本发明通过SRIO交换模块，实现对处理器之间高速数据的实时采集存储，并可灵活配置采集和记录的数据通道。

公开(公告)号：CN105303641A

公开(公告)日：2016-02-03

申请号：CN201410251181.5

申请日：2014-06-06

Applicant: 上海机电工程研究所

Inventor： 卢娥 ,  张志文 ,  程越巍 ,  马标 ,  田若思 ,  王道明 ,  刘思思 ,  蒋乐峰

IPC: G07C3/02

Abstract: 本发明的一种高精度导弹通电寿命的统计方法，包括如下步骤：首先地面测试设备给弹上智能设备供电，弹上智能装置获取上次通电寿命时间，同时找到当前的存数地址，开始按照固定周期实施计时功能并将数据按顺序存储至后续空间；地面测试设备与弹上智能设备建立起通信，命令弹上智能设备回传当前导弹寿命计时值，获取寿命时间后进行记录显示。该方法充分利用弹上智能装置中的富余存储空间，开辟两片或多片独立的可单独擦写的空间，从而实现了完整准确的记录整个导弹通电寿命时间的功能。

公开(公告)号：CN205725707U

公开(公告)日：2016-11-23

申请号：CN201620287859.X

申请日：2016-04-08

Applicant: 上海机电工程研究所

Inventor： 高志斌 ,  邹波 ,  杨振 ,  田原 ,  闫彬彬 ,  马标 ,  蒋乐峰 ,  刘思思 ,  田若思 ,  张丽 ,  王蓉

IPC: H03M1/10

Abstract: 一种基于嵌入式系统的AD采样自校正装置，其连接一嵌入式系统核心控制器，其包含：电压选择输出模块，其输入端分别连接一待采样信号和多个采样基准电压；所述的嵌入式系统核心控制器连接该电压选择输出模块，以控制该电压选择输出模块对输入信号进行切换；采样电压限压运算电路，其输入端连接所述电压选择输出模块的输出端，其输出端连接所述的嵌入式系统核心控制器。其优点是：通过一电压选择输出模块，按需采样对应的基准电压或采样信号进行通路，以实现对待采样信号的自动校正，具有高AD采样精度，对外围采样电路精度要求低，随着产品寿命增加，采样精度可以进行自动校正的优势。