一种多片DSP芯片的自动化程序烧写方法

    公开(公告)号:CN106528203B

    公开(公告)日:2019-10-18

    申请号:CN201610883342.1

    申请日:2016-10-10

    Abstract: 本发明涉及一种多片DSP芯片的自动化程序烧写方法,通过串行总线实现上位机与具有多片DSP芯片的处理机之间的数据通信;包含:S1、上位机向处理机发送开始烧写DSP芯片程序的指令,并通过串行总线将需要烧写的数据文件传输至处理机;S2、上位机通过处理机内的FPGA单元对主DSP芯片进行自动程序烧写,并对烧写的中间状态进行监控;S3、上位机通过处理机内的FPGA单元和主DSP芯片对次DSP芯片进行自动程序烧写,并对烧写的中间状态进行监控;S4、重复执行S3,直至完成所有次DSP芯片的自动程序烧写。本发明能实现批量DSP芯片的自动化程序烧写,并且对整个烧写过程进行实时监控以确保准确性。

    一种用于无人值守自动测试系统的监控方法

    公开(公告)号:CN115639767A

    公开(公告)日:2023-01-24

    申请号:CN202211188863.7

    申请日:2022-09-27

    Abstract: 本发明公开了一种用于无人值守自动测试系统的监控方法,该方法包括:两级报警机制,分别为机载看门狗报警和独立定时器报警;无人值守自动测试系统与报警装置建立通信连接,实现数据传输;无人值守自动测试系统通过通信线缆发送开始指令,报警装置开始工作;报警装置连续3次接收流水号错误或未接收到流水号,则机载看门狗报警并发出报警信号;报警装置1小时内未接收到复位信号,则独立定时器报警并发出报警信号。本发明能够实现在自动测试系统运行且无人值守时,监控系统运行状态,并在自动测试系统发生故障时报警,自动测试系统接收报警信号,切断对外供电,保障正在测试的产品安全。

    测试适配器对被测电路板的智能识别系统及其识别方法

    公开(公告)号:CN103884955B

    公开(公告)日:2017-01-25

    申请号:CN201410104013.3

    申请日:2014-03-19

    Inventor: 曲海山 龚明 冯云

    Abstract: 本发明公开了一种测试适配器对被测电路板的智能识别系统,包含:主继电器;与主继电器的输入端连接的测量器;主继电器的输入端连接若干输出端中的一个;适配器;适配器包含多个接插件管脚;主继电器的多个输出端分别连接适配器的多个接插件管脚;存储单元;存储单元存储各被测电路板相对应的适配器上连接的接插件的编号;适配器的多个接插件管脚分别连接多个次继电器;与多个次继电器控制端连接的控制器;控制器连接所述存储单元读取其中存储的编号对应关系。本发明还公开了一种测试适配器对被测电路板的智能识别方法。本发明能够有效识别被测电路板,防止人为疏忽造成的误操作,测试效率高。

    一种防差错通用型电路板测试适配器

    公开(公告)号:CN103792398A

    公开(公告)日:2014-05-14

    申请号:CN201310661582.3

    申请日:2013-12-09

    Inventor: 王哲 冯云 龚明

    Abstract: 本发明公开了一种防差错通用型电路板测试适配器,包含机箱、设置在机箱侧面的前面板,前面板集成有测试接口及若干个测试插座,测试接口通过测试电缆与外部的测试器相连;该适配器还包含:若干个设置在机箱内的子适配器,其与若干个测试插座一一对应;若干个适配器识别电阻,其两端分别连接在测试接口与子适配器之间;若干个测试电缆识别电阻,其两端分别连接在测试电缆与测试接口之间。本发明可以大幅减少自动转换开关电器的适配器数目,缩小系统规模,节约研制成本,同时防差错工艺可以从技术上消除产生人为差错的可能性。

    一种雷达测试数据处理装置及其方法

    公开(公告)号:CN110879784B

    公开(公告)日:2023-11-14

    申请号:CN201911156821.3

    申请日:2019-11-22

    Abstract: 本发明公开了一种雷达测试数据处理装置及其方法,该装置包含依次连接的:测试详情数据获取模块,用于根据已知的数据存储路径,读取测试数据文件,获取测试数据;数据设定模块,用于数据处理的设置;数据获取模块,用于根据所述数据设定模块的设置从所述测试数据中提取对应的测试数据;数据处理模块,用于对提取的测试数据进行处理分析;输出显示模块,用于输出所述数据处理模块的分析结果。其优点是:该装置将测试详情数据获取模块、数据设定模块、数据获取模块、数据处理模块和输出显示模块等相结合,解决了现有技术中的测试数据处理效率低、分析不深入、数据有效使用率低的技术问题。

    一种测量温度的电容式传感器

    公开(公告)号:CN111351596B

    公开(公告)日:2021-06-04

    申请号:CN202010317260.7

    申请日:2020-04-21

    Abstract: 本发明公开了一种测量温度的电容式传感器,为圆柱体形状,包含:圆柱状的内电极;套设于内电极外周的外电极;夹设在内电极和外电极之间的电介质薄膜;所述的内电极的热膨胀系数大于外电极的热膨胀系数;所述的电介质薄膜的厚度需小于等于外电极半径的1/100;当外周温度发生变化时,电介质薄膜因受到内电极的膨胀挤压而使其厚度发生改变,使得电容式传感器的电容值发生改变。本发明具有灵敏度高,结构简单,适用场景多等优点;且电容式传感器的感温介质具有多样选择性。

    一种雷达测试数据处理装置及其方法

    公开(公告)号:CN110879784A

    公开(公告)日:2020-03-13

    申请号:CN201911156821.3

    申请日:2019-11-22

    Abstract: 本发明公开了一种雷达测试数据处理装置及其方法,该装置包含依次连接的:测试详情数据获取模块,用于根据已知的数据存储路径,读取测试数据文件,获取测试数据;数据设定模块,用于数据处理的设置;数据获取模块,用于根据所述数据设定模块的设置从所述测试数据中提取对应的测试数据;数据处理模块,用于对提取的测试数据进行处理分析;输出显示模块,用于输出所述数据处理模块的分析结果。其优点是:该装置将测试详情数据获取模块、数据设定模块、数据获取模块、数据处理模块和输出显示模块等相结合,解决了现有技术中的测试数据处理效率低、分析不深入、数据有效使用率低的技术问题。

    一种自动测试系统的原位自检、计量装置及其方法

    公开(公告)号:CN104375024A

    公开(公告)日:2015-02-25

    申请号:CN201410591474.8

    申请日:2014-10-29

    Abstract: 本发明公开了一种自动测试系统的原位自检、计量装置,包含:主控计算机;第一测控组件,与所述主控计算机通过PXI总线连接;第二测控组件,与所述主控计算机通过LXI总线连接;测试接口,分别与所述第一测控组件及第二测控组件连接;电源模块,一端与所述主控计算机连接,其另一端连接所述测试接口;校准仪表,与所述测试接口连接。本发明还公开了一种原位自检方法及原位计量方法。本发明能有效提高自检计量结果的准确性和可靠性,缩短系统自检计量周期,满足自动化和信息化需求。

    一种雷达电路板的电阻智能化调试方法及其调试系统

    公开(公告)号:CN109633407A

    公开(公告)日:2019-04-16

    申请号:CN201811473748.8

    申请日:2018-12-04

    CPC classification number: G01R31/2834

    Abstract: 本发明公开了一种雷达电路板的电阻智能化调试方法及其调试系统,该方法在充分参考雷达电路板电阻自动调试实践经验的基础上,综合运用案例库、数据库等信息技术,利用专家经验知识推理出雷达电路板电阻自动调试结果,为雷达日常维护维修提供了依据;本发明搭建了一种将电阻调试和自动测试智能化结合的测试系统,应用于雷达电路板的电阻调试工作,实际应用结果表明该系统快速可靠,能大幅提高雷达电路板的生产效率。

    基于CompactRIO的雷达信号处理机自动测试方法

    公开(公告)号:CN109613500A

    公开(公告)日:2019-04-12

    申请号:CN201811268273.9

    申请日:2018-10-29

    Abstract: 本发明涉及一种基于CompactRIO的雷达信号处理机自动测试方法,包含:S1、上位机发送测试指令触发测试程序,控制供电模块对CompactRIO模块和雷达信号处理机进行供电;S2、上位机向CompactRIO模块发送测试程序的运行指令,CompactRIO模块接收运行指令后输出状态预定信号,经由适配器传输至雷达信号处理机进行自动测试;S3、雷达信号处理机将测试结果反馈至CompactRIO模块,并经由通信总线传输至上位机。本发明通过CompactRIO模块产生各种状态预定信号和串行通信信号,对雷达信号处理机进行状态预定,并完成自动测试,大幅提高雷达信号处理机的测试可靠性和实时性。

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