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发明公开
测量非贵金属催化剂膜电极中传质阻力的方法无效

公开(公告)号：CN114914502A

公开(公告)日：2022-08-16

申请号：CN202210601299.0

申请日：2022-05-30

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 沈水云 , 陈士渠 , 章俊良 , 闫晓晖 , 程晓静 , 王超

IPC: H01M8/1004 , H01M4/88 , H01M8/0258 , H01M8/04313 , H01M8/04537 , H01M8/04992

Abstract: 本发明提供了一种测量非贵金属催化剂膜电极中传质阻力的方法，包括：单催化层膜电极或双催化层膜电极；所述单催化层膜电极包括质子交换膜、阴极催化层、气体扩散层以及流道；所述质子交换膜、阴极催化层、气体扩散层以及流道依次叠加；所述双催化层膜电极包括质子交换膜、阴极催化层A、阴极催化层B、气体扩散层以及流道；所述质子交换膜、阴极催化层A、阴极催化层B、气体扩散层以及流道依次叠加。

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