一种可寻址外围测试电路
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117630420A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202311607618.X

    申请日:2023-11-29

    Abstract: 本发明公开了一种可寻址外围测试电路,该电路包括地址转换电路,以及与所述地址转换电路连接的开关电路。地址转换电路用以将外部输入的地址转换为漏极地址和栅极地址,开关电路的行输出电控制DUT阵列的漏极,开关电路的列输出电控制DUT阵列的源极。开关电路的行、列输出通过地址缓冲器接入所述DUT阵列。地址转换电路包括多个并行译码器接入所述开关电路。

    一种DUT可寻址外围测试电路
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117741187A

    公开(公告)日:2024-03-22

    申请号:CN202311616439.2

    申请日:2023-11-29

    Abstract: 本发明公开了一种DUT阵列可寻址外围测试电路,该测试电路包括地址转换电路,以及与所述地址转换电路连接的开关电路。地址转换电路用以将外部输入的地址转换为漏极地址和栅极地址,开关电路的行输出电控制DUT阵列的漏极,开关电路的列输出电控制DUT阵列的栅极,开关电路与所述DUT阵列的漏极采用开尔文连接。电流测量点SO与源极测量点共用同一个PAD,且单独接地。开关电路的行、列输出通过地址缓冲器接入所述DUT阵列。地址转换电路电控制地址寄存电路。

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