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公开(公告)号：CN104136078A
公开(公告)日：2014-11-05
申请号：CN201280070714.9
申请日：2012-12-25
Applicant: 三菱重工业株式会社 , 国立大学法人北海道大学
CPC classification number: A61N5/1081 , A61B6/032 , A61B6/037 , A61B6/4417 , A61N5/1039 , A61N5/1049 , A61N2005/1052 , A61N2005/1091
Abstract: 该X射线治疗系统包括机架(11)、设于机架(11)的PET用检测装置(12)、以及设于机架(11)且对患者照射X射线的照射部(15)。PET用检测装置(12)具有一对光子检测部(13)、以及使一对光子检测部(13)相对于机架(11)进行移动的光子检测部移动装置(14)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102065953B
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN200980122626.7
申请日：2009-03-10
Applicant: 三菱重工业株式会社
IPC: A61B6/00
CPC classification number: A61N5/1049 , A61N2005/1061 , A61N2005/1062
Abstract: 本发明的特定部位位置计测方法包括：基于使用透过被拍摄体的放射线拍摄的多个透过图像和模板集合算出多个匹配度的步骤；基于该匹配度从所述多个透过图像选择模板用透过图像的步骤；将基于所述模板用透过图像生成的新模板追加到所述模板集合的步骤；利用透过被拍摄体的放射线拍摄位置测定用透过图像的步骤；通过使所述模板集合的每一个与所述位置测定用透过图像进行图案匹配而从所述模板集合选择与所述位置测定用透过图像的部分最类似的最优模板的步骤；基于所述位置测定用透过图像和所述最优模板计算出特定部位位置的步骤。此时，被拍摄体的透过图像与这样生成的模板中的任一模板类似的概率较高。因此，特定部位位置计测方法可更高精度地测定所述特定部位。
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公开(公告)号：CN104507391A
公开(公告)日：2015-04-08
申请号：CN201380039999.4
申请日：2013-09-12
Applicant: 三菱重工业株式会社
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61B6/032 , A61B6/4014 , A61B6/4085 , A61B6/486 , A61B6/547 , A61B6/582 , A61N5/1049 , A61N5/1081 , A61N2005/1061
Abstract: 本发明提供一种摄影控制装置、摄影系统、摄影控制方法以及程序。该摄影控制装置具备：成像仪位置判定部，在旋转机构使第1成像仪和第2成像仪旋转大于规定角度的情况下，判定第1成像仪是否位于第1成像仪的旋转范围与第2成像仪的旋转范围重叠的重复区域；及摄影时刻控制部，当检测出摄影时刻的到来时，使第1成像仪和第2成像仪中的任一个或两者进行拍摄，在成像仪位置判定部判定第1成像仪位于重复区域的状态下检测出到来的摄影时刻的至少一个时刻，仅使第2成像仪进行拍摄。
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公开(公告)号：CN101835426A
公开(公告)日：2010-09-15
申请号：CN200880104361.3
申请日：2008-12-22
Applicant: 三菱重工业株式会社
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61N5/1049 , A61B6/022 , A61B6/032 , A61B6/4014 , A61B6/4266 , A61B6/488 , A61B6/583 , A61N5/103 , A61N2005/1061
Abstract: 本发明的射线断层拍摄方法包括：根据通过从第一射线源射出的射线拍摄的透过图像和通过从第二射线源射出的射线拍摄的透过图像计算变换函数的步骤；这里，在射出该第二校正用射线时第二射线源的位置与在射出该第一校正用射线时第一射线源的位置一致，该第一射线源和该第二射线源在一个射出射线时，另一个也射出射线，分别使用从该第一射线源和该第二射线源分别同时射出的多个第一再构成用射线和第二再构成用射线拍摄多个第一再构成用透过图像和多个第二再构成用透过图像的步骤；根据该变换函数将多个第一再构成用透过图像和多个第二再构成用透过图像分别校正为多个修正后透过图像的步骤；以及将该多个修正后透过图像再构成为三维数据的步骤。
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公开(公告)号：CN101835426B
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN200880104361.3
申请日：2008-12-22
Applicant: 三菱重工业株式会社
IPC: A61B6/03
CPC classification number: A61N5/1049 , A61B6/022 , A61B6/032 , A61B6/4014 , A61B6/4266 , A61B6/488 , A61B6/583 , A61N5/103 , A61N2005/1061
Abstract: 本发明的射线断层拍摄方法包括：根据通过从第一射线源射出的射线拍摄的透过图像和通过从第二射线源射出的射线拍摄的透过图像计算变换函数的步骤；这里，在射出该第二校正用射线时第二射线源的位置与在射出该第一校正用射线时第一射线源的位置一致，该第一射线源和该第二射线源在一个射出射线时，另一个也射出射线，分别使用从该第一射线源和该第二射线源分别同时射出的多个第一再构成用射线和第二再构成用射线拍摄多个第一再构成用透过图像和多个第二再构成用透过图像的步骤；根据该变换函数将多个第一再构成用透过图像和多个第二再构成用透过图像分别校正为多个修正后透过图像的步骤；以及将该多个修正后透过图像再构成为三维数据的步骤。
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公开(公告)号：CN102065953A
公开(公告)日：2011-05-18
申请号：CN200980122626.7
申请日：2009-03-10
Applicant: 三菱重工业株式会社
IPC: A61N5/10
CPC classification number: A61N5/1049 , A61N2005/1061 , A61N2005/1062
Abstract: 本发明的特定部位位置计测方法包括：基于使用透过被拍摄体的放射线拍摄的多个透过图像和模板集合算出多个匹配度的步骤；基于该匹配度从所述多个透过图像选择模板用透过图像的步骤；将基于所述模板用透过图像生成的新模板追加到所述模板集合的步骤；利用透过被拍摄体的放射线拍摄位置测定用透过图像的步骤；通过使所述模板集合的每一个与所述位置测定用透过图像进行图案匹配而从所述模板集合选择与所述位置测定用透过图像的部分最类似的最优模板的步骤；基于所述位置测定用透过图像和所述最优模板计算出特定部位位置的步骤。此时，被拍摄体的透过图像与这样生成的模板中的任一模板类似的概率较高。因此，特定部位位置计测方法可更高精度地测定所述特定部位。
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