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公开(公告)号:CN1205556A
公开(公告)日:1999-01-20
申请号:CN98108246.7
申请日:1998-03-25
Applicant: 三菱电线工业株式会社
IPC: H01L33/00 , H01L21/20 , H01L21/322 , H01S3/18
CPC classification number: H01L33/32 , H01L21/02389 , H01L21/0242 , H01L21/02458 , H01L21/02483 , H01L21/0254 , H01L21/0262 , H01L21/02647 , H01L33/007 , H01L33/025 , H01S5/0213 , H01S5/22 , H01S5/32341 , H01S2301/173 , H01S2304/12
Abstract: 一种GaN族晶体基底部件,它包括基底衬底,部分覆盖所述基底衬底的表面的以得到掩模区的掩模层,在其上生长覆盖掩模层的GaN族晶体层,GaN族晶体层的一部分与基底衬底的无掩模区直接接触,它在半导体元件的用途,它的制造和控制位错线的方法。本发明的制造方法能够在GaN族晶体层中制造位于掩模区或无掩模区上面的具有低位错密度的部分。
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公开(公告)号:CN1162919C
公开(公告)日:2004-08-18
申请号:CN98108246.7
申请日:1998-03-25
Applicant: 三菱电线工业株式会社
IPC: H01L33/00 , H01L21/20 , H01L21/322 , H01S3/18
CPC classification number: H01L33/32 , H01L21/02389 , H01L21/0242 , H01L21/02458 , H01L21/02483 , H01L21/0254 , H01L21/0262 , H01L21/02647 , H01L33/007 , H01L33/025 , H01S5/0213 , H01S5/22 , H01S5/32341 , H01S2301/173 , H01S2304/12
Abstract: 一种GaN族晶体基底部件,它包括基底衬底,部分覆盖所述基底衬底的表面的以得到掩模区的掩模层,在其上生长覆盖掩模层的GaN族晶体层,GaN族晶体层的一部分与基底衬底的无掩模区直接接触,它在半导体元件的用途,它的制造和控制位错线的方法。本发明的制造方法能够在GaN族晶体层中制造位于掩模区或无掩模区上面的具有低位错密度的部分。
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