半导体装置及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN112713122A

    公开(公告)日:2021-04-27

    申请号:CN202011117533.X

    申请日:2020-10-19

    Inventor: 高尾腾真

    Abstract: 本发明的目的在于,提供确保填充材料的注入性且改善散热性的半导体装置。半导体装置包含半导体模块、基板以及填充材料。半导体模块包含:半导体芯片;控制IC(Integrated Circuit),其对半导体芯片的驱动进行控制;以及封装件,其通过绝缘材料而将半导体芯片以及控制IC封装。在基板安装半导体模块。填充材料设置于半导体模块的封装件的下表面与基板之间。基板包含贯通孔,该贯通孔设置于封装件的下方、且与封装件内的半导体芯片相比设置于控制IC的附近。

    半导体装置及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN112713122B

    公开(公告)日:2024-10-25

    申请号:CN202011117533.X

    申请日:2020-10-19

    Inventor: 高尾腾真

    Abstract: 本发明的目的在于,提供确保填充材料的注入性且改善散热性的半导体装置。半导体装置包含半导体模块、基板以及填充材料。半导体模块包含:半导体芯片;控制IC(Integrated Circuit),其对半导体芯片的驱动进行控制;以及封装件,其通过绝缘材料而将半导体芯片以及控制IC封装。在基板安装半导体模块。填充材料设置于半导体模块的封装件的下表面与基板之间。基板包含贯通孔,该贯通孔设置于封装件的下方、且与封装件内的半导体芯片相比设置于控制IC的附近。

    半导体装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106981477B

    公开(公告)日:2020-03-10

    申请号:CN201710038455.6

    申请日:2017-01-19

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种对辐射噪声、噪声端子电压等噪声的释放进行了抑制的半导体装置。半导体装置(100)具有:包含电力用半导体元件(7)在内的多个半导体元件;引线框(2),其在一个主面搭载有多个半导体元件;树脂(1),其对多个半导体元件和引线框(2)的搭载有多个半导体元件的部分进行封装;以及至少1个屏蔽部件(9),其在引线框(2)的一个主面侧配置于多个半导体元件的上方,屏蔽部件(9)由树脂(1)进行保持,屏蔽部件(9)与树脂(1)相比磁导率或导电率高。

    半导体装置以及半导体装置的制造方法

    公开(公告)号:CN118738039A

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202410334367.0

    申请日:2024-03-22

    Abstract: 本发明的目的在于提供能够充分地运用MOSFET的特性的半导体装置及其制造方法。本发明涉及的半导体装置具有:下桥臂侧MOSFET(19);下桥臂侧IGBT(18);上桥臂侧MOSFET(6);上桥臂侧IGBT(8);上桥臂侧控制IC(3),其对上桥臂侧MOSFET(6)以及上桥臂侧IGBT(8)的驱动进行控制;MOSFET栅极导线(4),其将上桥臂侧MOSFET(6)的栅极电极与上桥臂侧控制IC(3)连接;IGBT栅极导线(5),其将上桥臂侧IGBT(8)的栅极电极与上桥臂侧控制IC(3)连接;以及IGBT发射极感测导线(7),其将上桥臂侧IGBT(8)的发射极电极与上桥臂侧控制IC(3)直接连接,上桥臂侧MOSFET(6)的源极电极经由上桥臂侧IGBT(8)的发射极电极而与上桥臂侧控制IC(3)电连接。

    半导体装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106981477A

    公开(公告)日:2017-07-25

    申请号:CN201710038455.6

    申请日:2017-01-19

    Abstract: 本发明的目的在于提供一种对辐射噪声、噪声端子电压等噪声的释放进行了抑制的半导体装置。半导体装置(100)具有:包含电力用半导体元件(7)在内的多个半导体元件;引线框(2),其在一个主面搭载有多个半导体元件;树脂(1),其对多个半导体元件和引线框(2)的搭载有多个半导体元件的部分进行封装;以及至少1个屏蔽部件(9),其在引线框(2)的一个主面侧配置于多个半导体元件的上方,屏蔽部件(9)由树脂(1)进行保持,屏蔽部件(9)与树脂(1)相比磁导率或导电率高。

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