Patent search ap:("三菱电机株式会社") AND inv:"富嶋茂树" Page 1

1.

发明授权
半导体集成电路和同步动态随机存储器核心的测试方法失效

公开(公告)号：CN1110856C

公开(公告)日：2003-06-04

申请号：CN97125547.4

申请日：1997-12-12

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 畠中真 , 山崎彰 , 富嶋茂树 , 山形整人

IPC: H01L27/108 , G01R31/3183

CPC classification number: G11C29/16 , G11C29/48

Abstract: 目的是得到一种在单一芯片上混合装载了SDRAM和逻辑电路的半导体集成电路装置。具备具有在普通的SDRAM核心中将从外部被输入的外部控制信号译码为内部控制信号的功能的SDRAM控制器。

Patent Agency Ranking