光记录介质
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102804269A

    公开(公告)日:2012-11-28

    申请号:CN201080027000.0

    申请日:2010-06-21

    Abstract: 本发明提供一种在多层型的光记录介质中,离激光入射侧最远的记录再现功能层以外的记录再现功能层中的反射率均匀性、耐久性、信号强度等优良的光记录介质。该光记录介质具有半透明的记录再现功能层,该记录再现功能层从激光入射侧起依次至少具有第1保护层、第2保护层、记录层、第3保护层、反射层以及第4保护层,所述第2保护层和所述第4保护层由具有相同构成元素的材料构成,所述第2保护层的折射率比第1保护层的折射率大0.3以上,当设所述第2保护层的膜厚为D2、设所述第4保护层的膜厚为D4、设在使该激光对焦于所述记录层的情况下的记录前反射率为R时,使R相对于膜厚的增加率d(R)/d(D2)和d(R)/d(D4)的正负相反。

    光记录介质
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN102804269B

    公开(公告)日:2016-03-02

    申请号:CN201080027000.0

    申请日:2010-06-21

    Abstract: 本发明提供一种在多层型的光记录介质中,离激光入射侧最远的记录再现功能层以外的记录再现功能层中的反射率均匀性、耐久性、信号强度等优良的光记录介质。该光记录介质具有半透明的记录再现功能层,该记录再现功能层从激光入射侧起依次至少具有第1保护层、第2保护层、记录层、第3保护层、反射层以及第4保护层,所述第2保护层和所述第4保护层由具有相同构成元素的材料构成,所述第2保护层的折射率比第1保护层的折射率大0.3以上,当设所述第2保护层的膜厚为D2、设所述第4保护层的膜厚为D4、设在使该激光对焦于所述记录层的情况下的记录前反射率为R时,使R相对于膜厚的增加率d(R)/d(D2)和d(R)/d(D4)的正负相反。

    光记录介质及其记录/读取方法

    公开(公告)号:CN100541627C

    公开(公告)日:2009-09-16

    申请号:CN200480005597.3

    申请日:2004-04-12

    Abstract: 在具有多个含染料记录层的单面入射型光记录介质中,可以得到在位于远离光束入射侧的位置的含染料记录层中记录信息或从中读取信息所必需的充分的反射率和优异的记录特性。该光记录介质包括具有导向槽的第一基材21、第一含染料记录层22、半透明反射层23、中间层24、第二含染料记录层25、反射层26和具有导向槽的第二基材27。通过从第一基材侧照射光束而在第一含染料记录层22和第二含染料记录层25中记录信息或从中读取信息。第二基材上的导向槽的深度为1/100×λ~1/6×λ,其中λ代表记录/读取波长。

    光学记录介质以及光学记录介质的记录/读取方法和装置

    公开(公告)号:CN1327416C

    公开(公告)日:2007-07-18

    申请号:CN200380106482.9

    申请日:2003-12-12

    Abstract: 在具有多个记录层的单面入射型光学记录介质中,可以根据各个记录层即时地切换记录/读取条件,例如循轨极性、记录脉冲策略、记录推荐功率等,并且可以在适合于各个记录层的记录/读取条件下准确可靠地进行对信息的记录或读取。控制单元从光学记录介质的一个记录层读出层信息,在所述光学记录介质中在多个记录层的每一个中记录有层信息,在所述多个记录层上可以通过从其一侧照射激光束来进行对信息的记录或读取(层信息读取步骤),并进行控制以使得在适合于根据层信息指定的记录层的记录/读取条件下进行记录或读取(记录控制步骤)。

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